具有减少的背侧等离子体点火的喷淋头

    公开(公告)号:CN108140550B

    公开(公告)日:2022-10-14

    申请号:CN201680058493.1

    申请日:2016-07-26

    Abstract: 本公开的实施例关于在处理腔室中使用的喷淋头组件。喷淋头组件包括多孔插入件,该多孔插入件布置于气体分配板与底板之间的空间中,以缓和由等离子体点火导致的侵蚀性基团,从而减少腔室中的颗粒问题及金属污染。多孔插入件是诸如金属之类的导电材料,用以减少间隙电场强度,或可以是诸如陶瓷、聚四氟乙烯、聚酰胺酰亚胺或其他在高频及强电场的条件下具有低介电损失及高电场强度的材料之类的介电材料。如此,电击穿阈值被增强。多孔插入件可减少和/或消除喷淋头背侧等离子体点火,且可包括覆盖气体分配板的气孔的多个同心窄环。

    蚀刻半导体结构的方法和设备

    公开(公告)号:CN113366603A

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN202080012369.8

    申请日:2020-01-27

    Abstract: 使用反应离子蚀刻(RIE)在基板中产生高深宽比特征的方法和设备。在一些实施例中,一种方法包含:将C3H2F4与伴随气体的气体混合物流入处理腔室;使用连接到基板上方的上电极的RF电源和连接到基板下方的下电极的至少一个RF偏压电源来从气体混合物形成等离子体;经由等离子体使用图案掩模对基板上的至少一个氧化物层或氮化物层进行各向异性蚀刻;降低至少一个RF偏压电源的功率以在基板上的至少一个氧化物层或氮化物层上产生钝化层的沉积;以及将处理腔室排空,同时中断RF电源以停止等离子体形成。

    方位可调整的多区域静电夹具

    公开(公告)号:CN107636817B

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN201680023970.0

    申请日:2016-01-13

    Abstract: 本文所述的实施方式提供一种用于处理基板支撑组件上的基板的方法,该方法实现静电夹具与基板之间的热传递的横向与方位角两者上的调整。该方法包括下述步骤:使用ESC上的第一温度分布来处理第一基板,ESC具有主加热器与空间上可调整的加热器。从处理第一基板的结果来确定偏离目标结果分布的偏移分布。基于偏移分布,将第一温度分布调整为ESC上的第二温度分布。调整为第二温度分布包括:递增提供给对应于偏移分布的一个或更多个离散位置中的一个或更多个空间上可调整的加热器的功率。然后使用第二温度分布来处理ESC上的第二基板。

    方位可调整的多区域静电夹具
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113675115A

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN202110960034.5

    申请日:2016-01-13

    Abstract: 本文所述的实施方式提供一种用于处理基板支撑组件上的基板的方法,该方法实现静电夹具与基板之间的热传递的横向与方位角两者上的调整。该方法包括下述步骤:使用ESC上的第一温度分布来处理第一基板,ESC具有主加热器与空间上可调整的加热器。从处理第一基板的结果来确定偏离目标结果分布的偏移分布。基于偏移分布,将第一温度分布调整为ESC上的第二温度分布。调整为第二温度分布包括:递增提供给对应于偏移分布的一个或更多个离散位置中的一个或更多个空间上可调整的加热器的功率。然后使用第二温度分布来处理ESC上的第二基板。

    具有共享真空系统的多腔室处理系统

    公开(公告)号:CN109643678A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201780052125.0

    申请日:2017-08-24

    Abstract: 本文公开了用于具有共享真空系统的多腔室处理系统的方法和装置。在一些实施例中,一种用于处理基板的多腔室处理系统包括:第一处理腔室、第二处理腔室、第一真空系统、及第二真空系统,第一真空系统通过第一阀和第二阀耦接到第一处理腔室和第二处理腔室,且第一真空系统耦接到第一共享真空泵,第二真空系统通过第三阀和第四阀耦接到第一处理腔室和第二处理腔室,且第二真空系统耦接到第二共享真空泵,其中第二真空系统流体独立于第一真空系统。

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