用于扫描显微镜的射束操纵的设备和显微镜

    公开(公告)号:CN109964162A

    公开(公告)日:2019-07-02

    申请号:CN201780064240.X

    申请日:2017-10-16

    Abstract: 本发明涉及一种用于扫描显微镜的射束操纵的设备,该设备具有用于将激发光耦入到照明光路中并用于使激发光与探测光路的探测光分开的主分色器并且具有优选定位在光瞳平面内的用于对激发光进行采样的扫描仪。该设备的特征在于,存在有附加的光学路段,其具有影响光路的光学元件,通过影响光路的光学元件在附加的光学路段中形成至少一个光瞳平面和/或至少一个中间图像平面,存在有能调节的选出装置,用于激活照明和/或探测光路的第一射束区段或者用于激活附加的光学路段,其中,照明和/或探测光路的第一射束区段不包含照明和/或探测光路的光瞳平面。

    用于扫描显微镜的射束操纵的设备和显微镜

    公开(公告)号:CN115542528A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202211147342.7

    申请日:2017-10-16

    Abstract: 本发明涉及一种用于扫描显微镜的射束操纵的设备和显微镜,该设备具有用于将激发光耦入到照明光路中并用于使激发光与探测光路的探测光分开的主分色器。该设备的特征在于,存在有附加的光学路段,其具有影响光路的光学元件,通过影响光路的光学元件在附加的光学路段中形成至少一个光瞳平面和/或至少一个中间图像平面,存在有能调节的选出装置,用于激活照明和/或探测光路的第一射束区段或者用于激活附加的光学路段,其中,照明和/或探测光路的第一射束区段不包含照明和/或探测光路的光瞳平面。

    光学组件、多点扫描显微镜和用于运行显微镜的方法

    公开(公告)号:CN109891294A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201780066241.8

    申请日:2017-10-25

    Abstract: 本发明涉及一种光学组件,尤其是用于多点扫描显微镜的探测光路的光学组件,其具有探测器能定位其中有的探测平面并且具有用于对探测光进行光谱分裂的色散装置。根据本发明,光学组件的特征在于,为了使探测光传导到探测平面中,存在有畸变光学器件,其布置在色散装置的射束下游并且布置在探测平面的射束上游,并且存在有转动装置,用于使经光谱分割的探测光的照明场和畸变光学器件相对扭转。此外,本发明还涉及一种多点扫描显微镜和一种用于运行显微镜的方法。

    用于扫描显微镜的射束操纵的设备和显微镜

    公开(公告)号:CN109964162B

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN201780064240.X

    申请日:2017-10-16

    Abstract: 本发明涉及一种用于扫描显微镜的射束操纵的设备,该设备具有用于将激发光耦入到照明光路中并用于使激发光与探测光路的探测光分开的主分色器并且具有优选定位在光瞳平面内的用于对激发光进行采样的扫描仪。该设备的特征在于,存在有附加的光学路段,其具有影响光路的光学元件,通过影响光路的光学元件在附加的光学路段中形成至少一个光瞳平面和/或至少一个中间图像平面,存在有能调节的选出装置,用于激活照明和/或探测光路的第一射束区段或者用于激活附加的光学路段,其中,照明和/或探测光路的第一射束区段不包含照明和/或探测光路的光瞳平面。

    针对用于显微镜的探测光的光学组件、用于显微镜检查的方法和显微镜

    公开(公告)号:CN110023811B

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN201780063949.8

    申请日:2017-10-16

    Abstract: 本发明涉及一种用于显微镜的、尤其是共焦扫描显微镜的探测光的光学组件,其具有用于被待测量的探测光穿过的射入平面(10)和布置在射入平面下游的用于将探测光(11)引导到探测平面(67)中的探测光路,其中,探测光路具有至少一个第一射束路径(1),其具有第一光学射束引导器件,尤其是第一透镜和/或反射镜(20、30、34、36、58、60、66),用于将探测光传导到探测平面中。光学组件在第一射束路径中具有至少一个用于对待测量的探测光在空间上进行光谱分裂的色散装置(26)和用于对在空间上进行了光谱分裂的探测光进行操纵的操纵装置(49)。第一光学射束引导器件与色散装置和操纵装置一起被布置并设立成用于产生射入平面到探测平面中的光谱分离并衍射受限的成像。优选地,光学组件具有第二射束路径(2),其具有光学射束引导器件和用于选出第一射束路径(1)或第二射束路径(2)的选出装置(22)。在另一方面中,本发明还涉及一种用于显微镜检查的方法以及显微镜。

    光学组件、多点扫描显微镜和用于运行显微镜的方法

    公开(公告)号:CN109891294B

    公开(公告)日:2021-11-12

    申请号:CN201780066241.8

    申请日:2017-10-25

    Abstract: 本发明涉及一种光学组件,尤其是用于多点扫描显微镜的探测光路的光学组件,其具有探测器能定位其中有的探测平面并且具有用于对探测光进行光谱分裂的色散装置。根据本发明,光学组件的特征在于,为了使探测光传导到探测平面中,存在有畸变光学器件,其布置在色散装置的射束下游并且布置在探测平面的射束上游,并且存在有转动装置,用于使经光谱分割的探测光的照明场和畸变光学器件相对扭转。此外,本发明还涉及一种多点扫描显微镜和一种用于运行显微镜的方法。

    针对用于显微镜的探测光的光学组件、用于显微镜检查的方法和显微镜

    公开(公告)号:CN110023811A

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201780063949.8

    申请日:2017-10-16

    Abstract: 本发明涉及一种用于显微镜的、尤其是共焦扫描显微镜的探测光的光学组件,其具有用于被待测量的探测光穿过的射入平面(10)和布置在射入平面下游的用于将探测光(11)引导到探测平面(67)中的探测光路,其中,探测光路具有至少一个第一射束路径(1),其具有第一光学射束引导器件,尤其是第一透镜和/或反射镜(20、30、34、36、58、60、66),用于将探测光传导到探测平面中。光学组件在第一射束路径中具有至少一个用于对待测量的探测光在空间上进行光谱分裂的色散装置(26)和用于对在空间上进行了光谱分裂的探测光进行操纵的操纵装置(49)。第一光学射束引导器件与色散装置和操纵装置一起被布置并设立成用于产生射入平面到探测平面中的光谱分离并衍射受限的成像。优选地,光学组件具有第二射束路径(2),其具有光学射束引导器件和用于选出第一射束路径(1)或第二射束路径(2)的选出装置(22)。在另一方面中,本发明还涉及一种用于显微镜检查的方法以及显微镜。

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