Invention Grant
- Patent Title: 测量物体的有效原子序数的方法和设备
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Application No.: CN201110457151.6Application Date: 2011-12-30
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Publication No.: CN103185734BPublication Date: 2015-11-25
- Inventor: 李树伟 , 陈志强 , 李元景 , 赵自然 , 刘以农 , 张清军 , 朱维斌 , 王义 , 赵书清 , 张文剑
- Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
- Applicant Address: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- Assignee: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- Current Assignee: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- Current Assignee Address: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Agent 王波波
- Main IPC: G01N23/087
- IPC: G01N23/087
Abstract:
公开了一种测量物体的有效原子序数的方法和设备。该设备包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。由于切伦科夫探测器能够消除特定阈值下的X射线束的影响，所以提高了物质识别的准确度。
Public/Granted literature
- CN103185734A 测量物体的有效原子序数的方法和设备 Public/Granted day:2013-07-03
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