一种功率半导体模块及其自保护方法

    公开(公告)号:CN107275394A

    公开(公告)日:2017-10-20

    申请号:CN201610216853.8

    申请日:2016-04-08

    Abstract: 本发明公开了一种功率半导体模块及其自保护方法,在第一金属化区与第二金属化区之间,或功率半导体芯片的发射极母排与集电极母排之间的功能单元。当功率半导体模块正常工作时,电流从集电极母排经第二金属化区流至功率半导体芯片,再经第一金属化区流至发射极母排。当功率半导体芯片工作时的发热使得功率半导体模块的内部上升至一定温度时,从集电极母排流过的电流通过功能单元直接流至发射极母排,而不再流过功率半导体芯片。本发明描述的功率半导体模块及其自保护方法无需外围控制电路参与,具有超温度自动保护功能,能够有效地保护功率半导体芯片因为过热而失效,同时降低了控制电路的复杂性,提高了系统工作的可靠性。

    一种新型具有栅极内嵌二极管的沟槽栅IGBT及其制备方法

    公开(公告)号:CN106449744A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201611099482.6

    申请日:2016-12-02

    Abstract: 本发明公开了一种新型具有栅极内嵌二极管的沟槽栅IGBT及其制备方法,包括:步骤1,在IGBT器件主体进行P-base区和N型增强区注入;步骤2,对IGBT器件主体进行沟槽刻蚀之后,沉积栅氧化层;步骤3,在栅氧化层上沉积N型掺杂的多晶硅层;步骤4,在N型掺杂的多晶硅层上沉积P型掺杂的多晶硅层,P型掺杂的多晶硅层将沟槽填满;步骤5,在P型掺杂的多晶硅层上生长多晶硅氧化层;步骤6,对完成多晶硅氧化层生长的IGBT器件主体进行源极注入,形成源极区;步骤7,对形成源极区的IGBT器件主体进行钝化层淀积与刻蚀,形成栅电极和阴极接触区。通过在栅极的沟槽内设置内嵌二极管,增大从阳极经栅极流出电流通道的电阻,遏制栅极寄生电容对开关速度的影响。

    一种沟槽栅型IGBT及其制备方法

    公开(公告)号:CN106252402A

    公开(公告)日:2016-12-21

    申请号:CN201610969555.6

    申请日:2016-11-04

    CPC classification number: H01L29/66348 H01L29/7393

    Abstract: 本申请公开了一种沟槽栅型IGBT及其制备方法,其中,所述沟槽栅型IGBT的制备方法在将所述沟槽栅暴露出来后,首先在所述沟槽栅表面形成一层导电层,然后在所述导电层背离所述沟槽栅一侧形成栅极,所述导电层和所述栅极共同构成所述沟槽栅型IGBT的细栅线,由于所述导电层的导电能力要强于多晶硅的导电能力,因此由所述导电层和所述栅极构成的细栅线的导电能力要强于由多晶硅和所述栅极构成的细栅线的导电能力,从而使用较少的主栅线连接,从而提升器件的有源区面积,进而提升器件的电流密度。由所述导电层和所述栅极构成的细栅线也可以保证所述沟槽栅型IGBT的各个元胞接收到的栅极信号的同步性。

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