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公开(公告)号：CN118962964A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411227797.9
申请日：2019-04-09
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 , 洛桑联邦理工学院
Inventor： 蒂莫·安胡特 , 伊万·迈克尔·安托洛维奇 , 丹尼尔·施韦特 , 克劳迪奥·布鲁斯基尼 , 爱德华多·沙邦
Abstract: 一种光学显微镜，包括用于照射样本(35)的光源(10)、由用于测量来自样本(35)的检测光(15)的光子计数检测器元件(61、62)组成的传感器阵列(60)，以及用于控制传感器阵列(60)的控制设备(70)。控制设备(70)被配置为灵活地将光子计数检测器元件(62)合并读出一个或多个超像素(65)。
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公开(公告)号：CN113874774A
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN201980094729.0
申请日：2019-04-09
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 , 洛桑联邦理工学院
Inventor： 蒂莫·安胡特 , 伊万·迈克尔·安托洛维奇 , 丹尼尔·施韦特 , 克劳迪奥·布鲁斯基尼 , 爱德华多·沙邦
IPC: G02B21/00
Abstract: 一种光学显微镜，包括用于照射样本(35)的光源(10)、由用于测量来自样本(35)的检测光(15)的光子计数检测器元件(61、62)组成的传感器阵列(60)，以及用于控制传感器阵列(60)的控制设备(70)。控制设备(70)被配置为灵活地将光子计数检测器元件(62)合并读出一个或多个超像素(65)。
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公开(公告)号：CN108254909B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201810153769.5
申请日：2013-05-16
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种光学显微镜和用于利用光学显微镜记录图像的方法。光学显微镜具有用于向试样方向发射出照射光的多色光源、用于将照射光聚焦到试样上的聚焦器件和探测装置，其中，聚焦器件具有纵向色差以产生深度分辨率；探测装置包括二维阵列的探测元件，用以检测来自试样的试样光。根据本发明，光学显微镜的特征在于，为了既检测试样光的共焦部分又检测试样光的非共焦部分，从试样到探测装置的光学路径中没有用于完全滤除非共焦部分的元件。
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公开(公告)号：CN109964162A
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201780064240.X
申请日：2017-10-16
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于扫描显微镜的射束操纵的设备，该设备具有用于将激发光耦入到照明光路中并用于使激发光与探测光路的探测光分开的主分色器并且具有优选定位在光瞳平面内的用于对激发光进行采样的扫描仪。该设备的特征在于，存在有附加的光学路段，其具有影响光路的光学元件，通过影响光路的光学元件在附加的光学路段中形成至少一个光瞳平面和/或至少一个中间图像平面，存在有能调节的选出装置，用于激活照明和/或探测光路的第一射束区段或者用于激活附加的光学路段，其中，照明和/或探测光路的第一射束区段不包含照明和/或探测光路的光瞳平面。
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公开(公告)号：CN108012554A
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201680034370.4
申请日：2016-06-03
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及用于确定和补偿几何成像偏差的方法，所述成像偏差在通过用显微成像系统的顺次单光斑或多光斑扫描进行的物体成像过程中产生，所述方法包括如下方法步骤：-确定参照物，该参照物具有限定的平面结构，-产生该结构的没有几何成像偏差的电子图像数据记录，-用成像系统产生至少一个电子实际图像数据记录，-将实际图像数据记录与参考图像数据记录就各自源于相同物体点的图像点的位置进行比较，-确定实际图像数据记录中相对于参考图像数据记录的位置偏离，-将确定的位置偏离作为校正数据存储，-通过根据校正数据校正实际图像数据记录中的位置偏离补偿几何成像偏差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114616503B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202080072679.9
申请日：2020-10-12
