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公开(公告)号：CN112213565A
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202010817266.0
申请日：2020-08-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及电磁检测技术领域，公开了一种电磁场无源探头和探测系统。利用所述第一探测环路测量得到第一射频信号、所述第二探测环路测量得到第二射频信号。由于所述第一探测环路和所述第二探测环路位于所述电磁场无源探头上的不同位置，因此所述第一探测环路和第二探测环路所测量得到的所述第一射频信号和所述第二射频信号分别为磁场中不同位置的信号。通过所述信号传输部将所述第一射频信号和所述第二射频信号以预设特性阻抗的形式传输出去。所述外部分析设备接收所述第一射频信号和所述第二射频信号，可以针对在不同磁场位置测量获得的所述第一射频信号和所述第二射频信号进行分析，计算获取更加精准的磁场参数。
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公开(公告)号：CN109596914A
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201811416586.4
申请日：2018-11-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/001
Abstract: 本申请涉及一种电子元器件测试方法、装置、系统和存储介质。所述方法包括：在预设周期到来时，向信号采集设备发送同步信号，并接收信号采集设备基于同步信号反馈的各光信号；预设周期为用于传输给待测电子元器件的脉冲信号的脉冲周期；同步信号用于指示信号采集设备在相应的预设采集时长内、对待测电子元器件进行光信号采集；对各光信号进行叠加处理，并依据叠加的结果定位待测电子元器件的静电放电通道，因此，本申请电子元器件测试方法能够准确地采集待测电子元器件的光信号，避免了噪声过大而导致的难于分辨有效光信号的问题，通过准确采集的光信号实现待测电子元器件的静电放电通道的精确定位，以为改善电子元器件的设计提供测试基础。
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公开(公告)号：CN119827939A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202510094757.X
申请日：2025-01-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种功率器件动态导通电阻检测方法、系统、设备、存储介质及程序产品，应用于功率器件动态导通电阻检测系统，功率器件动态导通电阻检测系统包括上位机、控制器、双脉冲测试电路和信号采集器，其中，双脉冲测试电路安装有被测氮化镓功率器件；方法包括：在被测氮化镓功率器件的测试温度满足预设测试条件的情况下，通过控制器向双脉冲测试电路发送多组双脉冲测试信号；通过信号采集器采集被测氮化镓功率器件在多组双脉冲测试信号下的多组电气测试参数；通过上位机基于多组电气测试参数，检测被测氮化镓功率器件的导通电阻。采用本方法提升进行功率器件动态导通电阻检测的检测准确性。
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公开(公告)号：CN119714393A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411862129.3
申请日：2024-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种近红外光电探测器性能测试方法、装置以及设备。所述方法包括：在对目标探测器进行性能测试的过程中，获取多种测试策略对应的测试参数，根据各测试参数分别对目标探测器进行性能测试，可以得到各测试参数对应的性能参数，根据各性能参数能够确定目标探测器的性能测试结果，其中，多种测试策略包括应力测试、脉冲光响应测试以及噪声测试中的至少两种。采用本方法能够提高测试的准确性。
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公开(公告)号：CN119555711B
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202510120710.6
申请日：2025-01-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种材料均匀性的自动化检测方法和计算机设备，所述方法包括：设置X射线发射器的电压、电流和曝光时间条件，并且设置待测材料的观察区域和均匀性判定标准；对探测器表面直接照射X射线，获得空场探测图像像素点灰度值：将待测材料放置在探测器表面，对探测器表面照射X射线，获得满场探测图像像素点灰度值；根据空场探测图像的像素点灰度值和满场探测图像的像素点灰度值，计算获取待测材料在观察区域的变异系数；将观察区域的变异系数与所设置的均匀性判定标准进行对比，当变异系数低于判定标准时判断材料均匀性满足要求，否则判断材料均匀性不合格。本发明能够对材料不同区域的致密性、厚度的一致性等进行快速检验判断。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119667452A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202510200107.9
