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公开(公告)号:CN114509165B
公开(公告)日:2024-04-19
申请号:CN202111563838.8
申请日:2021-12-20
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法,属于辐射测温技术、发射率测量技术领域。本发明的装置主要由镜头和光谱仪或光谱辐射计组成,镜头与光谱仪或光谱辐射计可以直接连接,也可以使用光纤连接。无需其他任何额外的温度测量设备或传感器,仅使用发射率测量所需的、带有镜头的、光谱范围覆盖短波的光谱仪或光谱辐射计作为测量设备,使用3个及以上光谱辐射能量信息,根据普朗克黑体辐射定律建立目标温度与光谱辐射能量的关系,拟合温度T与光谱辐射能量Lλ、波长λ的关系式,即能够准确测算出目标的表面温度,从而获得目标的光谱发射率。本发明不仅能够简化测温设备,还能够提高目标光谱发射率的测量精度。
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公开(公告)号:CN111220456A
公开(公告)日:2020-06-02
申请号:CN202010233831.9
申请日:2020-03-30
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种可变压的高温材料热环境试验装置,属于环境试验技术领域。本发明包括水冷承压腔、压力控制系统、加热芯、温度控制系统、水冷系统、待测材料或器件及其检测系统。水冷承压腔的外形采用圆柱结构主要由水冷密封前盖、水冷承压桶及承压腔后密封盖组成;水冷密封前盖上分布有压力控制器连接端口、限压阀、控温及加热电极、水冷接口;承压腔后密封盖为易拆装结构,用于压紧密封块,便于被测材料或装置更换。本发明采用在可变压环境中设置加热单元,并将承压结构改进为水冷承压结构,使试验温度及压力的上限极大提高,能够实现0~7MPa及300℃~1200℃条件下的可变压的高温材料热环境试验。本发明具有结构简单、易于实现的优点。
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公开(公告)号:CN107115906B
公开(公告)日:2019-11-26
申请号:CN201710352397.4
申请日:2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: B01L3/04
Abstract: 本发明涉及一种高温共晶点预共晶灌注坩埚,属于高温共晶点技术领域。该坩埚外形为圆柱形,包括预共晶坩埚盖和预共晶坩埚主体。在预共晶坩埚主体上加工有公螺纹,预共晶坩埚盖上加工有与之匹配的母螺纹,二者通过螺纹连接。在预共晶坩埚内形成共晶体后,以倒置方式连接在共晶点坩埚上,加热后使共晶体变为熔融态,在重力作用下流入共晶点坩埚内,实现对共晶点坩埚的灌注。本发明降低了预共晶坩埚的破裂风险,避免了共晶体在预共晶坩埚与共晶点坩埚连接处造成粘连,使得预共晶坩埚能够重复利用,解决了目前采用的预共晶容器只能使用一次的问题,节约了灌注成本。
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公开(公告)号:CN107115906A
公开(公告)日:2017-09-01
申请号:CN201710352397.4
申请日:2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: B01L3/04
Abstract: 本发明涉及一种高温共晶点预共晶灌注坩埚,属于高温共晶点技术领域。该坩埚外形为圆柱形,包括预共晶坩埚盖和预共晶坩埚主体。在预共晶坩埚主体上加工有公螺纹,预共晶坩埚盖上加工有与之匹配的母螺纹,二者通过螺纹连接。在预共晶坩埚内形成共晶体后,以倒置方式连接在共晶点坩埚上,加热后使共晶体变为熔融态,在重力作用下流入共晶点坩埚内,实现对共晶点坩埚的灌注。本发明降低了预共晶坩埚的破裂风险,避免了共晶体在预共晶坩埚与共晶点坩埚连接处造成粘连,使得预共晶坩埚能够重复利用,解决了目前采用的预共晶容器只能使用一次的问题,节约了灌注成本。
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公开(公告)号:CN117490859B
公开(公告)日:2024-09-13
申请号:CN202311443478.7
申请日:2023-11-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置,所述方法包括:Sakuma方程修正步骤:将环境温度、辐射温度计零点电压、探测器响应度的温漂修正系数引入Sakuma方程,得到修正后的Sakuma方程;标定步骤:以黑体辐射源作为测量目标,使用辐射温度计在黑体辐射源的三个温度下的输出电压,联立上述修正后的Sakuma方程,求解得到三个待定系数;测试步骤:将求解得到的系数代回修正后的Sakuma方程,使用辐射温度计测量目标得到输出电压,计算出目标温度。本发明能够大幅度降低环境温度对测量结果的影响,提高辐射温度测量准确性。
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公开(公告)号:CN115390599B
公开(公告)日:2024-08-16
申请号:CN202210989168.4
申请日:2022-08-17
