存储器装置、磁阻式随机存取存储器装置及其形成方法

    公开(公告)号:CN112310275A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202010696355.4

    申请日:2020-07-20

    Abstract: 本公开的各种实施例涉及一种存储器装置,所述存储器装置包括上覆在自旋轨道扭矩(SOT)层之上的分流层。磁隧道结(MTJ)结构上覆在半导体衬底之上。磁隧道结结构包括自由层、参考层及设置在自由层与参考层之间的隧道障壁层。底部电极通孔(BEVA)位于磁隧道结结构之下,其中底部电极通孔从磁隧道结结构横向偏移一横向距离。自旋轨道扭矩层垂直设置在底部电极通孔与磁隧道结结构之间,其中自旋轨道扭矩层沿所述横向距离连续延伸。分流层延伸跨过自旋轨道扭矩层的上表面,且延伸跨过所述横向距离的至少一部分。

    半导体器件及其形成方法

    公开(公告)号:CN113540148A

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:CN202110726349.3

    申请日:2021-06-29

    Abstract: 本申请的实施例提供了一种半导体器件,包括:衬底,具有第一侧和第二侧;第一晶体管,包括位于第一突起上方的第一栅极以及插入第一突起的第一源极区域和第一漏极区域;第一掩埋接触件,设置为与第一突起相邻并具有延伸到衬底中的至少一部分;第一接触塞,设置在第一漏极区域上方;第一导线,设置在第一接触塞上方并通过第一接触塞电连接至第一漏极区域;第一通孔,穿过衬底并连接第一掩埋接触件;以及第二导线,设置在衬底的第二侧上方并电连接至第一通孔。第一掩埋接触件电连接到第一源极区域或第一栅极。根据本申请的其他实施例,还提供了形成半导体器件的方法。

    半导体器件及其形成方法

    公开(公告)号:CN113540148B

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN202110726349.3

    申请日:2021-06-29

    Abstract: 本申请的实施例提供了一种半导体器件,包括:衬底,具有第一侧和第二侧;第一晶体管,包括位于第一突起上方的第一栅极以及插入第一突起的第一源极区域和第一漏极区域;第一掩埋接触件,设置为与第一突起相邻并具有延伸到衬底中的至少一部分;第一接触塞,设置在第一漏极区域上方;第一导线,设置在第一接触塞上方并通过第一接触塞电连接至第一漏极区域;第一通孔,穿过衬底并连接第一掩埋接触件;以及第二导线,设置在衬底的第二侧上方并电连接至第一通孔。第一掩埋接触件电连接到第一源极区域或第一栅极。根据本申请的其他实施例,还提供了形成半导体器件的方法。

    半导体装置的形成方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112750947A

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN202011176938.0

    申请日:2020-10-29

    Inventor: 葛卫伦

    Abstract: 一些实例涉及一种用于形成半导体装置的方法。所述方法包括在衬底上方形成图案界定堆叠,图案界定堆叠包括转移层、布置在转移层上方的中间层以及布置在中间层上方的图案化层。所述方法更包括在图案化层中形成第一开口以暴露出中间层的上部表面,以及穿过第一开口用至少部分各向同性刻蚀剂来刻蚀中间层以形成凹进空腔。所述方法更包括在中间层和图案化层上方形成保形层以填充第一开口,以及利用各向异性刻蚀来刻蚀保形层和转移层以在转移层中形成第二开口。所述方法还包括在第二开口中沉积硬掩模材料。

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