一种纵向导通常关型金刚石功率晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN119300433A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202411775153.3

    申请日:2024-12-05

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明公开了一种纵向导通常关型金刚石功率晶体管及其制备方法,涉及半导体功率器件技术领域。其包括以下结构:p型低阻金刚石单晶衬底;p型高阻金刚石漂移层一,位于p型低阻金刚石单晶衬底的上表面;p型低阻金刚石插入层,位于p型高阻金刚石漂移层一的上表面;p型高阻金刚石漂移层二,位于p型低阻金刚石插入层的上表面;p型低阻金刚石帽层,位于p型高阻金刚石漂移层二的上表面,以及欧姆接触电极、栅介质层和肖特基栅电极。本发明提供的晶体管带有多层结构的复合外延层,其中低阻插入层可以实现降低导通电阻并提高阈值电压;高阻漂移层可以承受较高的电压。

    一种在空气环境中的铜-铜低温直接键合方法

    公开(公告)号:CN117690869A

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202410123350.0

    申请日:2024-01-30

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明属于三维封装技术领域,公开了一种在空气环境中的铜‑铜低温直接键合方法,包括以下步骤:首先,在空气环境中,利用丙三醇对清洁的镀铜键合体的镀铜面进行预处理,得到待键合的镀铜键合体;然后,在空气环境中,对待键合的镀铜键合体进行加压键合。本发明所提供的键合方法的气体氛围是正常的大气环境,无需保护气体,工艺简单、工艺成本低,有利于工业化生产,且所得到的铜‑铜键合面的剪切强度高。

    一种在空气环境中的铜-铜低温直接键合方法

    公开(公告)号:CN117690869B

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202410123350.0

    申请日:2024-01-30

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明属于三维封装技术领域,公开了一种在空气环境中的铜‑铜低温直接键合方法,包括以下步骤:首先,在空气环境中,利用丙三醇对清洁的镀铜键合体的镀铜面进行预处理,得到待键合的镀铜键合体;然后,在空气环境中,对待键合的镀铜键合体进行加压键合。本发明所提供的键合方法的气体氛围是正常的大气环境,无需保护气体,工艺简单、工艺成本低,有利于工业化生产,且所得到的铜‑铜键合面的剪切强度高。

    一种基于MXene中间层的铜-铜低温键合方法

    公开(公告)号:CN117038615A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202311104222.3

    申请日:2023-08-30

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于MXene中间层的铜‑铜低温键合方法,该方法以MXene层作为无铅焊料与两铜衬底间的中间层,在保护气体和低温下实现两铜衬底的键合。本发明在采用无铅焊料进行Cu‑Cu键合时,以MXene作为焊料与Cu层之间的中间层,可以阻碍键合界面之间铜原子的快速扩散,从而抑制铜锡金属间化合物的过度生长,改善键合界面的力学、热学等性能,提高键合的质量,尤其是提高焊点在高温下长时间工作的可靠性。

    一种铜-铜金属键合方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116153796A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211721856.9

    申请日:2022-12-30

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明属于三维封装技术领域,具体涉及一种铜‑铜金属键合方法。本发明提供的键合方法,包括以下步骤:在保护气氛下,利用水合肼对清洁的镀铜键合体的镀铜面进行预处理,得到待键合的镀铜键合体;所述预处理的温度为50~90℃;在保护气氛下,将待键合的镀铜键合体进行加压键合;所述加压键合的温度为200~300℃。实施例的数据表明:本发明提供的键合方法得到的铜‑铜键合面的剪切强度可达22MPa。

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