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公开(公告)号：CN116249891A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202180058676.4
申请日：2021-07-29
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及用于在激光扫描显微镜中探测发射光、尤其是来自至少一种荧光染料的荧光的方法，其中，利用成像光学器件将来自样品的发射光引导到位于图像平面中的具有多个像素的二维矩阵传感器上，其中，利用矩阵传感器以空间超采样的方式探测探测点分布函数。该方法的特征在于，利用色散装置尤其是在色散方向上对来自样品的发射光进行光谱分解，利用矩阵传感器对经光谱分解的发射光进行光谱分辨式探测，并且在评估由像素区域的像素测得的强度时，至少针对这些像素中的一些像素取消光谱分离。在另外的方面中，本发明涉及用于在激光扫描显微镜中以光谱分辨方式探测发射光的探测设备，并涉及激光扫描显微镜。
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公开(公告)号：CN110235057B
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN201880009169.X
申请日：2018-01-19
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
IPC: G03B5/00 , G02B7/10 , G02B15/14 , G02B27/32 , G02B13/20 , G02B27/62 , H04N5/232 , G06T7/10 , G01B11/02
Abstract: 本发明首先涉及一种用于确定在变焦光学系统(03)的移位路径上的、特别是在显微镜的变焦光学系统(03)的移位路径上的机械偏差的方法。变焦光学系统(03)布置在有待拍摄的物体(19)与电子图像传感器(04)之间的光路(01)中。在第一方法步骤中，将光学标记在光路(01)的处在有待拍摄的物体(19)与变焦光学系统(03)之间的定位处引入到光路(01)中，由此使光学标记经过变焦光学系统(03)并且紧接着成像在用来探测并确定光学标记的定位的图像上。将该光学标记的定位与光学标记的参考定位相比较，以便确定在变焦光学系统(03)的移位路径上的机械偏差。此外，本发明还涉及一种用于校正利用电子图像传感器(04)拍摄的图像的移位误差的方法以及一种电子图像拍摄装置。
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公开(公告)号：CN110235057A
公开(公告)日：2019-09-13
申请号：CN201880009169.X
申请日：2018-01-19
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明首先涉及一种用于确定在变焦光学系统(03)的移位路径上的、特别是在显微镜的变焦光学系统(03)的移位路径上的机械偏差的方法。变焦光学系统(03)布置在有待拍摄的物体(19)与电子图像传感器(04)之间的光路(01)中。在第一方法步骤中，将光学标记在光路(01)的处在有待拍摄的物体(19)与变焦光学系统(03)之间的定位处引入到光路(01)中，由此使光学标记经过变焦光学系统(03)并且紧接着成像在用来探测并确定光学标记的定位的图像上。将该光学标记的定位与光学标记的参考定位相比较，以便确定在变焦光学系统(03)的移位路径上的机械偏差。此外，本发明还涉及一种用于校正利用电子图像传感器(04)拍摄的图像的移位误差的方法以及一种电子图像拍摄装置。
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