一种应用于标准光电高温计的多功能测试电路

    公开(公告)号:CN115597727A

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202211043995.0

    申请日:2022-08-30

    Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多功能测试电路,涉及信号测试技术领域。本发明包括光电探测器、第一开关、校准接口、第二开关、放大器、模拟输出接口、数字电路模块、数字输入接口、机箱接口、机箱。光电探测器的输出信号,通过第一开关连接到校准接口上,再通过第二开关连接到放大器上,放大器通过模拟输出接口输出,模拟输出接口通过线缆与数字电路模块的输入接口相连,模拟输出接口也能够与机箱接口相连,全部电路安装在机箱内部。本发明通过切换不同的连接通路,能够在设备整机组装后不焊开导线或器件的条件下,实现多种测试功能,便于标准光电高温计的使用、调试和故障定位,实现标准光电高温计的高精度测试。

    一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法

    公开(公告)号:CN114509165A

    公开(公告)日:2022-05-17

    申请号:CN202111563838.8

    申请日:2021-12-20

    Abstract: 本发明公开的一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法,属于辐射测温技术、发射率测量技术领域。本发明的装置主要由镜头和光谱仪或光谱辐射计组成,镜头与光谱仪或光谱辐射计可以直接连接,也可以使用光纤连接。无需其他任何额外的温度测量设备或传感器,仅使用发射率测量所需的、带有镜头的、光谱范围覆盖短波的光谱仪或光谱辐射计作为测量设备,使用3个及以上光谱辐射能量信息,根据普朗克黑体辐射定律建立目标温度与光谱辐射能量的关系,拟合温度T与光谱辐射能量Lλ、波长λ的关系式,即能够准确测算出目标的表面温度,从而获得目标的光谱发射率。本发明不仅能够简化测温设备,还能够提高目标光谱发射率的测量精度。

    一种基于直和模式的TDLAS线型拟合方法

    公开(公告)号:CN110426370B

    公开(公告)日:2021-11-30

    申请号:CN201910705177.4

    申请日:2019-08-01

    Abstract: 本发明公开的一种基于直和模式的TDLAS线型拟合方法,属于可调谐二极管吸收光谱(TDLAS)技术领域。本发明通过直和模式Voigt线型拟合TDLAS气体测量中吸收谱线线型,同时采用遗传算法对多变量最优值进行搜索,通过单一吸收谱线解算多个影响变量最优组合,得到最优TDLAS气体测量中吸收谱线线型。本发明能够解决传统卷积形式Voigt线型函数无解析表达式的问题;解决无法通过单一吸收谱线解算多个影响变量最优组合的问题。将本发明得到的最优TDLAS气体测量中吸收谱线线型应用于相关工程领域,解决相关工技术问题。所述相关工技术问题包括提高TDLAS线型拟合精度,应用于TDLAS燃气温度、组分浓度和流速测量。本发明能够提高线型拟合精度、拓宽TDLAS技术的应用范围。

    一种内锥型均温靶热管黑体

    公开(公告)号:CN106052884B

    公开(公告)日:2019-03-08

    申请号:CN201610366117.0

    申请日:2016-05-28

    Abstract: 本发明涉及一种内锥型均温靶热管黑体,属于辐射测温技术领域;该装置通过将黑体空腔(7)与热管(5)一体化设计,减小了热管与黑体空腔之间的导热损失,提高了加热效率及升温速度;在黑体空腔(7)底部放置内锥型均温靶(4),使标准热电偶与靶面之间距离尽量小,保证了靶面温度的准确性;同时,内锥型均温靶能够增加标准热电偶或铂电阻的插入深度,减小导热误差;热管(5)采用三段加热,每段的控温传感器(1)均安装在热管外壁面上,其中两段加热包裹在热管的柱体外部,第三段加热为加热盘,放置在热管的底部,分别调整三段的温度,保证黑体空腔的轴向温度场均匀。对比现有技术,本发明内追型均温靶热管黑体温度均匀性好、准确度高。

