-
公开(公告)号：CN117490859A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311443478.7
申请日：2023-11-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置，所述方法包括：Sakuma方程修正步骤：将环境温度、辐射温度计零点电压、探测器响应度的温漂修正系数引入Sakuma方程，得到修正后的Sakuma方程；标定步骤：以黑体辐射源作为测量目标，使用辐射温度计在黑体辐射源的三个温度下的输出电压，联立上述修正后的Sakuma方程，求解得到三个待定系数；测试步骤：将求解得到的系数代回修正后的Sakuma方程，使用辐射温度计测量目标得到输出电压，计算出目标温度。本发明能够大幅度降低环境温度对测量结果的影响，提高辐射温度测量准确性。
-
公开(公告)号：CN115541028A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211080286.X
申请日：2022-09-05
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/08 , G01J5/0803 , G01J5/90
Abstract: 本发明属于测量装置技术领域，本发明具体公开了一种辐射温度计及光电探测器的动态特性测量装置。本发明动态特性测量装置包括机械快门、光栅盘、电机、测控组件、光电对管、外壳、光源组成，在外壳上设置了被测件安装座和测试孔，辐射温度计或光电探测器安装在被测件安装座上，通过测试孔瞄准光源，对辐射温度计及光电探测器的响应时间、频率特性、动态温度误差进行测量。本发明通过机械快门和光栅盘结合使用，在光栅盘处于不透光的位置打开快门，可准确判断阶跃信号的起始时刻，同时阶跃信号的上升时间控制在毫秒级，能够对毫秒级响应时间的辐射温度计或光电探测器进行测量。
-
公开(公告)号：CN117490859B
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202311443478.7
申请日：2023-11-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置，所述方法包括：Sakuma方程修正步骤：将环境温度、辐射温度计零点电压、探测器响应度的温漂修正系数引入Sakuma方程，得到修正后的Sakuma方程；标定步骤：以黑体辐射源作为测量目标，使用辐射温度计在黑体辐射源的三个温度下的输出电压，联立上述修正后的Sakuma方程，求解得到三个待定系数；测试步骤：将求解得到的系数代回修正后的Sakuma方程，使用辐射温度计测量目标得到输出电压，计算出目标温度。本发明能够大幅度降低环境温度对测量结果的影响，提高辐射温度测量准确性。
-
公开(公告)号：CN115390599B
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202210989168.4
申请日：2022-08-17
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G05D23/24
Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多点控温系统，属于温度控制技术领域。本发明通过分析标准光电高温计内部容易受温度影响的元件位置，将多个温控模块布置在内壳相应元件的位置上，实现对标准光电高温计的多点控温，保障标准光电高温计内部关键元件在稳定的温度环境下工作，实现标准光电高温计的高精度测温。此外，采用的温控模块根据热敏电阻随温度变化阻值随之变化的特点，热敏电阻同分压电阻组成分压电路，由预设电压可调电路设置参考电压，通过比较热敏电阻分压和参考电压大小，由比较控制电路判断后控制加热开关通断，实现对标准光电高温计加热温度的高精度控制。本发明能够基于纯模拟电路实现，能耗低、易于实现。
-
公开(公告)号：CN115390599A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202210989168.4
申请日：2022-08-17
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G05D23/24
Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多点控温系统，属于温度控制技术领域。本发明通过分析标准光电高温计内部容易受温度影响的元件位置，将多个温控模块布置在内壳相应元件的位置上，实现对标准光电高温计的多点控温，保障标准光电高温计内部关键元件在稳定的温度环境下工作，实现标准光电高温计的高精度测温。此外，采用的温控模块根据热敏电阻随温度变化阻值随之变化的特点，热敏电阻同分压电阻组成分压电路，由预设电压可调电路设置参考电压，通过比较热敏电阻分压和参考电压大小，由比较控制电路判断后控制加热开关通断，实现对标准光电高温计加热温度的高精度控制。本发明能够基于纯模拟电路实现，能耗低、易于实现。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118794907A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411287713.0
