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公开(公告)号：CN104568165B
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201410752945.9
申请日：2014-12-10
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/10
Abstract: 本发明涉及一种通过自适应信号调理测量周期变化辐射温度的方法，属于辐射测温领域。其具体操作步骤为：①采集被测物体辐射能量的原始信号。②构造数字滤波器模型。③在步骤一操作的基础上，获取周期变化的原始信号的频率。④在步骤二和步骤三操作的基础上，根据周期变化的原始信号的频率，自动调整第一步中所构造的数字滤波器的参数。⑤在步骤四操作的基础上，使用参数调整之后的数字滤波器对原始信号进行滤波，并计算被测物体的温度。本发明提出的一种通过自适应信号调理测量周期变化辐射温度的方法与已有技术相比较，可以在被测物体频率变化的情况下，达到最优滤波效果；并实现了滤波的自动化处理。
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公开(公告)号：CN107101994A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710353373.0
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N21/71
Abstract: 本发明涉及一种不透明材料的光谱发射率测量装置，适用于测量金属、非金属材料表面法向光谱发射率，属于材料热物性参数技术领域。该装置包括环控箱、样品加热装置、黑体参考装置、傅里叶光谱仪、光栅光谱仪、平面镜、平移台、球面镜、旋转台、冷却水循环系统、抽真空系统和上位机。本发明实现了不透明材料法向光谱发射率的测量，该装置在真空和恒温条件下实现测量，减小了环境辐射和CO2、H2O等气体对测量结果的影响，提高了测量的准确度，同时实现两个光谱仪同时测量，拓宽了测量的波段范围。
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公开(公告)号：CN106052880A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610346553.1
申请日：2016-05-24
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/00
CPC classification number: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种辐射测温距离的确定方法，属于辐射测温技术领域；该方法以黑体辐射源的轴向温度场为基础，根据黑体空腔的形状参数，结合黑体空腔壁面的材料发射率，计算得到该黑体辐射源的等效黑体截面位置，以该截面的位置作为测温距离的基准，结合辐射温度计的视场，确定辐射测温距离。与传统的以黑体辐射源底部作为测温距离基准的方法相比，对于大视场角的辐射温度计检定和校准，使用该方法确定测温距离能够在一定程度上克服黑体辐射源腔体长度大于测量距离的矛盾；对于以黑体辐射源腔口作为测温距离基准的方法相比，测温结果更为稳定可靠，不易受到各种变量如黑体辐射源温场均匀性等因素的影响。
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公开(公告)号：CN104568165A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410752945.9
申请日：2014-12-10
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/10
Abstract: 本发明涉及一种通过自适应信号调理测量周期变化辐射温度的方法，属于辐射测温领域。其具体操作步骤为：①采集被测物体辐射能量的原始信号。②构造数字滤波器模型。③在步骤一操作的基础上，获取周期变化的原始信号的频率。④在步骤二和步骤三操作的基础上，根据周期变化的原始信号的频率，自动调整第一步中所构造的数字滤波器的参数。⑤在步骤四操作的基础上，使用参数调整之后的数字滤波器对原始信号进行滤波，并计算被测物体的温度。本发明提出的一种通过自适应信号调理测量周期变化辐射温度的方法与已有技术相比较，可以在被测物体频率变化的情况下，达到最优滤波效果；并实现了滤波的自动化处理。
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公开(公告)号：CN107115906B
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201710352397.4
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: B01L3/04
Abstract: 本发明涉及一种高温共晶点预共晶灌注坩埚，属于高温共晶点技术领域。该坩埚外形为圆柱形，包括预共晶坩埚盖和预共晶坩埚主体。在预共晶坩埚主体上加工有公螺纹，预共晶坩埚盖上加工有与之匹配的母螺纹，二者通过螺纹连接。在预共晶坩埚内形成共晶体后，以倒置方式连接在共晶点坩埚上，加热后使共晶体变为熔融态，在重力作用下流入共晶点坩埚内，实现对共晶点坩埚的灌注。本发明降低了预共晶坩埚的破裂风险，避免了共晶体在预共晶坩埚与共晶点坩埚连接处造成粘连，使得预共晶坩埚能够重复利用，解决了目前采用的预共晶容器只能使用一次的问题，节约了灌注成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107115906A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710352397.4