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 一种使用光学显微镜记录图像的方法，包括以下步骤：将照明光(12)引导至样本(35)；将来自样本(35)的检测光(15)引导到多个光子计数传感器元件(61)，每个光子计数传感器元件依次记录多个光子计数(x)；从光子计数(x)形成(S3)多个待分析的光子计数分布(81‑83)和至少一个参考光子计数分布(80)；计算每个待分析的光子计数分布(81‑83)和参考光子计数分布(80)之间的相似性；根据计算出的待分析光子计数分布(81‑83)的相似性，将传感器元件(61)识别为过载。还公开了一种相应的光学显微镜。
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公开(公告)号：CN116710828A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202080105090.4
申请日：2020-07-28
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 , 洛桑联邦理工学院
Inventor： 蒂莫·安胡特 , 伊万·迈克尔·安托洛维奇 , 丹尼尔·施韦特 , 爱德华多·沙邦 , 克劳迪奥·布鲁斯基尼
IPC: G02B21/00
Abstract: 一种用于操作光学显微镜的方法，包括从一个或多个光源(1)向样本定位位置(6A)发射和引导作为多个照射光束的照射光(2)，在样本定位位置处(6A)形成多个分离的照射光点(2A、2B、2C、2D)；以及将来自样本定位位置(6A)的照射光点(2A、2B、2C、2D)的探测光束(11)引导到包括多个传感器阵列(31‑34)的探测器(10)。每个传感器阵列(31‑34)包括光子计数探测器元件(40)，并且探测光束(11)在传感器阵列(31‑34)上形成多个光点(15)，其中来自样本定位位置(6A)处的不同照射光点(2A、2B、2C、2D)的探测光束(10)被引导到不同的传感器阵列(31‑34)。分析来自传感器阵列(31‑34)的测量信号以确定关于传感器阵列(31至34)上的光点(15)的位置信息。在调整过程中，基于位置信息调整光点(15)撞击传感器阵列(31‑34)的位置。还公开了相应的光学显微镜。
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公开(公告)号：CN116249891A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202180058676.4
申请日：2021-07-29
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及用于在激光扫描显微镜中探测发射光、尤其是来自至少一种荧光染料的荧光的方法，其中，利用成像光学器件将来自样品的发射光引导到位于图像平面中的具有多个像素的二维矩阵传感器上，其中，利用矩阵传感器以空间超采样的方式探测探测点分布函数。该方法的特征在于，利用色散装置尤其是在色散方向上对来自样品的发射光进行光谱分解，利用矩阵传感器对经光谱分解的发射光进行光谱分辨式探测，并且在评估由像素区域的像素测得的强度时，至少针对这些像素中的一些像素取消光谱分离。在另外的方面中，本发明涉及用于在激光扫描显微镜中以光谱分辨方式探测发射光的探测设备，并涉及激光扫描显微镜。
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公开(公告)号：CN107064082B
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN201710073108.7
申请日：2017-02-10
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Inventor： 蒂莫·安胡特 , 丹尼尔·施韦特 , 托比亚斯·考夫霍尔德 , 布克哈德·罗舍尔 , 斯特凡·威廉
Abstract: 本发明涉及一种用于多点扫描显微的设备和方法。该设备具有：多色光源；分束设备；第一光学装置，用于提供照射光路，照射光路用于将单独的照射子光束分别引导并且聚焦到待检验的样本上或样本中的光斑中；扫描单元；检测单元，用于检测在用单独的照射子光束辐照之后，检测子光束中的被样本辐射的检测光；第二光学装置，用于提供将检测子光束引导到检测单元的检测光路；控制和评价单元，用于控制扫描单元并且用于评价检测单元检测的检测光。所述设备的特征在于，在照射子光束中的至少两个照射子光束的照射光路中，存在用于独立地设定相应照射子光束的光谱组成的可控光束操纵装置，并且控制和评价单元被设计成控制光束操纵装置。
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公开(公告)号：CN113056696A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201980071523.6
申请日：2019-10-23
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种显微镜，包括用于提供照明光的光源、用于以可变方式产生待选择的照明光的照明图案的可控操纵设备、具有用于将照明图案引导至待检验样品的显微镜透镜的照明光束路径、具有用于检查由样品发出的荧光的多个像素的检测器、用于将由样品发出的荧光引导至检测器的检测光束路径、用于使照明光和荧光分离的主分束器、用于控制操纵设备并评估由检测器测量的数据的控制和评估单元。所要求保护的显微镜的特征在于，操纵设备在样品平面的光学共轭平面附近、被设置在主分束器上游的照明光束路径中，使得使用控制和评估单元并且以待选择的读出图案个别地激活检测器的像素，并且控制和评估单元被设计为个别地或以取决于所选择的照明图案的所选择的读出图案激活检测器的像素。本发明进一步涉及一种用于显微镜检查的方法。
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