基于信号传输性能分析的MIV故障诊断系统及其方法

    公开(公告)号:CN119178984A

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN202410965100.1

    申请日:2024-07-18

    Abstract: 基于信号传输性能分析的MIV故障诊断系统及其方法,涉及三维集成电路测试技术领域。解决现有单片层间通孔MIV测试方法可诊断故障范围有限的问题。诊断系统包括一个测试控制器和多个测试单元;所述测试控制器用于向各测试单元发送测试指令。基于诊断系统实现的诊断方法为:通过分别检测整个MIV组中是否存在开路故障、漏电故障及前半组MIV中是否存在短路故障、后半组MIV中是否存在短路故障,若检测过程中存在故障则对整个MIV组进行进一步故障诊断,诊断包括执行延迟特性识别的故障诊断、电压特性识别的故障诊断,直至获得诊断结果。本发明适用于三维集成技术中MIV的测试及故障诊断。

    一种绝缘电阻测试仪
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117607544A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311786985.0

    申请日:2023-12-22

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘电阻测试仪,包括:主机控制器单元、测试总线单元、逻辑控制模块和恒压测量模块;其中,所述主机控制器单元发出控制命令,将控制命令通过所述测试总线单元传输给所述逻辑控制模块;所述逻辑控制模块接收控制命令,将控制命令经过译码产生控制信号,将控制信号经过光电隔离后得到隔离后的控制信号,将隔离后的控制信号通过所述测试总线单元传输给所述恒压测量模块;所述恒压测量模块接收隔离后的控制信号,根据隔离后的控制信号测量出测试电路的绝缘电阻,将测试电路的绝缘电阻通过所述测试总线单元传输给所述主机控制器单元。本发明能够进行绝缘电阻的快速自动测量,大大提高了绝缘的自动化程度。

    一种结合物理信息和生成对抗网络的高精度电子设备寿命评估方法

    公开(公告)号:CN118396026A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410505574.8

    申请日:2024-04-25

    Abstract: 本发明公开了一种结合物理信息和生成对抗网络的高精度电子设备寿命评估方法,涉及电子设备整机寿命评估领域。具体为:将关于退化特性的物理模型引入神经网络中,使神经网络既可以实现高精度寿命评估,又可以大幅减少测试数据需求量,同时具备较好的解释性。此外,本发明通过把生成器分成退化量预测层和可靠度预测层两部分,一方面可以通过真实退化数据对基于端到端生成器潜变量的预测退化数据进行约束,另一方面通过这种两阶段的可靠度预测方式,能够减少网络预测空间,从而提升端到端网络的可靠度预测精度。本发明无需偏好假设,深度学习仅依靠海量数据就可以找出隐含在数据中的特征,并得到高评估精度、高普适性的寿命评估模型。

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