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: B01L3/04
Abstract: 本发明涉及一种高温共晶点预共晶灌注坩埚，属于高温共晶点技术领域。该坩埚外形为圆柱形，包括预共晶坩埚盖和预共晶坩埚主体。在预共晶坩埚主体上加工有公螺纹，预共晶坩埚盖上加工有与之匹配的母螺纹，二者通过螺纹连接。在预共晶坩埚内形成共晶体后，以倒置方式连接在共晶点坩埚上，加热后使共晶体变为熔融态，在重力作用下流入共晶点坩埚内，实现对共晶点坩埚的灌注。本发明降低了预共晶坩埚的破裂风险，避免了共晶体在预共晶坩埚与共晶点坩埚连接处造成粘连，使得预共晶坩埚能够重复利用，解决了目前采用的预共晶容器只能使用一次的问题，节约了灌注成本。
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公开(公告)号：CN106969841A
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201710352951.9
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/06
CPC classification number: G01J5/06 , G01J2005/065
Abstract: 本发明涉及的是一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置，属于辐射测温技术领域。本发明包括光阑反射镜安装盖、光阑反射镜、光阑反射镜安装支架、光路封装筒、消杂光阑和贯通螺纹。与传统的辐射温度计测温光路安装部件相比，本发明的源尺寸效应抑制装置将光阑反射镜及之后的准直汇聚光路整体封装在密闭空间内，避免辐射温度计中其他元件产生的杂散光进入探测器。与单一的消杂光阑安装部件相比，本发明源尺寸效应抑制装置可以在不同位置安装一个或多个不同直径的消杂光阑，对源尺寸效应的抑制效果更好。
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公开(公告)号：CN107101994B
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201710353373.0
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N21/71
Abstract: 本发明涉及一种不透明材料的光谱发射率测量装置，适用于测量金属、非金属材料表面法向光谱发射率，属于材料热物性参数技术领域。该装置包括环控箱、样品加热装置、黑体参考装置、傅里叶光谱仪、光栅光谱仪、平面镜、平移台、球面镜、旋转台、冷却水循环系统、抽真空系统和上位机。本发明实现了不透明材料法向光谱发射率的测量，该装置在真空和恒温条件下实现测量，减小了环境辐射和CO2、H2O等气体对测量结果的影响，提高了测量的准确度，同时实现两个光谱仪同时测量，拓宽了测量的波段范围。
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公开(公告)号：CN106969841B
公开(公告)日：2019-05-07
申请号：CN201710352951.9
申请日：2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/06
Abstract: 本发明涉及的是一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置，属于辐射测温技术领域。本发明包括光阑反射镜安装盖、光阑反射镜、光阑反射镜安装支架、光路封装筒、消杂光阑和贯通螺纹。与传统的辐射温度计测温光路安装部件相比，本发明的源尺寸效应抑制装置将光阑反射镜及之后的准直汇聚光路整体封装在密闭空间内，避免辐射温度计中其他元件产生的杂散光进入探测器。与单一的消杂光阑安装部件相比，本发明源尺寸效应抑制装置可以在不同位置安装一个或多个不同直径的消杂光阑，对源尺寸效应的抑制效果更好。
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公开(公告)号：CN106052880B
公开(公告)日：2018-10-30
申请号：CN201610346553.1
申请日：2016-05-24
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种辐射测温距离的确定方法，属于辐射测温技术领域；该方法以黑体辐射源的轴向温度场为基础，根据黑体空腔的形状参数，结合黑体空腔壁面的材料发射率，计算得到该黑体辐射源的等效黑体截面位置，以该截面的位置作为测温距离的基准，结合辐射温度计的视场，确定辐射测温距离。与传统的以黑体辐射源底部作为测温距离基准的方法相比，对于大视场角的辐射温度计检定和校准，使用该方法确定测温距离能够在一定程度上克服黑体辐射源腔体长度大于测量距离的矛盾；对于以黑体辐射源腔口作为测温距离基准的方法相比，测温结果更为稳定可靠，不易受到各种变量如黑体辐射源温场均匀性等因素的影响。
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