一种结合物理信息和生成对抗网络的高精度电子设备寿命评估方法

    公开(公告)号:CN118396026A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410505574.8

    申请日:2024-04-25

    Abstract: 本发明公开了一种结合物理信息和生成对抗网络的高精度电子设备寿命评估方法,涉及电子设备整机寿命评估领域。具体为:将关于退化特性的物理模型引入神经网络中,使神经网络既可以实现高精度寿命评估,又可以大幅减少测试数据需求量,同时具备较好的解释性。此外,本发明通过把生成器分成退化量预测层和可靠度预测层两部分,一方面可以通过真实退化数据对基于端到端生成器潜变量的预测退化数据进行约束,另一方面通过这种两阶段的可靠度预测方式,能够减少网络预测空间,从而提升端到端网络的可靠度预测精度。本发明无需偏好假设,深度学习仅依靠海量数据就可以找出隐含在数据中的特征,并得到高评估精度、高普适性的寿命评估模型。

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