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公开(公告)号：CN113781332B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202110977531.6
申请日：2021-08-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁数据的降噪方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：基于获取得到与目标频点对应的待处理的数据矩阵中各元素的扫描顺序，得到具有时间顺序的待处理序列。基于预设时间窗口长度和预设步长，对待处理序列进行提取并转换得到提取矩阵。这样，对时域的提取矩阵的协方差矩阵进行特征分解，并基于特征分解结果进行主成分分析，能够在确保信息量的情况下去除噪声，得到降噪后的主成分矩阵。将由对主成分矩阵中的各列数据进行特征空间映射得到的多个列映射结果进行融合，得到降噪后的时域中的目标序列，将目标序列构造回经降噪得到的目标矩阵。这样，能够在不需要获取大量电磁数据样本的情况下，大大提高对电磁数据的降噪效果。
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公开(公告)号：CN114679373B
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202210128750.1
申请日：2022-02-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H04L41/06 , H04L41/147 , H04L43/0852 , H04L43/16 , H04L49/55 , H04L12/40
Abstract: 本申请涉及一种航电系统故障预测方法、装置、计算机设备和介质。该方法包括：接收第一AFDX交换机发送的第一信号，第一信号是由第一AFDX终端发送至第一AFDX交换机的第一信号，接收第二AFDX交换机发送的第二信号，第二信号是由第一AFDX终端发送至第二AFDX交换机的第二信号，获取接收第一信号和接收所述第二信号的时间差异值，根据时间差异值判定通信链路是否即将出现故障。该方法能够在通信链路故障发生前准确预测出通信链路发生故障，便于技术人员能够即时对即将出现故障的通信链路进行处理，使得航电系统通信网络的数据传输的稳定性更高，避免数据丢失。
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公开(公告)号：CN115932415A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202211455975.4
申请日：2022-11-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种磁场探头和磁场探测方法。磁场探头包括第一端口、第二端口和第三端口；第一端口与第二端口之间以及第三端口与接地端之间形成有第一探测回路，第一端口与第三端口之间以及第二端口与接地端之间形成有第二探测回路，第一探测回路与第二探测回路正交；第一端口输出第一探测回路和第二探测回路在探测区域感应的第一电压；第二端口输出第一探测回路和第二探测回路在探测区域感应的第二电压；第三端口输出第一探测回路和第二探测回路在探测区域感应的第三电压；第一电压、第二电压和第三电压用于确定探测区域中x方向的磁场强度和y方向的磁场强度。采用本方法能够一次性探测两个磁场分量，场景适应性强。
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公开(公告)号：CN115792408A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211458412.0
申请日：2022-11-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种磁场探头和磁场探测方法。所述磁场探头包括第一端口和第二端口；所述第一端口与所述第二端口之间形成有第一探测回路，所述第一端口和所述第二端口与接地端之间形成有第二探测回路，所述第一探测回路与所述第二探测回路正交；所述第一端口，用于输出所述第一探测回路和所述第二探测回路在探测区域感应的第一电压；所述第二端口，用于输出所述第一探测回路和所述第二探测回路在探测区域感应的第二电压；其中，所述第一电压和所述第二电压用于确定所述探测区域中x方向的磁场强度和y方向的磁场强度。采用本方法能够一次性探测两个磁场分量，场景适应性强。
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公开(公告)号：CN112213565B
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202010817266.0
申请日：2020-08-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及电磁检测技术领域，公开了一种电磁场无源探头和探测系统。利用所述第一探测环路测量得到第一射频信号、所述第二探测环路测量得到第二射频信号。由于所述第一探测环路和所述第二探测环路位于所述电磁场无源探头上的不同位置，因此所述第一探测环路和第二探测环路所测量得到的所述第一射频信号和所述第二射频信号分别为磁场中不同位置的信号。通过所述信号传输部将所述第一射频信号和所述第二射频信号以预设特性阻抗的形式传输出去。所述外部分析设备接收所述第一射频信号和所述第二射频信号，可以针对在不同磁场位置测量获得的所述第一射频信号和所述第二射频信号进行分析，计算获取更加精准的磁场参数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115238484A
