-
公开(公告)号：CN103185734B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201110457151.6
申请日：2011-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/087
CPC classification number: G01N23/087 , G01N2223/402 , G01N2223/507 , G01T1/22
Abstract: 公开了一种测量物体的有效原子序数的方法和设备。该设备包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。由于切伦科夫探测器能够消除特定阈值下的X射线束的影响，所以提高了物质识别的准确度。
-
公开(公告)号：CN103718016A
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201280037280.2
申请日：2012-06-20
Applicant: 因格瑞恩股份有限公司
Inventor： N.德治
IPC: G01N9/24 , G01N23/087
CPC classification number: G01N23/087 , G01N9/24
Abstract: 本发明提供一种用X射线计算机断层显像技术估算岩样或钻井岩心等物体的有效原子序数和体积密度的方法。该方法能有效地补偿CT扫描数据判读中的误差，并能产生与实际体积密度值相比具有较低剩余误差的体积密度值以及与物理观测结果一致的体积密度-有效原子序数趋势。
-
公开(公告)号：CN102590239B
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201110456638.2
申请日：2007-10-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 公开了一种在液态物品检查系统中确定CT扫描位置的方法和设备。首先对DR图像的高低能数据进行融合和平滑，得到噪声较小的单值DR图像。然后，提取平滑后DR图像中的被检液态物品部分，去除空气部分，提取平滑后DR图像中的水平边缘像素。接下来提取平滑后DR图像中的水平边缘行，对DR图像进行垂直分区，并排除非液体区域，确定液体区域的CT扫描位置。
-
公开(公告)号：CN102162798B
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201010621641.0
申请日：2007-10-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/087 , G01N23/04
Abstract: 公开了一种通过双能螺旋CT对液态物品进行检查的方法及设备。从射线源发出高能和低能X射线；探测并采集穿透至少一件被检液态物品的高能和低能X射线；承载被检液态物品围绕轴转动，并且能够升降，使得被检液态物品进入检测区域，从而由射线源发出的高能和低能射线能够透过被检液态物品；对被检液态物品进行双能螺旋CT扫描，来形成每个均表示被检液态物品的至少一种物理属性值的一组螺旋CT图像；分析该组螺旋CT图像以确定液体的螺旋CT图像部分；以及基于所述物理属性值和该液态物品的参考物理属性值来判断所述被检液态物品是否是危险品。本发明能够对液态物品进行快速检查。
-
公开(公告)号：CN102175698B
公开(公告)日：2013-09-04
申请号：CN201010621626.6
申请日：2007-11-15
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 本发明公开了一种物质识别系统中创建分类曲线的方法和设备，该方法包括步骤：针对多种标定材料中的每种标定材料：用高能射线和低能射线照射各种厚度下标定材料来获得相应的高能透明度和低能透明度；将高能透明度的第一函数作为横坐标，将低能透明度和高能透明度二者的第二函数作为纵坐标来形成标定材料在不同厚度下的点；以及基于所述的点形成所述分类曲线。利用本发明，不仅能够获得被检查物体的透射图像，而且能够获得被检查物体中的材料信息。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102781595A
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：CN201080053029.6
申请日：2010-11-24
Applicant: 戈达·文卡塔·拉玛那
Inventor： 戈达·文卡塔·拉玛那
IPC: B07C5/34 , G01N23/12 , G01N23/087
CPC classification number: B07C5/346
Abstract: 一种用于从矿物中分拣杂质的设备，包括一矿物进料设备，设置提供矿物至一细长溜槽，其以一倾斜位置与矿物进料设备连接，用于使矿物自由掉落在一探测区域。所述设备进一步包括一X射线生成器，生成至少两条准直X射线，即低、高准直X射线，以至准直X射线穿过在探测区域自由掉落的矿物，用于被其部分吸收。设备进一步包括一多能源X射线传感器阵列，以感测剩余的低、高能量X射线，并发送一信号数据至一电子模块，以生成一比较阀用于确定自自由掉落的矿物中的杂质，并依据一存储的起点阀值来分拣杂质，以及发送一处理信号至一歧管装置，其具有多个弹射器以产生气动压力，用于从矿物中分拣杂质。
-
公开(公告)号：CN102590239A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201110456638.2
申请日：2007-10-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 公开了一种通过双能CT成像来对液态物品进行快速安全检查的方法及设备。首先借助CT扫描和双能重建方法，获得包含被检液体物理属性的一层或多层CT图像；然后通过图像处理和分析方法，从CT图像中获取每一件被检液体的物理属性值；最后将所获得的物理属性值和该液态物品的参考物理属性值进行比较，判断被检液态物品是否藏有毒品。其中，CT扫描方法既包括常规的断层CT扫描技术，也可用螺旋CT扫描技术实现；在使用常规断层CT扫描技术时，既可设置一系列特定的位置进行扫描，也可借助DR图像由操作员指定扫描位置，还可以通过对DR图像的自动分析来确定液体部分的位置，引导CT扫描。
-
公开(公告)号：CN101732057A
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200910224969.6
申请日：2009-11-26
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/00 , G01N23/087 , G01N23/04
CPC classification number: G06F19/321 , A61B6/032 , A61B6/482 , G06F19/00 , G16H40/63
Abstract: 提供用于显示多能量数据的系统和方法和计算机指令。某些方法包括：从可操作地连接的数据源接收多能量数据；经由图形用户界面将所述多能量数据显示为图像；在所显示的图像中选择感兴趣区域；以及经由所述图形用户界面显示关于所述感兴趣区域的信息。某些方法包括：(1)显示包括描绘放射密度对能级的衰减线的图表；(2)显示感兴趣区域和/或对其分割的结果的材料密度图表；(3)在被配置为能够关于界面移动的视窗中显示信息。某些实施例包括：从可操作地连接的数据源接收多能量数据；经由图形用户界面将所述多能量数据显示为融合图像。
-
公开(公告)号：CN101592622A
公开(公告)日：2009-12-02
申请号：CN200910088496.1
申请日：2009-07-03
Applicant: 公安部第一研究所 , 北京中盾安民分析技术有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 一种具有真实双能量的多视角X射线行李爆炸物自动探测装置，包括系统控制及信号处理电路单元、综合处理计算机、探测单元、输送机和输送通道；其中，探测单元装设于输送通道中，且包括采用真实双能量X射线探测方式的左侧底照视角模块以及均采用一源两探双能量X射线探测方式的左侧顶照视角模块和右侧底照视角模块。应用时，输送机将行李送入输送通道中，利用三视角X射线对行李进行透射扫描，所述探测器接收信号并传送给系统控制及信号处理电路单元处理，传送给综合处理计算机，而在该综合处理计算机中对行李中爆炸物进行自动探测，并将探测结果在综合处理计算机上显示出来。本发明优点在于探测精度高、探测速度快、探测灵敏度高，抗干扰能力强。
-
公开(公告)号：CN101435783A
公开(公告)日：2009-05-20
申请号：CN200710177405.2
申请日：2007-11-15
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/087 , G01N23/10
CPC classification number: G01N23/04 , G01N23/087 , G01N2223/423
Abstract: 公开了一种物质识别方法和设备，该方法包括步骤：用高能射线和低能射线透射被检物体，以获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像，所述高能图像中的每个像素的值表示高能射线对被检物体的相应部分的高能透明度，而所述低能图像中每个像素的值表示低能射线对被检物体的相应部分的低能透明度；针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度的第二函数的值；以及通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型。利用本发明，不仅能够获得被检查物体的透射图像，而且能够获得被检查物体中的材料信息。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
165
records
(took 0.036 seconds)