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G05D23/24
Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多点控温系统,属于温度控制技术领域。本发明通过分析标准光电高温计内部容易受温度影响的元件位置,将多个温控模块布置在内壳相应元件的位置上,实现对标准光电高温计的多点控温,保障标准光电高温计内部关键元件在稳定的温度环境下工作,实现标准光电高温计的高精度测温。此外,采用的温控模块根据热敏电阻随温度变化阻值随之变化的特点,热敏电阻同分压电阻组成分压电路,由预设电压可调电路设置参考电压,通过比较热敏电阻分压和参考电压大小,由比较控制电路判断后控制加热开关通断,实现对标准光电高温计加热温度的高精度控制。本发明能够基于纯模拟电路实现,能耗低、易于实现。
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公开(公告)号:CN115390599A
公开(公告)日:2022-11-25
申请号:CN202210989168.4
申请日:2022-08-17
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G05D23/24
Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多点控温系统,属于温度控制技术领域。本发明通过分析标准光电高温计内部容易受温度影响的元件位置,将多个温控模块布置在内壳相应元件的位置上,实现对标准光电高温计的多点控温,保障标准光电高温计内部关键元件在稳定的温度环境下工作,实现标准光电高温计的高精度测温。此外,采用的温控模块根据热敏电阻随温度变化阻值随之变化的特点,热敏电阻同分压电阻组成分压电路,由预设电压可调电路设置参考电压,通过比较热敏电阻分压和参考电压大小,由比较控制电路判断后控制加热开关通断,实现对标准光电高温计加热温度的高精度控制。本发明能够基于纯模拟电路实现,能耗低、易于实现。
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公开(公告)号:CN110044518A
公开(公告)日:2019-07-23
申请号:CN201910392334.0
申请日:2019-05-13
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明公开的一种用于数字温度计校准的小固定点容器及制作方法,属于温度计校准领域。本发明包括容器壳体、温度计井、抽气管。容器壳体为单层薄壁结构,内外表面均进行精密抛光,减小接触热阻,利于将炉膛的热量传导至固定点金属,促进固定点金属快速熔化。温度计井用于保证当固定点金属受热熔化时,浸入固定点金属的温度计井不会因浮力而向上移位,影响数字温度计的校准工作。温度计井与容器壳体形成一体,降低加工难度。抽气管上段管壁采用沙漏形结构,温度计井与容器壳体形成一个U形的圆柱腔,固定点金属填充在所述圆柱腔中。本发明能够实现对数字温度计进行校准,能够修正漂移和偏差,确保测量结果准确可靠。
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公开(公告)号:CN106969841B
公开(公告)日:2019-05-07
申请号:CN201710352951.9
申请日:2017-05-18
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/06
Abstract: 本发明涉及的是一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置,属于辐射测温技术领域。本发明包括光阑反射镜安装盖、光阑反射镜、光阑反射镜安装支架、光路封装筒、消杂光阑和贯通螺纹。与传统的辐射温度计测温光路安装部件相比,本发明的源尺寸效应抑制装置将光阑反射镜及之后的准直汇聚光路整体封装在密闭空间内,避免辐射温度计中其他元件产生的杂散光进入探测器。与单一的消杂光阑安装部件相比,本发明源尺寸效应抑制装置可以在不同位置安装一个或多个不同直径的消杂光阑,对源尺寸效应的抑制效果更好。
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公开(公告)号:CN106052884A
公开(公告)日:2016-10-26
申请号:CN201610366117.0
申请日:2016-05-28
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种内锥型均温靶热管黑体,属于辐射测温技术领域;该装置通过将黑体空腔(7)与热管(5)一体化设计,减小了热管与黑体空腔之间的导热损失,提高了加热效率及升温速度;在黑体空腔(7)底部放置内锥型均温靶(4),使标准热电偶与靶面之间距离尽量小,保证了靶面温度的准确性;同时,内锥型均温靶能够增加标准热电偶或铂电阻的插入深度,减小导热误差;热管(5)采用三段加热,每段的控温传感器(1)均安装在热管外壁面上,其中两段加热包裹在热管的柱体外部,第三段加热为加热盘,放置在热管的底部,分别调整三段的温度,保证黑体空腔的轴向温度场均匀。对比现有技术,本发明内追型均温靶热管黑体温度均匀性好、准确度高。
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