申请日：2025-02-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28 , G01M11/00 , G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习的硅基光互连芯片动态评估系统，涉及芯片评估技术领域，该系统公开了基本性能分析模块、光学器件筛查模块、光学器件评估模块、动态评估模块，设置光学器件筛查模块、光学器件评估模块以及动态评估模块，在开启光学器件筛查工作后，通过构建一个硅基光互连芯片的模拟模型，可以模拟硅基光互连芯片在当前性能参数下各光学器件可能的性能表现，综合分析每个光学器件的测试评估需求，根据测试评估需求的动态筛选以及排序光学器件的测试评估顺序，不再需要对每个光学器件进行测试评估，可以快速确定硅基光互连芯片中的异常光学器件，提高光学器件的测试评估精度与效率。
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公开(公告)号：CN119555711A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202510120710.6
申请日：2025-01-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种材料均匀性的自动化检测方法和计算机设备，所述方法包括：设置X射线发射器的电压、电流和曝光时间条件，并且设置待测材料的观察区域和均匀性判定标准；对探测器表面直接照射X射线，获得空场探测图像像素点灰度值：将待测材料放置在探测器表面，对探测器表面照射X射线，获得满场探测图像像素点灰度值；根据空场探测图像的像素点灰度值和满场探测图像的像素点灰度值，计算获取待测材料在观察区域的变异系数；将观察区域的变异系数与所设置的均匀性判定标准进行对比，当变异系数低于判定标准时判断材料均匀性满足要求，否则判断材料均匀性不合格。本发明能够对材料不同区域的致密性、厚度的一致性等进行快速检验判断。
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公开(公告)号：CN119085879B
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411570985.1
申请日：2024-11-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种反射率热成像测试精度提升方法和计算机设备，所述方法包括：预先设置待测试器件的电信号加载条件、测试时间、测试循环次数；使器件处于未加载电信号状态，并使器件的温度处于初始状态温度；通过外置电源为器件进行电信号加载；达到预先设置的测试时间时，采集器件待测试区域的光反射率，计算得到温度升高数据；使器件从加载电信号状态切换至未加载电信号状态，通过液冷系统对器件进行降温，外置同步风冷模块对器件待测试区域快速降温；通过待测试区域的光反射率测试对比，判断器件降低至初始温度后，再次启动器件进入下次测试，对每次测试的温度升高数据求均值，作为最终的温度升高数据。本发明能够提高反射率热成像测试的精度和效率。
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公开(公告)号：CN119416720A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411483652.5
申请日：2024-10-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/36 , G06F119/02 , G06F119/08 , G06F119/14
Abstract: 本申请涉及一种双极型运算放大器的可靠性预计模型的构建方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。方法包括：对晶体管进行恒定应力加速寿命试验，获得归一化β值随时长的变化关系数据，对变化关系数据进行参数拟合，获得晶体管的加速退化系数、时间幂系数和待定系数，并建立晶体管的退化轨迹模型，建立差分输入结构的电路仿真模型，正交试验获得归一化β值对双极型运算放大器的输入失调电压的影响数据；根据影响数据，建立归一化β值与双极型运算放大器的输入失调电压之间的映射关系；利用退化轨迹模型和映射关系，建立双极型运算放大器的可靠性预计模型。采用本方法能够提高双极型运算放大器的可靠性预计准确率和效率。
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公开(公告)号：CN119276351A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411270105.9
申请日：2024-09-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H04B10/077 , H04B10/079 , G01M11/02
Abstract: 本申请涉及一种调制器故障定位方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：控制光频域反射设备，向待测调制器出射第一光线，得到待测调制器的反射光谱数据；根据反射光谱数据，确定待测调制器中的故障区域；控制激光器向待测调制器的故障区域出射第二光线；控制光发射显微设备采集故障区域在第二光线下的照射图像；根据照射图像，确定故障区域中的故障位置。采用本方法能够通过光频域反射设备粗略确定出待测调制器中的故障区域，再通过光发射显微设备精准确定出待测调制器中的故障位置，提高了待测调制器中故障定位的准确性和定位效率。
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