用于相变存储器的加热电极材料及制备方法

    公开(公告)号:CN1825649B

    公开(公告)日:2011-07-20

    申请号:CN200610023390.X

    申请日:2006-01-18

    Abstract: 本发明涉及可用于相变存储器的加热电极材料及制备方法;所述的加热电极材料为至少含Ge元素的加热电极材料,通式为GexWyN1-x-y、GexTiyN1-x-y、GexWyO1-x-y、GexTiyO1-x-y等材料中的一种,式中的x和y是指元素的原子百分比,且满足:0<x≤1;0≤y<1;0<x+y≤1;所述的相变存储器加热电极材料制备所采用的工艺为溅射法、蒸发法、原子层沉积法、化学气相沉积法、金属有机物热分解法或激光辅助沉积法中任意一种;与传统的相变存储器电极材料W、TiN、TiON和TiAlN等相比,Ge基加热电极材料具有与相变材料黏附性好、电阻高等优点,可提高器件的加热效率,降低器件的功耗。

    电阻存储器装置
    83.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101794863A

    公开(公告)日:2010-08-04

    申请号:CN201010127277.2

    申请日:2010-03-18

    Abstract: 本发明揭示了一种电阻存储器装置,所述装置包含一对电极,电极对之间是存储材料;存储材料由两种以上的固体混合而成,其中至少有一固体具备相变能力,至少有一固体不具备相变能力;所述存储器装置在电信号的作用下能够实现器件在高、低电阻之间的转换。本发明的电阻存储器中的存储材料中包含一种及一种以上的相变材料,此外还包含不具备相变能力的功能材料;本发明能够将器件的功耗进一步地缩小,且提升热稳定性。

    制备相变材料的溅射靶材的方法

    公开(公告)号:CN101665916A

    公开(公告)日:2010-03-10

    申请号:CN200910196760.3

    申请日:2009-09-29

    Abstract: 本发明提供一种制备相变材料的溅射靶材的方法,其首先将已使用过的具有孔隙的相变材料溅射靶材通过抛光工艺去除其表面的氧化物和杂质,再采用去离子水清洗已经过抛光处理的溅射靶材,接着将经过清洗后的溅射靶材放入真空炉中烘干,最后将与所述溅射靶材同材质的靶材粉末填充在经过烘干的溅射靶材的孔隙中,然后再将所述溅射靶材放在真空热压烧结炉中进行热压烧结以制备出新的相变材料的溅射靶材,如此可有效降低生产成本,避免资源的浪费。

    一种无碲存储材料、制备方法及应用

    公开(公告)号:CN100582002C

    公开(公告)日:2010-01-20

    申请号:CN200710040302.1

    申请日:2007-04-29

    Abstract: 本发明涉及一种无碲存储材料、制备方法及应用。其特征在于所述的存储材料为硅-锑混合物,组成通式为SixSb100-x,0<x<90,优先推荐组成为5≤x≤70。所述的材料在外部能量作用下为电驱动、激光脉冲驱动或电子束驱动。通过调整这种材料中两种元素的组份,可以得到具有不同结晶温度、熔点和结晶激活能的存储材料。所提供的材料体系具备如下优点:较好的可调性、较强的数据保持能力、较简单的成份和制备工艺、对半导体设备没有污染、较好的可加工性、环境友好性等,具有广阔的应用前景。硅-锑合金材料是用于存储器的理想存储介质。

    一种制作相变存储器用的湿法刻蚀液及其湿法刻蚀工艺

    公开(公告)号:CN100517065C

    公开(公告)日:2009-07-22

    申请号:CN200610024251.9

    申请日:2006-03-01

    Abstract: 本发明涉及一种制作相变随机存储器用的湿法刻蚀液及其湿法刻蚀工艺,其刻蚀液的组成为:酸溶液为1~30%,氧化剂为0.5%~10%,络合剂为0.05%~10%,表面活性剂0.1~5%(均为wt%),余量为去离子水。湿法刻蚀工艺步骤为:(1)清洗氧化硅片,依次沉积Ti或TiN,Pt或Au,以及相变材料膜;(2)在相变薄膜上光刻成图形;(3)沉积金属Pt或Au;(4)用剥离工艺去除曝光之外的金属Pt或Au;(5)用刻蚀液刻蚀相变材料;(6)沉积SiO2,形成的器件结构。本工艺充分利用刻蚀液的正向和侧向刻蚀,在有效控制刻蚀速率的条件下,用微米加工工艺制作了纳米相变存储器结构;制作之后离子对器件无污染,便于清洗、加工和废液处理成本低。

    双浅沟道隔离的双极型晶体管阵列的制造方法

    公开(公告)号:CN101339921A

    公开(公告)日:2009-01-07

    申请号:CN200810041516.5

    申请日:2008-08-08

    Abstract: 本发明涉及双浅沟道隔离(dual-STI)的双极型晶体管阵列的制造方法,其特征在于制造方法中,避免了选择性外延法,在第一导电类型的衬底上制造形成较深的STI,在STI的侧壁和底部均匀沉积含有易扩散的第二导电类型原子材料;去除沉积在STI槽口附近的含有易扩散的第二导电类型原子材料;退火使上述材料中的第二导电类型原子扩散到位线中,形成对位线的第二导电类型重掺杂;随后通过刻蚀将因第二导电类型原子扩散而相互连接的位线分隔开,使位线之间电学不导通;通过离子注入和光刻在上述独立位线上方形成独立的双极型晶体管,同一位线上的晶体管并用较浅的STI分隔开。本发明还包含基于上述双浅沟道隔离双极型晶体管选通的相变存储器的制造方法。

    一种纳米复合相变材料的制备方法

    公开(公告)号:CN101299454A

    公开(公告)日:2008-11-05

    申请号:CN200810038907.1

    申请日:2008-06-13

    Abstract: 本发明涉及一种纳米复合相变材料的制备方法。特征在于利用相变材料中各个原素之间不同的化学性能,在相变材料制备过程中通入适量反应气体,使相变材料中的一种或者多种元素在材料生长过程中优先与反应气氛反应并形成固体化合物,与反应剩余相变材料形成复合材料:化合物将相变材料分隔成形状和大小可控的、均匀的、微小的区域,从而把相变材料的相变行为限制在小区域内,减小了相变材料的晶粒;同时因为形成的固体化合物与相变材料间“取长补短”,充分弥补了单一材料的缺点,产生了单一材料所不具备的优越的性能。纳米复合相变材料应用到相变存储器中,不仅提升了相变存储器的加热效率,降低了器件的功耗,而且又提高了器件存储速度、数据保持能力等。

    一种无碲存储材料、制备方法及应用

    公开(公告)号:CN101049934A

    公开(公告)日:2007-10-10

    申请号:CN200710040302.1

    申请日:2007-04-29

    Abstract: 本发明涉及了一种无碲存储材料、制备方法及应用。其特征在于所述的存储材料为硅-锑混合物,组成通式为SixSb100-x,0<x<90,优先推荐组成为5≤x≤70。所述的材料在外部能量作用下为电驱动、激光脉冲驱动或电子束驱动。通过调整这种材料中两种元素的组份,可以得到具有不同结晶温度、熔点和结晶激活能的存储材料。所提供的材料体系具备如下优点:较好的可调性、较强的数据保持能力、较简单的成份和制备工艺、对半导体设备没有污染、较好的可加工性、环境友好性等,具有广阔的应用前景。硅-锑合金材料是用于存储器的理想存储介质。

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