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公开(公告)号：CN110426370A
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201910705177.4
申请日：2019-08-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种基于直和模式的TDLAS线型拟合方法，属于可调谐二极管吸收光谱(TDLAS)技术领域。本发明通过直和模式Voigt线型拟合TDLAS气体测量中吸收谱线线型，同时采用遗传算法对多变量最优值进行搜索，通过单一吸收谱线解算多个影响变量最优组合，得到最优TDLAS气体测量中吸收谱线线型。本发明能够解决传统卷积形式Voigt线型函数无解析表达式的问题；解决无法通过单一吸收谱线解算多个影响变量最优组合的问题。将本发明得到的最优TDLAS气体测量中吸收谱线线型应用于相关工程领域，解决相关工技术问题。所述相关工技术问题包括提高TDLAS线型拟合精度，应用于TDLAS燃气温度、组分浓度和流速测量。本发明能够提高线型拟合精度、拓宽TDLAS技术的应用范围。
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公开(公告)号：CN110132427A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910439420.2
申请日：2019-05-24
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种应用于多光谱测温仪的红外探测放大器，属于信号放大和处理领域。本发明主要由多个铟镓砷光电探测器、具有多路输入输出的微弱电流信号放大电路构成；每个铟镓砷探测器的输出与微弱电流信号放大电路的其中一路输入直接相连；PCB板上输入电流信号走线和芯片的输入管脚进行保护环设计，防止漏电流的干扰；微弱电流信号放大电路具有4种不同的放大量程，其中10000000的量程由T网络实现负反馈大电阻值放大，其他量程的放大则由并联的电阻和电容负反馈网络直接实现，不同量程间通过开尔文开关的方法进行连接，电路根据输入的信号大小自动选择适配的量程，放大后的信号经过低通滤波电路进行滤波，滤波后的信号再经过差分放大器后输出。
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公开(公告)号：CN105333974A
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201510900836.1
申请日：2015-12-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01K11/32
CPC classification number: G01K11/32
Abstract: 本发明属于高温测量用的温度传感器，涉及一种双屏吸气式蓝宝石光纤高温传感器，适用于1300K～2000K温区进行气流温度测量。本发明采用带黑体空腔的蓝宝石光纤、贵金属屏蔽罩、单芯多模石英光纤、光电转换以及数据处理系统等组成高温传感器。为保证高温气流温度测量时的准确度，贵金属屏蔽罩设计成双屏吸气式的结构，以减小其传热误差和速度误差。它具有测量温度准确、响应快、抗电磁干扰能力强等优点，能够解决1300K～2000K温区的高温高速气流环境下的高温测量问题。
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公开(公告)号：CN106969841A
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201710352951.9
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/06
CPC classification number: G01J5/06 , G01J2005/065
Abstract: 本发明涉及的是一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置，属于辐射测温技术领域。本发明包括光阑反射镜安装盖、光阑反射镜、光阑反射镜安装支架、光路封装筒、消杂光阑和贯通螺纹。与传统的辐射温度计测温光路安装部件相比，本发明的源尺寸效应抑制装置将光阑反射镜及之后的准直汇聚光路整体封装在密闭空间内，避免辐射温度计中其他元件产生的杂散光进入探测器。与单一的消杂光阑安装部件相比，本发明源尺寸效应抑制装置可以在不同位置安装一个或多个不同直径的消杂光阑，对源尺寸效应的抑制效果更好。
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公开(公告)号：CN107101994B
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201710353373.0
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N21/71
Abstract: 本发明涉及一种不透明材料的光谱发射率测量装置，适用于测量金属、非金属材料表面法向光谱发射率，属于材料热物性参数技术领域。该装置包括环控箱、样品加热装置、黑体参考装置、傅里叶光谱仪、光栅光谱仪、平面镜、平移台、球面镜、旋转台、冷却水循环系统、抽真空系统和上位机。本发明实现了不透明材料法向光谱发射率的测量，该装置在真空和恒温条件下实现测量，减小了环境辐射和CO2、H2O等气体对测量结果的影响，提高了测量的准确度，同时实现两个光谱仪同时测量，拓宽了测量的波段范围。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106969841B
