操作气体供应装置的方法、气体供应装置和粒子辐射设备

    公开(公告)号:CN111354612B

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN201911209896.3

    申请日:2019-11-25

    Inventor: A.施蒙兹

    Abstract: 本发明涉及一种用于操作气体供应装置(1000)的方法,其中将该气体供应装置(1000)的功能参数显示在显示装置(124)上。另外,本发明涉及一种用于执行该方法的气体供应装置(1000)以及一种具有气体供应装置(1000)的粒子辐射设备(100)。该方法包括预定和/或用温度测量单元(1006)来测量该气体供应装置(1000)的前体储器(1001)的当前温度,其中该前体储器(1001)具有用于供应到物体(125,425)上的前体;将与该前体储器(1001)的当前温度相关的、该前体通过该前体储器(1001)的出口(1004)的流速从数据库(126)中加载到控制单元(123)中,以及(i)在该显示单元(124)上显示该流速和/或(ii)在使用该控制单元(123)的情况下取决于该流速来确定该前体储器(1001)的功能参数,并且将所确定的功能参数通知该气体供应装置(1000)的使用者。

    使用粒子显微镜记录图像的方法以及粒子显微镜

    公开(公告)号:CN109272550B

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN201810788289.6

    申请日:2018-07-17

    Abstract: 一种使用粒子显微镜记录图像的方法包括:记录对象的多个图像,其中,这些所记录图像中的每一个所记录图像与图像数据相关联,所述图像数据包括与在所述所记录图像的坐标系中的位置相关联的强度值。所述方法进一步包括:确定在所述这些所记录图像的所述图像数据的坐标系之间的位移;基于所确定位移而确定所得图像的边界框;以及基于所述这些所记录图像的所述图像数据的与一些位置相关联的强度值来计算所述所得图像的图像数据,这些位置位于与所述所得图像相关联的、基于所述这些所记录图像的所述所确定位移的所述所确定边界框内。

    用于原位制备显微镜样本的方法

    公开(公告)号:CN109256312B

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN201810762251.1

    申请日:2018-07-12

    Abstract: 本发明涉及原位制备用于电子显微镜研究的显微镜样本的方法。所述方法借助粒子束设备实施,所述粒子束设备包括用于产生聚焦的带电粒子束的粒子束柱;用于承接样本块的样本支座和用于探测粒子束与样本材料之间相互作用的相互作用产物的探测器。所述方法包括步骤:a)提供具有裸露结构的样本块,所述裸露结构包括感兴趣的样本区域(ROI);b)通过粒子束的作用在裸露结构中产生弯折棱边,从而使裸露结构的至少一部分朝向入射的粒子束变形;c)移动承接样本块的样本支座,使得包括在变形结构中的样本区域能够在粒子束设备中被观察和/或被加工。

    操作气体供应装置的方法、气体供应装置和粒子辐射设备

    公开(公告)号:CN111354612A

    公开(公告)日:2020-06-30

    申请号:CN201911209896.3

    申请日:2019-11-25

    Inventor: A.施蒙兹

    Abstract: 本发明涉及一种用于操作气体供应装置(1000)的方法,其中将该气体供应装置(1000)的功能参数显示在显示装置(124)上。另外,本发明涉及一种用于执行该方法的气体供应装置(1000)以及一种具有气体供应装置(1000)的粒子辐射设备(100)。该方法包括预定和/或用温度测量单元(1006)来测量该气体供应装置(1000)的前体储器(1001)的当前温度,其中该前体储器(1001)具有用于供应到物体(125,425)上的前体;将与该前体储器(1001)的当前温度相关的、该前体通过该前体储器(1001)的出口(1004)的流速从数据库(126)中加载到控制单元(123)中,以及(i)在该显示单元(124)上显示该流速和/或(ii)在使用该控制单元(123)的情况下取决于该流速来确定该前体储器(1001)的功能参数,并且将所确定的功能参数通知该气体供应装置(1000)的使用者。

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