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公开(公告)号:CN107453012A
公开(公告)日:2017-12-08
申请号:CN201710813073.6
申请日:2017-09-11
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开一种基于金属-石墨烯混合超表面的双功能调制器,自下而上由单晶硅衬底层、二氧化硅基底层、石墨烯结构层和金属带状线结构层组成;石墨烯结构层包括2个以上的石墨烯单元;每个石墨烯单元由上凸石墨烯环、下凹石墨烯环和2个微型缝隙开口组成;所有的石墨烯单元在二氧化硅基底层上呈规则矩阵排列;金属带状线结构层包括2条以上的金属带状线;每条金属带状线均为长条状;金属带状线的数量与石墨烯结构层的列数相同,每条金属带状线纵向延伸并覆盖在石墨烯结构层对应列的所有石墨烯单元上;所有金属带状线在石墨烯结构层上呈平行排列。本发明利用金属-石墨烯超表面能够在保证调制器调制性能情况下,可以根据激励场与阵列的相对方向变化实现两种模式电磁波的调控,即实现双功能。
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公开(公告)号:CN107257242A
公开(公告)日:2017-10-17
申请号:CN201710312585.4
申请日:2017-05-05
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种惯性传感器动态信号的实时处理方法,首先,利用随机采样技术充分降低信号的采样数据;然后,通过对采样后的信号进行压缩测量,获得相应的测量值,进而利用重构算法完成对原始信号的准确重构,以提高惯性传感器动态信号输出精度。与传统方法相比,本发明能够在大大降低信号采样数据的同时,有效改善输出信号精度,从而实现惯性传感器动态信号的实时处理。
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公开(公告)号:CN104218088B
公开(公告)日:2017-09-29
申请号:CN201410333042.7
申请日:2014-07-14
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开一种基于折叠漂移区的SOI耐压结构及功率器件,包括自下而上依次叠放的衬底层、介质埋层和有源层,所述有源层内还设有叉指介质槽;该叉指介质槽由至少一个从有源层表面向下延伸的下延介质槽和至少一个从介质埋层表面向上延伸的上延介质槽构成;其中下延介质槽和上延介质槽的高度均小于有源层的厚度,且下延介质槽和上延介质槽在有源层内相互交错设置,每2个相邻的下延介质槽和/或上延介质槽之间存在间隙。本发明通过在功率器件半导体有源层和介质埋层之间设置有多个叉指介质槽来提高横向和纵向耐压,并使得器件的阻断特性获得显著改善。
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公开(公告)号:CN104269403B
公开(公告)日:2017-08-22
申请号:CN201410564342.6
申请日:2014-10-22
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: H01L27/092
Abstract: 本发明公开一种线性间距分布固定电荷岛SOI耐压结构及功率器件,包括自下而上依次叠放的衬底层、介质埋层、有源层、以及多个浓度大于等于1×1013cm‑2的高浓度固定电荷区;这些高浓度固定电荷区由介质材料形成,且电荷极性为正;这些高浓度固定电荷区均位于介质埋层上部,且相互之间呈间断设置;在横向耐压方向上,每2个高浓度固定电荷区之间的间距呈线性递减或递增。本发明不仅可以大大提高介质埋层电场,从而有效提高耐压;而且工艺实现简单,与常规CMOS工艺完全兼容。
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公开(公告)号:CN104617019B
公开(公告)日:2017-06-27
申请号:CN201510058652.5
申请日:2015-02-04
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开一种GaAs衬底MHEMT栅凹槽腐蚀监控方法,其采用电子束光刻胶做掩膜,对样品进行不同栅长阵列曝光,显影出需要腐蚀的栅凹槽条,将样品分裂成6个小样品分别对其不同时间的栅凹槽腐蚀实验,利用原子力显微镜测试腐蚀栅凹槽的深度,利用扫描电子显微镜观察栅凹槽表面腐蚀形貌的平整度,达到快速找出对应不同栅长下的最佳腐蚀时间,实现简单的栅凹槽腐蚀监控。本发明具监控精确、直观形象、对器件影响小和适用范围广的特点,改善了以往一直以来利用电流曲线监控栅凹槽腐蚀的不足。
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公开(公告)号:CN106299564A
公开(公告)日:2017-01-04
申请号:CN201610963317.4
申请日:2016-10-27
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: H01P1/208
CPC classification number: H01P1/208
