制造系统、半导体工艺机台以及电弧放电保护方法

    公开(公告)号:CN109755090A

    公开(公告)日:2019-05-14

    申请号:CN201810851276.9

    申请日:2018-07-30

    Abstract: 一种制造系统,包括半导体工艺机台、计算装置以及故障检测与分类系统。半导体工艺机台包括电极以及射频感测器以执行半导体制造程序来制造集成电路。射频感测器无线地感测射频信号的强度。计算装置基于所感测到的射频信号的强度提取统计特征值。故障检测与分类系统根据所提取的统计特征值确定射频信号的强度是否符合阈值或阈值范围。当所感测的射频信号的强度超过阈值或阈值范围时,故障检测与分类系统通知半导体工艺机台调整射频信号,或停止半导体工艺机台以检查部件损坏。

    定位方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112530849A

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN202010977947.3

    申请日:2020-09-17

    Abstract: 本公开的一些实施例公开一种方法,用于在一半导体制造环境中相对于一固定装置来定位一活动装置。方法包括检测在一目标定点处固定至固定装置的一目标,其中目标定点对应于目标相对于固定装置上的一参考点的一定点,基于检测目标来决定一第一位置坐标偏移值,利用第一位置坐标偏移值,相对于固定装置来移动活动装置,以训练活动装置相对于固定装置移动,以便于执行一半导体制造操作。

    制造系统、半导体工艺机台以及电弧放电保护方法

    公开(公告)号:CN109755090B

    公开(公告)日:2022-05-24

    申请号:CN201810851276.9

    申请日:2018-07-30

    Abstract: 一种制造系统,包括半导体工艺机台、计算装置以及故障检测与分类系统。半导体工艺机台包括电极以及射频感测器以执行半导体制造程序来制造集成电路。射频感测器无线地感测射频信号的强度。计算装置基于所感测到的射频信号的强度提取统计特征值。故障检测与分类系统根据所提取的统计特征值确定射频信号的强度是否符合阈值或阈值范围。当所感测的射频信号的强度超过阈值或阈值范围时,故障检测与分类系统通知半导体工艺机台调整射频信号,或停止半导体工艺机台以检查部件损坏。

    地板下充电站
    8.
    发明公开
    地板下充电站 审中-实审

    公开(公告)号:CN113452105A

    公开(公告)日:2021-09-28

    申请号:CN202110275047.9

    申请日:2021-03-15

    Abstract: 本发明实施例涉及地板下充电站。根据本发明的一些实施例,地板下充电站可经安装于地板下方使得所述地板下充电站的顶板与所述地板的顶面基本上齐平而不触碰地面。所述顶板中的开口允许充电元件在使用时延伸以对移动机器人充电,且在不使用时缩回于所述地板下方。所述伸缩式充电元件防止绊倒的危险且允许所述移动机器人在整个无尘室中自由地移动。此外,因为在所述地板下充电站未投入使用时所述充电元件可缩回于不突出位置中,所以准许所述地板下充电站定位于所述无尘室中允许所述移动机器人在充电时继续工作及/或允许所述移动机器人不停地运行的位置。

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