存储器件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107845638A

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201710770958.2

    申请日:2017-08-31

    Abstract: 存储器件包括:一对公共源极线,彼此间隔开地设置在衬底上,并沿第一方向延伸;多个接地选择线,设置在所述一对公共源极线之间,沿所述第一方向延伸并且设置在相同的层面上;多个字线,设置在所述一对公共源极线之间所述多个接地选择线上,沿所述第一方向延伸并且设置在相同的层面上,所述多个字线的至少一部分通过连接电极进行连接;和多个第一分离绝缘图案,设置在所述多个接地选择线的部分的各个接地选择线之间,并且沿第一方向延伸。所述多个字线的至少一部分通过连接电极进行连接。

    垂直存储器件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106847823A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201610878702.9

    申请日:2016-10-08

    Abstract: 本公开提供了垂直存储器件。一种垂直存储器件包括:基板;多个沟道,在基板上并在垂直于基板的顶表面的第一方向上延伸;多条栅线,在基板上层叠在彼此之上;多条布线,在栅线上方并电连接到栅线;以及识别图案,在基板上处于与布线中的至少一条的层级相同的层级。栅线围绕沟道。栅线沿着第一方向彼此间隔开。

    非易失性存储器件
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101859778B

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201010163558.3

    申请日:2010-04-12

    Abstract: 本发明提供一种具有三维结构的非易失性存储器件。该非易失性存储器件可以包括:单元阵列,具有三维地布置在半导体基板上的线状的多个导电图案,单元阵列彼此分离;半导体图案,从半导体基板延伸以与导电图案的侧壁交叉;公共源极区,沿导电图案延伸的方向设置在半导体图案下部分之下的半导体基板中;第一杂质区,设置在半导体基板中,使得第一杂质区沿与导电图案交叉的方向延伸以电连接公共源极区;以及第一接触孔,暴露第一杂质区的在分离的单元阵列之间的部分。

    垂直存储器件
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111490052B

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202010142068.9

    申请日:2016-10-08

    Abstract: 本公开提供了垂直存储器件。一种垂直存储器件包括:基板;多个沟道,在基板上并在垂直于基板的顶表面的第一方向上延伸;多条栅线,在基板上层叠在彼此之上;多条布线,在栅线上方并电连接到栅线;以及识别图案,在基板上处于与布线中的至少一条的层级相同的层级。栅线围绕沟道。栅线沿着第一方向彼此间隔开。

Patent Agency Ranking