    基于等效黑体截面的辐射测温距离确定方法

    公开(公告)号:CN106052880A

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:CN201610346553.1

    申请日:2016-05-24

    CPC classification number: G01J5/00

    Abstract: 本发明涉及一种辐射测温距离的确定方法,属于辐射测温技术领域;该方法以黑体辐射源的轴向温度场为基础,根据黑体空腔的形状参数,结合黑体空腔壁面的材料发射率,计算得到该黑体辐射源的等效黑体截面位置,以该截面的位置作为测温距离的基准,结合辐射温度计的视场,确定辐射测温距离。与传统的以黑体辐射源底部作为测温距离基准的方法相比,对于大视场角的辐射温度计检定和校准,使用该方法确定测温距离能够在一定程度上克服黑体辐射源腔体长度大于测量距离的矛盾;对于以黑体辐射源腔口作为测温距离基准的方法相比,测温结果更为稳定可靠,不易受到各种变量如黑体辐射源温场均匀性等因素的影响。

    一种负温及常温不透明材料发射率测量装置

    公开(公告)号:CN105784631A

    公开(公告)日:2016-07-20

    申请号:CN201610202887.1

    申请日:2016-04-01

    CPC classification number: G01N21/3563

    Abstract: 本发明公开了一种负温及常温不透明材料发射率测量装置。它包括,真空低温仓、低温恒温循环系统、光学系统、电控平移台和计算机控制与测量系统。其测量原理为利用探测器将被测目标与相同温度下的等温黑体的辐射能量进行测量和比较,从而得到材料在不同光谱下的光谱发射率。本发明可以实现7至13μm典型光谱范围、?50℃~50℃温度范围的材料法向光谱发射率测量。所述光学系统和测量系统均处在真空低温环境中,避免了大气衰减对发射率测量影响,拓展了材料发射率测量的下限,提高了测量结果的不确定度。

    一种运动物体温场测量装置及温场合成方法

    公开(公告)号:CN104568225A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201410752976.4

    申请日:2014-12-10

    Abstract: 本发明涉及测量领域,具体涉及一种运动物体温场测量装置及温场合成方法。扫描电机1通过固定座21固定于电机保护罩20内;探针外壳6与电机保护罩20固定连接;扫描电机1与推杆8固定连接;推杆8与连接器22连接;连接器22与扫描反射镜7相连;扫描反射镜7通过高温轴10安装在光学探头3前端,光学探头3安装在探针外壳6内;气缸组4和吹扫进气组件5套在探针外壳6的外部;光纤2连接在光学探头3尾部,光纤2还与电子盒26的输入端连接;电子盒26的输出端分别与数据处理模块25、气缸组4和扫描电机1的输入端连接。其优点是可以获得整个被测物体的温场分布情况;不需要拍摄到整个被测物体,适用范围更广;响应速度快,可测量高速运动的物体。

    通过自适应信号调理测量周期变化辐射温度的方法

    公开(公告)号:CN104568165A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201410752945.9

    申请日:2014-12-10

    Abstract: 本发明涉及一种通过自适应信号调理测量周期变化辐射温度的方法,属于辐射测温领域。其具体操作步骤为:①采集被测物体辐射能量的原始信号。②构造数字滤波器模型。③在步骤一操作的基础上,获取周期变化的原始信号的频率。④在步骤二和步骤三操作的基础上,根据周期变化的原始信号的频率,自动调整第一步中所构造的数字滤波器的参数。⑤在步骤四操作的基础上,使用参数调整之后的数字滤波器对原始信号进行滤波,并计算被测物体的温度。本发明提出的一种通过自适应信号调理测量周期变化辐射温度的方法与已有技术相比较,可以在被测物体频率变化的情况下,达到最优滤波效果;并实现了滤波的自动化处理。

    用于深腔式标准黑体发射率测试的球面镜能量采集系统

    公开(公告)号:CN109752829B

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN201910210613.0

    申请日:2019-03-20

    Abstract: 本发明公开的用于深腔式标准黑体发射率测试的球面镜能量采集系统,属于发射率测量技术领域。本发明使用常见的球面镜进行能量采集系统,简单易行的实现能量采集;球面反射镜物平面与黑体腔深耦合,在黑体等温区内进行能量采集;球面镜视场与黑体腔耦合,避免源尺寸效应,提高采集信号信噪比;同时,球面镜反射角度保证不遮挡光路前提下尽量小,避免离轴状态下球面镜像差对能量采集的干扰。本发明要解决的技术问题是:提供一种利用球面镜进行能量采集的系统,实现对深腔式标准黑体发射率测试,具有加工设计经济方便的优点。

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