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公开(公告)号：CN106645248A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201710006148.X
申请日：2017-01-05
Applicant: 东南大学
IPC: G01N23/223 , G01T1/36
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/1016 , G01N2223/507 , G01T1/368
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的多道脉冲幅度分析器，用于能量色散型X射线荧光光谱仪中数据的采集和处理，包括信号调理电路、AD转换电路、FPGA和通讯电路，所述信号调理电路、AD转换电路、FPGA和通讯电路依次连接；所述FPGA内部设有AD控制模块、主控制模块、通讯模块、RAM模块、滤波模块，所述主控制模块分别与AD控制模块、通讯模块、RAM模块和滤波模块连接，所述RAM模块还与通讯模块连接；所述AD控制模块与AD转换电路连接，所述通讯模块与通讯电路连接；所述RAM模块采用双RAM结构，提高系统处理速度，降低出错率；所述FPGA实现数字滤波和峰值识别，降低系统复杂度，提高系统的稳定性和可靠性。
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公开(公告)号：CN103185734A
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201110457151.6
申请日：2011-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/087
CPC classification number: G01N23/087 , G01N2223/402 , G01N2223/507 , G01T1/22
Abstract: 公开了一种测量物体的有效原子序数的方法和设备。该设备包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。由于切伦科夫探测器能够消除特定阈值下的X射线束的影响，所以提高了物质识别的准确度。
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公开(公告)号：CN106645251A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611178814.X
申请日：2016-12-19
Applicant: 宁波出入境检验检疫局检验检疫技术中心
Inventor： 王晓娟
IPC: G01N23/225 , G01T1/36
CPC classification number: G01N23/2252 , G01N2223/079 , G01N2223/102 , G01N2223/507 , G01T1/368
Abstract: 本发明公开了一种快速鉴别天然彩色棉的方法，其特征在于所述方法是采用扫描电镜和X射线能谱仪对待测样品进行检测，得到所述待测样品的EDS图谱，若待测样品EDS图谱中出现钾元素特征峰，则判别为天然彩色棉；若待测样品EDS图谱中没有出现钾元素特征峰，则判别为染色棉。本发明提供的一种对天然彩色棉进行鉴别的方法，将EDS图谱中K元素谱峰作为特征谱峰，通过判断EDS图谱中是否含有K元素特征谱峰判断天然彩色棉的真伪。再通过ICP‑MS方法为该法作为辅证。该鉴别方法需要样品量少，样品前处理简单，测试时间短，具有使用价值，适宜于天然彩色棉和染色棉的鉴别。本发明方法免去复杂的样品提取步骤，方法简便、快速。
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公开(公告)号：CN103083028A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201210415893.7
申请日：2012-10-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/247 , A61B6/037 , A61B6/4233 , G01N2223/419 , G01N2223/507 , G01T1/249 , G01T7/005
Abstract: 本发明提供一种用于成像系统的检测器模块和制造方法。一种检测器模块包含：基板、耦合到基板的直接转换传感器材料以及电耦合到直接转换传感器材料并且配置为提供由直接转换传感器材料生成的电信号的读出的柔性互连。检测器模块还包含至少一个照明源，用于照明直接转换传感器材料。
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公开(公告)号：CN108760788A
公开(公告)日：2018-11-06
申请号：CN201810535214.7
申请日：2018-05-30
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
IPC: G01N23/225
CPC classification number: G01N23/225 , G01N2223/507
Abstract: 本发明公开了一种原位力‑磁耦合实验装置和实验方法。该实验装置的磁场施加装置内置于应力加载装置的结构，分别通过两端夹具和两个磁回路对样品杆进行力‑磁耦合加载，同时通过对称式测量几何布局进行原位力‑磁耦合实验测量。该实验方法根据样品杆形状选取磁场施加装置组装方式，通过布局角度调节射线源和探测器在应力加载装置两侧的对称分布布局，在该对称式测量几何布局下，分别通过应力加载装置和磁场施加装置对样品杆同步进行应力和磁场加载，同时通过探测器收集来自样品杆的射线信号。该实验装置具有小型化、布局灵活的优点，该实验方法适用于铁磁材料宏观性能响应和内部微观结构演化的实时探测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108132267A
