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公开(公告)号：CN104515469B
公开(公告)日：2018-07-10
申请号：CN201410521200.1
申请日：2014-09-30
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
CPC classification number: G01B11/02 , G01B9/04 , G01B11/0608 , G01B11/24 , G01B2210/52
Abstract: 本发明涉及用于检查微观样本的光显微镜和显微镜学方法。根据本发明，该显微镜学方法的其特征在于：在不同样本记录的高度测量范围相互重叠的高度，记录样本记录；在两个分别的样本记录中，识别共同横向区域；对共同横向区域，能在两个样本记录中获得高度信息；并且在用于至少一个共同横向区域的不同样本记录的高度信息的基础上，确定不同样本记录的高度信息的联系。本发明另外基于相应的光显微镜。
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公开(公告)号：CN104515469A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410521200.1
申请日：2014-09-30
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
CPC classification number: G01B11/02 , G01B9/04 , G01B11/0608 , G01B11/24 , G01B2210/52
Abstract: 本发明涉及用于检查微观样本的光显微镜和显微镜学方法。根据本发明，该显微镜学方法的其特征在于：在不同样本记录的高度测量范围相互重叠的高度，记录样本记录；在两个分别的样本记录中，识别共同横向区域；对共同横向区域，能在两个样本记录中获得高度信息；并且在用于至少一个共同横向区域的不同样本记录的高度信息的基础上，确定不同样本记录的高度信息的联系。本发明另外基于相应的光显微镜。
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公开(公告)号：CN104303089B
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201380025813.X
申请日：2013-05-16
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
CPC classification number: G02B21/008 , G01B9/02042 , G01B9/04 , G01B2210/50 , G02B21/0028 , G02B21/0032 , G02B21/0044 , G02B21/006 , G02B21/0064 , G02B21/0068 , G02B21/0092 , G02B21/08 , G02B21/14 , G02B21/18 , G02B21/367
Abstract: 本发明涉及一种光学显微镜，其具有用于向试样方向发射出照射光的多色光源、用于将照射光聚焦到试样上的聚焦器件和探测装置，其中，聚焦器件具有纵向色差以产生深度分辨率；探测装置包括二维阵列的探测元件，用以检测来自试样的试样光。根据本发明，光学显微镜的特征在于，为了既检测试样光的共焦部分又检测试样光的非共焦部分，从试样到探测装置的光学路径中没有用于完全滤除非共焦部分的元件。此外，本发明还涉及一种用于利用光学显微镜记录图像的方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108254909A
公开(公告)日：2018-07-06
申请号：CN201810153769.5
申请日：2013-05-16
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
CPC classification number: G02B21/008 , G01B9/02042 , G01B9/04 , G01B2210/50 , G02B21/0028 , G02B21/0032 , G02B21/0044 , G02B21/006 , G02B21/0064 , G02B21/0068 , G02B21/0092 , G02B21/08 , G02B21/14 , G02B21/18 , G02B21/367
Abstract: 本发明涉及一种光学显微镜和用于利用光学显微镜记录图像的方法。光学显微镜具有用于向试样方向发射出照射光的多色光源、用于将照射光聚焦到试样上的聚焦器件和探测装置，其中，聚焦器件具有纵向色差以产生深度分辨率；探测装置包括二维阵列的探测元件，用以检测来自试样的试样光。根据本发明，光学显微镜的特征在于，为了既检测试样光的共焦部分又检测试样光的非共焦部分，从试样到探测装置的光学路径中没有用于完全滤除非共焦部分的元件。
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公开(公告)号：CN104303089A
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201380025813.X
申请日：2013-05-16
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
CPC classification number: G02B21/008 , G01B9/02042 , G01B9/04 , G01B2210/50 , G02B21/0028 , G02B21/0032 , G02B21/0044 , G02B21/006 , G02B21/0064 , G02B21/0068 , G02B21/0092 , G02B21/08 , G02B21/14 , G02B21/18 , G02B21/367
Abstract: 本发明涉及一种光学显微镜，其具有用于向试样方向发射出照射光的多色光源、用于将照射光聚焦到试样上的聚焦器件和探测装置，其中，聚焦器件具有纵向色差以产生深度分辨率；探测装置包括二维阵列的探测元件，用以检测来自试样的试样光。根据本发明，光学显微镜的特征在于，为了既检测试样光的共焦部分又检测试样光的非共焦部分，从试样到探测装置的光学路径中没有用于完全滤除非共焦部分的元件。此外，本发明还涉及一种用于利用光学显微镜记录图像的方法。
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公开(公告)号：CN108254909B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201810153769.5
申请日：2013-05-16
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种光学显微镜和用于利用光学显微镜记录图像的方法。光学显微镜具有用于向试样方向发射出照射光的多色光源、用于将照射光聚焦到试样上的聚焦器件和探测装置，其中，聚焦器件具有纵向色差以产生深度分辨率；探测装置包括二维阵列的探测元件，用以检测来自试样的试样光。根据本发明，光学显微镜的特征在于，为了既检测试样光的共焦部分又检测试样光的非共焦部分，从试样到探测装置的光学路径中没有用于完全滤除非共焦部分的元件。
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公开(公告)号：CN108291870B
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN201680064947.6
申请日：2016-10-11
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 通过使用根据本发明的方法，确定用光显微镜(100)检验的样本介质的波长相关折射率。使用所述光显微镜对具有未知折射率的样本介质进行样本测量。将照明光(22)照射到所述样本介质并且测量来自所述样本介质的检测光。借助所述样本测量来测量照明光和/或检测光的样本测量焦点位置。使用其中基于介质的折射率来表达照明光和/或检测光的焦点位置(25)的数学模型，从所述样本测量焦点位置导出所述样本介质的所述折射率。此外，描述了一种用于执行所述方法的光显微镜。
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公开(公告)号：CN108291870A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201680064947.6
申请日：2016-10-11
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
CPC classification number: G01N21/4133 , G01N21/274 , G02B21/0076 , G02B21/244 , G02B21/365 , G02B21/367
Abstract: 通过使用根据本发明的方法，确定用光显微镜(100)检验的样本介质的波长相关折射率。使用所述光显微镜对具有未知折射率的样本介质进行样本测量。将照明光(22)照射到所述样本介质并且测量来自所述样本介质的检测光。借助所述样本测量来测量照明光和/或检测光的样本测量焦点位置。使用其中基于介质的折射率来表达照明光和/或检测光的焦点位置(25)的数学模型，从所述样本测量焦点位置导出所述样本介质的所述折射率。此外，描述了一种用于执行所述方法的光显微镜。
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