公开(公告)日：2019-05-07
申请号：CN201710352951.9
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/06
Abstract: 本发明涉及的是一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置，属于辐射测温技术领域。本发明包括光阑反射镜安装盖、光阑反射镜、光阑反射镜安装支架、光路封装筒、消杂光阑和贯通螺纹。与传统的辐射温度计测温光路安装部件相比，本发明的源尺寸效应抑制装置将光阑反射镜及之后的准直汇聚光路整体封装在密闭空间内，避免辐射温度计中其他元件产生的杂散光进入探测器。与单一的消杂光阑安装部件相比，本发明源尺寸效应抑制装置可以在不同位置安装一个或多个不同直径的消杂光阑，对源尺寸效应的抑制效果更好。
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公开(公告)号：CN115656252A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211172898.1
申请日：2022-09-26
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明公开的一种超高温条件下测量热扩散率用温升信号识别装置，属于热学计量技术领域。本发明包括红外光学系统、红外探测系统、高速采集系统和数据处理系统。红外光学系统将样品背面的温升信号完整地输送到红外探测系统中，并用于彩色视频瞄准和动态过程监控。红外探测系统用于对样品的温升信号进行光电转换及微弱温升信号放大；高速采集卡用于连续采集温升信号并进行AD转换。数据处理系统用于接收数字信号并进行滤波进而计算材料热扩散率。本发明采用焦距可自动变化的红外探测光路系统，确保只“看到”样品背面，消除周围辐射背景噪声的影响；同时匹配低噪声放大电路和自适应处理算法，提高热扩散率测量准确性，提升热扩散率测量温度上限。
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公开(公告)号：CN110426370B
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN201910705177.4
申请日：2019-08-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种基于直和模式的TDLAS线型拟合方法，属于可调谐二极管吸收光谱(TDLAS)技术领域。本发明通过直和模式Voigt线型拟合TDLAS气体测量中吸收谱线线型，同时采用遗传算法对多变量最优值进行搜索，通过单一吸收谱线解算多个影响变量最优组合，得到最优TDLAS气体测量中吸收谱线线型。本发明能够解决传统卷积形式Voigt线型函数无解析表达式的问题；解决无法通过单一吸收谱线解算多个影响变量最优组合的问题。将本发明得到的最优TDLAS气体测量中吸收谱线线型应用于相关工程领域，解决相关工技术问题。所述相关工技术问题包括提高TDLAS线型拟合精度，应用于TDLAS燃气温度、组分浓度和流速测量。本发明能够提高线型拟合精度、拓宽TDLAS技术的应用范围。
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公开(公告)号：CN111220652A
公开(公告)日：2020-06-02
申请号：CN202010233816.4
申请日：2020-03-30
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种基于保护热板法的高温导热系数测量装置，属于材料热物性测试领域。本发明主要由核心测试系统、抽真空系统、控制系统及采集系统组成。核心测试系统采用圆形双试样、冷热板相间的对称结构。整个测量装置为上下对称的圆形结构，由外至内分别为上下绝热层、上冷板、下冷板、被测试样及中心热板单元，中心热板单元包括中心热板及热保护环；外围设置边缘保护结构、外围绝热层及多层防辐射屏；各加热单元均设置用于测温的热电偶。本发明基于保护热板法实现高温导热系数测量，通过控制测试时冷热板温度均匀性提高测量精度，通过高反射率防辐射屏和边缘保护结构，并选择合适的温度传感器，显著拓宽温度测量范围，温度测量上限可达1000K。
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公开(公告)号：CN107101994A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710353373.0
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N21/71
Abstract: 本发明涉及一种不透明材料的光谱发射率测量装置，适用于测量金属、非金属材料表面法向光谱发射率，属于材料热物性参数技术领域。该装置包括环控箱、样品加热装置、黑体参考装置、傅里叶光谱仪、光栅光谱仪、平面镜、平移台、球面镜、旋转台、冷却水循环系统、抽真空系统和上位机。本发明实现了不透明材料法向光谱发射率的测量，该装置在真空和恒温条件下实现测量，减小了环境辐射和CO2、H2O等气体对测量结果的影响，提高了测量的准确度，同时实现两个光谱仪同时测量，拓宽了测量的波段范围。
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