公开(公告)号：CN112213565B

公开(公告)日：2022-12-09

申请号：CN202010817266.0

申请日：2020-08-14

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 邵伟恒 ,  方文啸 ,  黄权 ,  王磊 ,  黄云 ,  路国光 ,  黄鹏程

IPC: G01R29/08

Abstract: 本发明涉及电磁检测技术领域，公开了一种电磁场无源探头和探测系统。利用所述第一探测环路测量得到第一射频信号、所述第二探测环路测量得到第二射频信号。由于所述第一探测环路和所述第二探测环路位于所述电磁场无源探头上的不同位置，因此所述第一探测环路和第二探测环路所测量得到的所述第一射频信号和所述第二射频信号分别为磁场中不同位置的信号。通过所述信号传输部将所述第一射频信号和所述第二射频信号以预设特性阻抗的形式传输出去。所述外部分析设备接收所述第一射频信号和所述第二射频信号，可以针对在不同磁场位置测量获得的所述第一射频信号和所述第二射频信号进行分析，计算获取更加精准的磁场参数。

公开(公告)号：CN112213565A

公开(公告)日：2021-01-12

申请号：CN202010817266.0

申请日：2020-08-14

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 邵伟恒 ,  方文啸 ,  黄权 ,  王磊 ,  黄云 ,  路国光 ,  黄鹏程

IPC: G01R29/08

Abstract: 本发明涉及电磁检测技术领域，公开了一种电磁场无源探头和探测系统。利用所述第一探测环路测量得到第一射频信号、所述第二探测环路测量得到第二射频信号。由于所述第一探测环路和所述第二探测环路位于所述电磁场无源探头上的不同位置，因此所述第一探测环路和第二探测环路所测量得到的所述第一射频信号和所述第二射频信号分别为磁场中不同位置的信号。通过所述信号传输部将所述第一射频信号和所述第二射频信号以预设特性阻抗的形式传输出去。所述外部分析设备接收所述第一射频信号和所述第二射频信号，可以针对在不同磁场位置测量获得的所述第一射频信号和所述第二射频信号进行分析，计算获取更加精准的磁场参数。