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202210807809.X
申请日：2022-07-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F111/10 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种板级组件寿命预测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，通过获取板级组件的可靠度函数以及板级组件中各单元的重要度因子，根据重要度因子以及预设可靠度数值能够确定各单元的分担可靠度数值，进而计算板级组件中各单元的单元寿命，并根据各单元的单元寿命预测板级组件的板级组件寿命，能够适应不同类型的电子元器件的寿命评估，且根据构成板级组件器件的重要程度分配相应的单元可靠度，能够在保证寿命评估准确度的同时，降低寿命评估过程的复杂度。
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公开(公告)号：CN112540247B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202011215483.9
申请日：2020-11-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及微光探测器性能表征技术领域，公开了一种预先老化方法。对电子器件提供驱动条件使其处于正常工作状态，通过调节所述电子器件的增益电压以及对所述电子器件的输入光信号的光照强度进行调节，使所述电子器件连续工作在倍增寄存器接近饱和的状态，实现器件增益的快速老化，最终使所述电子器件达至增益稳定状态。对刚生产出来的所述电子器件进行预先老化，使其达至增益稳定状态后再投入实际生产使用。克服了所述电子器件在早期应用中增益稳定性不佳且测试结果偏差较大的问题，便于在连续信号采集应用中获得稳定成像效果。可为所述电子器件的研制生产和性能参数检测提供良好的技术支撑，使其具有良好的工程应用价值。
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公开(公告)号：CN114740349A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210339925.3
申请日：2022-04-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电机过热故障检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：持续获取电机对应的电源电压数据以及电机输入电流数据；根据电源电压数据以及电机输入电流数据，构建多组电源电压关系式，电源电压关系式用于表征电机中各绕组的内阻值与电源电压的关系；根据多组电源电压关系式，得到各绕组在当前时刻的内阻值；根据内阻值，得到电机在当前时刻的总发热功率；根据总发热功率，得到电机的过热故障检测结果。采用本方法能够得到准确的电机总发热功率，从而得到准确的电机过热故障检测结果。
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公开(公告)号：CN114720846A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210181294.7
申请日：2022-02-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种芯片可靠性测试方法、装置及芯片设备，首先发送测试序列至芯片的被测功能逻辑，然后根据基准信号和被测功能逻辑的输出值得到脉冲信号，将时序的变化过程转化为比较二者的时延变化，接着将脉冲信号传输至芯片的延时链中，得到脉冲信号在延时链中的延迟数值，采用延时链路的方式测量时延变化，当测试序列的延迟数值小于或等于预设延迟阈值时，判断芯片可靠。该方法利用了芯片片上资源，需要外部资源少，应用效果好，测试过程中采用了高精度的延时链结构，使得测试结果更加精准，根据准确的延迟数值判断芯片是否可靠，对指导芯片设计和应用具有重要意义，有利于提高芯片的使用可靠性。
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公开(公告)号：CN114371384A
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202111575063.6
申请日：2021-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请提供了一种电迁移测试电路，包括测试模块、数据采集模块及控制模块，其中，测试模块用于根据输出控制信号对待测样品施加预设参数的测试信号；数据采集模块与测试模块连接，用于根据开关动作信号动作，控制待测样品接入对应的测试回路，并采集待测样品的电迁移试验参数信息；控制模块，与测试模块及数据采集模块均连接，用于根据接收的测试触发信号生成输出控制信号，以控制测试模块生成测试信号；及/或根据测试触发信号生成开关动作信号，以控制数据采集模块动作，使待测样品接入对应的测试回路。上述测试电路中，基于控制模块与数据采集模块生成待测样品的寿命预测方程，能相对准确的评估样品使用寿命，大大提高了测试效率。
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