公开(公告)号：CN106707143A

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201710008030.0

申请日：2017-01-05

Applicant: 北京航天自动控制研究所

Inventor： 李鑫 ,  彭红五 ,  周饴然 ,  向刚

IPC: G01R31/3177

CPC classification number: G01R31/3177

Abstract: 本发明提供了一种芯片内部逻辑验证系统，其特征在于，包括：用于根据控制指令向被测芯片发送控制信号并接收被测芯片的反馈信号的主控模块、用于在被测芯片与主控模块之间进行电平转换的电平转换模块、至少一个用于连接被测芯片的I/O模块；其中所述I/O模块通过电平转换模块连接所述主控模块。上述技术方案能够针对可编程芯片内部逻辑的测试验证，该装置的投入可以对芯片进行批量的测试验证，减少了操作人员的工作量，提高了测试效率和测试覆盖率。

公开(公告)号：CN119204976A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411099257.7

申请日：2024-08-12

Applicant: 北京航天自动控制研究所

Inventor： 曹芳芳 ,  王乐其 ,  丁派克 ,  庞贺 ,  孙运乾 ,  刘剑 ,  刘力军 ,  陈辛 ,  陶然 ,  黄云涛 ,  张文轩 ,  王琦 ,  仲宇 ,  项宗友 ,  李宇明 ,  杨威 ,  韩翔宇 ,  周饴然

IPC: G06Q10/10

Abstract: 本申请实施例涉及数据处理技术领域，提供了一种航天设备数据分析系统，其包括：判读模型库，用于存储判读规则；数据获取模块，用于根据用户的判读请求获取航天设备的试验数据；流程判读模块，用于根据用户的判读请求从判读模型库中获取所述判读请求对应的判读规则；判读流程调度模块，用于根据所述判读请求对应的判读规则利用获取的试验数据执行判读任务，获得判读结果；判读报告模块，用于根据判读结果生成判读报告。本申请能够对航天设备在全生命周期产生的海量试验数据进行诊断分析，实现基于数据的自动判读和诊断分析。本申请还公开了一种航天设备数据分析方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质。

公开(公告)号：CN115933812A

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202211604668.8

申请日：2022-12-13

Applicant: 北京航天自动控制研究所

Inventor： 李慧 ,  刘思东 ,  王宇宏 ,  王萍 ,  吴润 ,  胡德风 ,  苏平 ,  方建林 ,  韩峰 ,  王昭磊 ,  王茜 ,  彭宇 ,  陶然 ,  杨倩 ,  周饴然

IPC: G06F1/12 ,  F42B15/01 ,  G06F1/10

Abstract: 本公开的控制系统控制组合类产品的从模块测试时间计算方法，通过从模块接收主模块发送的PWM时钟同步信号，对PWM时钟同步信号进行计数得到计数值CNT；从模块在PWM时钟同步信号的周期内生成时间戳信号，得到时间戳信号计数值M；记录主模块获取从模块测试信息的本地时间Tlocal_cur，根据本地时间Tlocal_cur、PWM时钟同步信号的周期T1、计数值CNT、时间戳信号M和时间戳信号的周期T2对计数值CNT翻转后的测试时间进行补偿得到翻转补偿的测试时间Tcom_seq；根据测试时间Tcom_seq、系统同步本地时间Tsystem_syn、主模块本地时间Tlocal_syn、主模块和从模块同步加电的初始偏差Δt计算从模块测试时间Tseq_output。通过主模块对PWM时钟同步信号的翻转次数进行补偿，使得最终生成的测试计时与系统保持一致，提升控制组合产品的测试性能。