申请日：2024-09-14
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于超连续吸收光谱的气体温度浓度测量系统及方法，所述系统包括超连续激光光源、光纤分束器、第一～第三准直器、第一～第三光电探测器、气室、标准具和处理器，超连续激光光源输出波长连续的激光，经过光纤分束器分为三路，第一路经过第一准直器后通过第一光电探测器接收出射激光得到参考信号；第二路经过第二准直器后穿过气室并通过光电探测器接收透射激光得到吸收信号；第三路经过第三准直器后穿过标准具并通过第三光电探测器接收出射激光得到标准具信号；处理器对参考信号、吸收信号和标准具信号进行采集和处理，测量目标气体的温度和浓度。本发明可以有效地利用超连续光谱所提供的丰富吸收跃迁信息实现温度浓度的准确求解。
-
公开(公告)号：CN113984220B
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202111259718.9
申请日：2021-10-28
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明公开的一种基于等效发射率的差分黑体辐射温差修正方法，属于辐射测温技术领域。针对目前辐射温差修正方法会引入较大不确定度的问题，本方法利用标准装置测量差分黑体辐射温度，得到一组差分黑体温差设定值与差分黑体实际辐射温差值，利用基于等效发射率的方法进行设定值与实际值的修正，克服了常数系数修正法在理论上的缺陷，同时避免了温度范围变化导致的修正系数改变的问题，辐射温差和修正结果更加稳定可靠，可在差分黑体整个工作温度范围内正常使用。本方法可应用于温度测量、红外瞄具测试等领域，对辐射温差进行修正。
-
公开(公告)号：CN114509165B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202111563838.8
申请日：2021-12-20
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法，属于辐射测温技术、发射率测量技术领域。本发明的装置主要由镜头和光谱仪或光谱辐射计组成，镜头与光谱仪或光谱辐射计可以直接连接，也可以使用光纤连接。无需其他任何额外的温度测量设备或传感器，仅使用发射率测量所需的、带有镜头的、光谱范围覆盖短波的光谱仪或光谱辐射计作为测量设备，使用3个及以上光谱辐射能量信息，根据普朗克黑体辐射定律建立目标温度与光谱辐射能量的关系，拟合温度T与光谱辐射能量Lλ、波长λ的关系式，即能够准确测算出目标的表面温度，从而获得目标的光谱发射率。本发明不仅能够简化测温设备，还能够提高目标光谱发射率的测量精度。
-
公开(公告)号：CN111462216B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202010257084.2
申请日：2020-04-02
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种圆形阵列标定板中圆心像素坐标确定方法，包括：利用被标定相机拍摄得到包括圆形阵列标定板及其背景的原始图案；对原始图案进行自卷积处理，估算圆形阵列中心坐标；利用旋转直线法测量圆形阵列的倾角；测量圆形阵列相邻圆形的圆心间距；根据所得到的中心坐标、倾角、圆心间距，推演圆形阵列各圆心像素坐标；利用质心法迭代优化各圆心像素坐标。本发明能够有效提高圆形阵列的标定精度与标定效率。
-
公开(公告)号：CN111462216A
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN202010257084.2
申请日：2020-04-02
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种圆形阵列标定板中圆心像素坐标确定方法，包括：利用被标定相机拍摄得到包括圆形阵列标定板及其背景的原始图案；对原始图案进行自卷积处理，估算圆形阵列中心坐标；利用旋转直线法测量圆形阵列的倾角；测量圆形阵列相邻圆形的圆心间距；根据所得到的中心坐标、倾角、圆心间距，推演圆形阵列各圆心像素坐标；利用质心法迭代优化各圆心像素坐标。本发明能够有效提高圆形阵列的标定精度与标定效率。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
13
records
(took 0.047 seconds)