Abstract: 本发明公开一种基于微腔耦合结构的等离子体弯曲波导滤波器,包括金属薄膜、以及开设在金属薄膜上的弯曲波导和谐振腔。弯曲波导由入射波导、中间波导和出射波导组成。谐振腔位于中间波导的其中一侧和/或两侧。本发明将直波导变成两个直角组成的弯曲波导,这样中间的中间波导可以形成一个F-P腔;并且在中间的中间波导的两侧增加两个矩形谐振腔,利用表面等离激元SPP与谐振腔的共振耦合作用,通过调节谐振腔的长度,实现等离激元滤波功能;此外,还可以通过调节谐振腔与波导的间距、谐振腔的长度以及谐振腔的个数,来实现滤波和电磁感应透明效应,并能体现一种特殊的耦合效果。
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公开(公告)号:CN105161398A
公开(公告)日:2015-12-16
申请号:CN201510394642.9
申请日:2015-07-07
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: H01L21/02
CPC classification number: H01L21/02052
Abstract: 本发明公开了一种GaAs(111)晶圆的清洗方法。该方法为:将GaAs(111)衬底用有机溶剂处理以除去表面油污及有机物;然后置于双氧水中浸泡,取出,去离子水清洗后再置于盐酸中浸泡,取出,去离子水清洗;所得GaAs(111)衬底重复双氧水浸泡—去离子水清洗—盐酸浸泡—去离子水清洗步骤至少1次。本发明先用双氧水牺牲氧化GaAs(111)表面,得到规整的自然氧化层;再用盐酸腐蚀,由于GaAs表面的自然氧化层是规整的,因而可以有效去除表面质量不好的GaAs缺陷,使GaAs表面氧化物数量和粗糙度都大幅下降。采用该清洗方法配合硫化铵溶液钝化,可长时间的阻挡空气中氧气对洁净GaAs(111)表面的氧化。
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公开(公告)号:CN105140155A
公开(公告)日:2015-12-09
申请号:CN201510414886.9
申请日:2015-07-15
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: H01L21/67
CPC classification number: H01L21/67092
Abstract: 本发明公开了一种用于GaAs MMIC减薄工艺的粘片方法,包括在衬底正面匀涂电子束光刻胶的步骤、用液态蜡将衬底正面粘贴在石英托上的步骤,其中:所述的液态蜡是由一定量的Crystalbond 509强力粘合剂以及能够溶解所述Crystalbond 509强力粘合剂用量的丙酮组成。本发明采用特殊配方组成的液态蜡代替传统的高温蜡,在使用过程中不需要增加其它阻隔层即可避免因光刻胶和高温蜡的互溶而产生的较难去除的有机物;其次,由于液态蜡和光刻胶均易溶于丙酮,解决了传统工艺中用高温蜡粘片时去胶慢去胶难的问题;再者,还能使衬底和石英托之间具有优良的粘附性,有效地解决了后续抛光和减薄过程中的碎片问题。
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公开(公告)号:CN105018025A
公开(公告)日:2015-11-04
申请号:CN201510412159.9
申请日:2015-07-15
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: C09J191/06
Abstract: 本发明公开了一种GaAs MMIC减薄工艺中粘片用的液态蜡,它是由一定量的Crystalbond 509强力粘合剂以及能够溶解所述Crystalbond 509强力粘合剂用量的丙酮组成。本发明用Crystalbond 509强力粘合剂溶于丙酮中所得的液态蜡代替传统粘片工艺中使用的高温蜡,在液态蜡和光刻胶接触部分不会产生互溶问题,避免了因光刻胶和高温蜡的互溶而产生的较难去除的有机物;其次,由于液态蜡和光刻胶均易溶于丙酮,分离时只需要采用丙酮溶液浸泡即可,解决了传统工艺中用高温蜡粘片时去胶慢去胶难的问题;再者,本发明所述液态蜡具有极强的粘附性,有效地解决了后续抛光和减薄过程中的碎片问题。
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公开(公告)号:CN104637941A
公开(公告)日:2015-05-20
申请号:CN201510057805.4
申请日:2015-02-04
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: H01L27/04
Abstract: 本发明公开一种复合沟道MHEMT微波振荡器及其制备方法,器件采用复合沟道结构,离子注入与湿法腐蚀相结合的台面隔离,Ni/AuGe/Ni/Au的源漏金属化系统形成欧姆接触,利用两次自对准电子曝光束,一次显影的三层胶工艺制造T型栅,两种不同的腐蚀液腐蚀形成栅凹槽,蒸Pt/Ti/Pt/Au金属化系统于栅凹槽形成肖特基接触,退火处理形成埋Pt技术,生长氮化硅钝化层,完成器件的制备。该发明工艺简单,器件可靠性强,便于重复。利用本发明制备出80nm栅长的器件获得了优异的直流性能和交流性能,最大输出饱和电流达到920mA/mm,非本征跨导达到1100mS/mm。器件的特征频率达到246GHz,最大振荡频率为301GHz。
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