集成电路器件
    2.
    发明公开
    集成电路器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN119855227A

    公开(公告)日:2025-04-18

    申请号:CN202410884567.3

    申请日:2024-07-03

    Abstract: 一种集成电路器件,包括:衬底,具有第一表面和第二表面;鳍型有源区,在衬底的第一表面上沿第一水平方向延伸,并且包括彼此相邻的第一区域和第二区域;第一源/漏区,布置在鳍型有源区的第一区域上;第二源/漏区,布置在鳍型有源区的第二区域上;以及填充绝缘层,在第一源/漏区与第二源/漏区之间延伸,其中,第一区域包括第一导电类型,其中,第二区域包括与第一导电类型不同的第二导电类型,并且其中,第一区域与第二区域之间的边界包括基本垂直于第一水平方向并且与填充绝缘层重叠的部分。

    半导体装置
    6.
    发明公开
    半导体装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN119108428A

    公开(公告)日:2024-12-10

    申请号:CN202410738404.4

    申请日:2024-06-07

    Abstract: 一种半导体装置可包括:在第一方向和与第一方向交叉的第二方向上彼此间隔开的绝缘图案;设置在绝缘图案在第一方向上的侧表面上的衬底绝缘层;设置在绝缘图案在第二方向上的侧表面上的器件隔离层;设置在绝缘图案上并且在垂直于器件隔离层的上表面的竖直方向上彼此间隔开的多个沟道层;栅极结构,其被配置为与绝缘图案竖直地重叠并围绕多个沟道层中的每一个,并且在第二方向上延伸;设置在栅极结构外部的源极/漏极区;以及在源极/漏极区下方电连接到源极/漏极区的背面接触结构,其中,绝缘图案包括从器件隔离层的上表面沿竖直方向突出的突起,多个沟道层中最下面的沟道层的下表面与突起的上表面之间的竖直距离大于多个沟道层之间的竖直距离。

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