公开(公告)日：2018-06-08
申请号：CN201711251653.7
申请日：2017-12-01
Applicant: 马尔文帕纳科公司
Inventor： 古斯塔夫·克里斯蒂安·布龙斯 , 彼得罗内拉·埃米伦蒂安娜·赫格曼
IPC: G01N23/22
CPC classification number: G01N23/223 , B22F3/1055 , B33Y10/00 , B33Y80/00 , G01N2223/076 , G01N2223/316 , G01N2223/507 , G21K1/02 , G21K1/025 , G21K2207/00 , Y02P10/295 , G01N23/22
Abstract: 本公开涉及但不限于用于X射线测量的锥形准直器。X射线装置包括用于支撑样品(6)的样品台(4)、X射线源(2)以及能量扩散X射线检测器(8)。锥形X射线准直器(10)被设置在样品和X射线源之间或者在样品和能量扩散X射线检测器之间，该锥形X射线准直器包括围绕中心轴同中心布置的多个截锥，该截锥具有在样品上界定中心测量斑点的公共锥顶。
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公开(公告)号：CN108490011A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201810186946.X
申请日：2018-03-07
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N23/22
CPC classification number: G01N23/22 , G01N2223/07 , G01N2223/507
Abstract: 一种透射电镜块体样品已检测区域的定位方法，通过对透射电镜块体样品薄区孔的记录，来测量透射电镜块体样品再检测时相对第一检测时的旋转角度，求出第二次检测时透射电镜块体样品坐标系相对第一次检测时样品坐标系的旋转矩阵，进而根据第一次检测时特征区域的样品台坐标X、Y、Z、α、β来计算第二次检测的新坐标，可快速找到这些特征区域，实现使用透射电镜对同一特征区域进行数据补充，也可用于确保样品在不同透射电镜下检测同一特征区域。本发明具有以下优点：不需要添加硬件设备，操作简单，易行；而且计算简单，易于编程实现，可作为透射电子显微镜精确分析的辅助工具。
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公开(公告)号：CN108279247A
公开(公告)日：2018-07-13
申请号：CN201611261465.8
申请日：2016-12-30
Applicant: 北京大学
IPC: G01N23/2251 , G01J1/42 , G01J1/04
CPC classification number: G01N23/2251 , G01J1/0422 , G01J1/0455 , G01J1/0459 , G01J1/42 , G01J2001/4242 , G01N2223/07 , G01N2223/102 , G01N2223/507
Abstract: 本发明公开了一种电子束激发荧光大范围直接探测成像装置及其方法。本发明的成像装置包括：扫描电子显微镜系统、扫描信号发生器、荧光收集耦合系统、半导体光探测器、扫描同步信号采集器、协同控制与数据处理输出系统；本发明采用模块化的构架，各模块的配置调整及后续升级非常灵活便利；通过引入半导体光探测器的大面积半导体光电探测芯片，使得在扫描电子显微镜系统在大成像视野范围内所激发的荧光均能够以相同的高收集效率会聚耦合至半导体光探测器，解决了大范围荧光扫描成像所得到的图像难以使用统一的标准来测算和比较不同位置处的荧光激发强度或荧光激发产率的问题，能够完成基于电子束激发荧光信号的大范围快速检测分析。
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公开(公告)号：CN103083028B
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201210415893.7
申请日：2012-10-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/247 , A61B6/037 , A61B6/4233 , G01N2223/419 , G01N2223/507 , G01T1/249 , G01T7/005
Abstract: 本发明提供一种用于成像系统的检测器模块和制造方法。一种检测器模块包含：基板、耦合到基板的直接转换传感器材料以及电耦合到直接转换传感器材料并且配置为提供由直接转换传感器材料生成的电信号的读出的柔性互连。检测器模块还包含至少一个照明源，用于照明直接转换传感器材料。
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公开(公告)号：CN103185734B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201110457151.6
申请日：2011-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/087
CPC classification number: G01N23/087 , G01N2223/402 , G01N2223/507 , G01T1/22
Abstract: 公开了一种测量物体的有效原子序数的方法和设备。该设备包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。由于切伦科夫探测器能够消除特定阈值下的X射线束的影响，所以提高了物质识别的准确度。
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