记忆体装置、半导体装置和制造半导体装置的方法

    公开(公告)号:CN115050774A

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202110844730.X

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 提供了一种记忆体装置、半导体装置和制造半导体装置的方法,半导体装置其包括半导体基板和互连件结构。半导体基板包括晶体管,其中晶体管具有源极区域和漏极区域。互连件结构设置在半导体基板上方,其中互连件结构包括多个层间介电质层、第一导孔、和记忆体单元。多个层间介电质层在半导体基板上方。第一导孔嵌入在多个层间介电质层中的至少两个层间介电质层内,并且与晶体管的漏极区域电性连接。记忆体单元设置在多个层间介电质层中的至少两个层间介电质层上方,并且与第一导孔电性连接。

    存储器装置、磁阻式随机存取存储器装置及其形成方法

    公开(公告)号:CN112310275A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202010696355.4

    申请日:2020-07-20

    Abstract: 本公开的各种实施例涉及一种存储器装置,所述存储器装置包括上覆在自旋轨道扭矩(SOT)层之上的分流层。磁隧道结(MTJ)结构上覆在半导体衬底之上。磁隧道结结构包括自由层、参考层及设置在自由层与参考层之间的隧道障壁层。底部电极通孔(BEVA)位于磁隧道结结构之下,其中底部电极通孔从磁隧道结结构横向偏移一横向距离。自旋轨道扭矩层垂直设置在底部电极通孔与磁隧道结结构之间,其中自旋轨道扭矩层沿所述横向距离连续延伸。分流层延伸跨过自旋轨道扭矩层的上表面,且延伸跨过所述横向距离的至少一部分。

    半导体器件及其形成方法

    公开(公告)号:CN112750856B

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202011175899.2

    申请日:2020-10-29

    Abstract: 一种形成半导体器件的方法,包括:在半导体衬底上方沉积第一介电层;在第一介电层上方沉积第一电极层;蚀刻第一电极层,以形成第一电极,和与第一电极横向地分隔开的第二电极;在第一电极和第二电极上沉积自旋轨道转矩(SOT)材料;在SOT材料上沉积磁隧道结(MTJ)层;在MTJ层上沉积第二电极层;蚀刻SOT材料,以形成从第一电极至第二电极延伸的SOT层;蚀刻MTJ层,以在SOT层上形成MTJ堆叠件;以及蚀刻第二电极层,以在MTJ堆叠件上形成顶部电极。本申请的实施例另一方面提供一种半导体器件。

    磁存储器件
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113299821B

    公开(公告)日:2025-01-17

    申请号:CN202110476411.8

    申请日:2021-04-29

    Abstract: 磁存储器件包括自旋轨道扭矩(SOT)感应结构,该结构可以被应变和无种子并形成有垂直磁各向异性。磁隧道结(MTJ)堆叠件设置在SOT感应结构上。间隔层可以使SOT感应结构与MTJ堆叠件之间的层解耦或使MTJ堆叠件内的层解耦。SOT感应结构的一端可以耦合至第一晶体管,而SOT感应结构的另一端耦合至第二晶体管。

    半导体器件及其形成方法

    公开(公告)号:CN111952444B

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202010412546.3

    申请日:2020-05-15

    Abstract: 一种方法包括沉积多个层,沉积多个层包括沉积自旋轨道耦合层;在自旋轨道耦合层上方沉积介电层;在介电层上方沉积自由层;在自由层上方沉积隧道阻挡层;以及在隧道阻挡层上方沉积参考层。该方法还包括执行第一图案化工艺以图案化多个层;以及执行第二图案化工艺以图案化参考层、隧道阻挡层、自由层和介电层。第二图案化工艺停止在自旋轨道耦合层的顶面上。本发明的实施例还涉及半导体器件及其形成方法。

    半导体器件及其形成方法

    公开(公告)号:CN112750856A

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN202011175899.2

    申请日:2020-10-29

    Abstract: 一种形成半导体器件的方法,包括:在半导体衬底上方沉积第一介电层;在第一介电层上方沉积第一电极层;蚀刻第一电极层,以形成第一电极,和与第一电极横向地分隔开的第二电极;在第一电极和第二电极上沉积自旋轨道转矩(SOT)材料;在SOT材料上沉积磁隧道结(MTJ)层;在MTJ层上沉积第二电极层;蚀刻SOT材料,以形成从第一电极至第二电极延伸的SOT层;蚀刻MTJ层,以在SOT层上形成MTJ堆叠件;以及蚀刻第二电极层,以在MTJ堆叠件上形成顶部电极。本申请的实施例另一方面提供一种半导体器件。

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