公开(公告)号：CN103718016B

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201280037280.2

申请日：2012-06-20

Applicant: 因格瑞恩股份有限公司

Inventor： N.德治

IPC: G01N9/24 ,  G01N23/087

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N9/24

Abstract: 本发明提供一种用X射线计算机断层显像技术估算岩样或钻井岩心等物体的有效原子序数和体积密度的方法。该方法能有效地补偿CT扫描数据判读中的误差，并能产生与实际体积密度值相比具有较低剩余误差的体积密度值以及与物理观测结果一致的体积密度‑有效原子序数趋势。

公开(公告)号：CN103718016A

公开(公告)日：2014-04-09

申请号：CN201280037280.2

申请日：2012-06-20

Applicant: 因格瑞恩股份有限公司

Inventor： N.德治

IPC: G01N9/24 ,  G01N23/087

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N9/24

Abstract: 本发明提供一种用X射线计算机断层显像技术估算岩样或钻井岩心等物体的有效原子序数和体积密度的方法。该方法能有效地补偿CT扫描数据判读中的误差，并能产生与实际体积密度值相比具有较低剩余误差的体积密度值以及与物理观测结果一致的体积密度-有效原子序数趋势。