Sn-Zn-O系氧化物烧结体及其制造方法

    公开(公告)号:CN108349816A

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201680067703.3

    申请日:2016-09-20

    Abstract: 本发明的课题是提供一种具有机械强度、高密度以及低电阻的特性且作为溅射靶使用的Sn-Zn-O系氧化物烧结体及其制造方法。作为本发明的解决手段,上述氧化物烧结体,其特征在于,以原子数比Sn/(Sn+Zn)计为0.1以上且0.9以下的比例含有Sn,当将从Si、Ti、Ge、In、Bi、Ce、Al以及Ga中选出的至少一种作为第一添加元素M且将从Nb、Ta、W以及Mo中选出的至少一种作为第二添加元素X时,以相对于全部金属元素的总量的原子数比M/(Sn+Zn+M+X)计为0.0001以上且0.04以下的比例含有第一添加元素M,以相对于全部金属元素的总量的原子数比X/(Sn+Zn+M+X)计为0.0001以上且0.1以下的比例含有第二添加元素X,并且,相对密度为90%以上且电阻率为1Ω·cm以下。

    Sn-Zn-O系氧化物烧结体及其制造方法

    公开(公告)号:CN108698937B

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN201680083127.1

    申请日:2016-12-06

    Abstract: 本发明的课题是提供一种具有机械强度、高密度以及低电阻的特性且作为溅射靶使用的高Sn浓度的Sn‑Zn‑O系氧化物烧结体及其制造方法。作为本发明的解决手段,上述氧化烧结体,其特征在于,含有以原子数比Sn/(Zn+Sn)计为0.75以上且0.9以下比例的Sn,并且,含有以相对于Sn和Zn和添加元素(X)的总量的原子数比X/(Sn+Zn+X)计为0.001以上且0.1以下比例的添加元素(X),并且,相对密度为95%以上且电阻率为1Ω·cm以下,所述添加元素(X)是选自于Nb、Ta、W、Mo中的至少一种元素。上述制造方法,其特征在于,通过在烧成炉内的氧浓度为70体积%以上的环境中,在从700℃至烧结温度的升温速度为0.4℃/min以上且0.8℃/min以下、且烧结温度为1300℃以上且1460℃以下、以及10小时以上且30小时以内的条件下,进行烧成从而制造该高Sn浓度的Sn‑Zn‑O系氧化物烧结体。

    厚膜电阻体用组成物、厚膜电阻体用膏体及厚膜电阻体

    公开(公告)号:CN112514007A

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN201980050381.5

    申请日:2019-07-25

    Abstract: 提供一种不含铅成分,而包含氧化钌粉末、玻璃粉末及硅石粉末的厚膜电阻体用组成物。所述玻璃粉末包含SiO2、B2O3及RO(R表示选自Ca、Sr、Ba中的1种以上的碱土类元素),在所述SiO2、所述B2O3及所述RO的合计含量为100质量份的情况下,所述SiO2的含有率为10质量份以上50质量份以下,所述B2O3的含有率为8质量份以上30质量份以下,所述RO的含有率为40质量份以上65质量份以下,所述硅石粉末是比表面积为60m2/g以上300m2/g以下的非晶质硅石粉末,在所述氧化钌粉末与所述玻璃粉末的合计含量为100质量份的情况下,所述硅石粉末的含有率为1质量份以上12质量份以下。

    厚膜电阻体用组成物、厚膜电阻体用膏体及厚膜电阻体

    公开(公告)号:CN112514007B

    公开(公告)日:2023-02-17

    申请号:CN201980050381.5

    申请日:2019-07-25

    Abstract: 提供一种不含铅成分,而包含氧化钌粉末、玻璃粉末及硅石粉末的厚膜电阻体用组成物。所述玻璃粉末包含SiO2、B2O3及RO(R表示选自Ca、Sr、Ba中的1种以上的碱土类元素),在所述SiO2、所述B2O3及所述RO的合计含量为100质量份的情况下,所述SiO2的含有率为10质量份以上50质量份以下,所述B2O3的含有率为8质量份以上30质量份以下,所述RO的含有率为40质量份以上65质量份以下,所述硅石粉末是比表面积为60m2/g以上300m2/g以下的非晶质硅石粉末,在所述氧化钌粉末与所述玻璃粉末的合计含量为100质量份的情况下,所述硅石粉末的含有率为1质量份以上12质量份以下。

Patent Agency Ranking