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公开(公告)号:CN117310452A
公开(公告)日:2023-12-29
申请号:CN202311614828.1
申请日:2023-11-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁信号泄露的确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:利用预设的密度聚类算法对多幅电磁辐射发射强度图像进行聚类处理,得到多个聚类结果;多幅电磁辐射发射强度图像为根据不同频率点下被测集成电路的发射强度确定的图像;针对每一类聚类结果,根据每一类聚类结果包括的电磁辐射发射强度图像,确定每一类聚类结果对应的被测集成电路发射电磁信号的实际频率;根据每一类聚类结果对应的工作模式和预设的对应关系,确定被测集成电路发射电磁信号的标准频率;根据实际频率和标准频率,确定被测集成电路是否存在电磁信号泄露。采用本方法能够提高确定集成电路是否存在电磁信号泄露的准确度。
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公开(公告)号:CN116930601A
公开(公告)日:2023-10-24
申请号:CN202310893484.6
申请日:2023-07-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电信号时域测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:基于探测装置获取待测对象的第一电压和第二电压,其中,所述探测装置包括探头和与所述探头连接的示波器,所述探头用于探测所述第一电压和所述第二电压,所述示波器用于显示所述第一电压和所述第二电压;获取矩阵系数,所述矩阵系数与所述探头的结构参数相关;根据所述矩阵系数、所述第一电压和所述第二电压获取所述待测对象的实际电压和实际电流。采用本方法能够准确测量高频电信号。
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公开(公告)号:CN116819417A
公开(公告)日:2023-09-29
申请号:CN202310667196.9
申请日:2023-06-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种近场探头的校准方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:利用矢量分析仪,测量第一同轴线缆的第一散射参数矩阵和第一输出电压、第二同轴线缆的第二散射参数矩阵和第二输出电压,以及近场探头的第三散射参数矩阵;根据第一散射参数矩阵、第二散射参数矩阵和第三散射参数矩阵,以及第一输出电压和第二输出电压,确定近场探头在未施加近场场景下的第三输出电压和第四输出电压;在通过校准件对近场探头施加近场的场景下,根据第三输出电压、第四输出电压和校准件的结构参数,确定近场探头的校准因子;其中,校准因子用于近场探头进行校准。采用本方法能够更加准确的对近场探头进行校准。
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公开(公告)号:CN116381467B
公开(公告)日:2023-09-01
申请号:CN202310652188.7
申请日:2023-06-05
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 华南理工大学
Abstract: 本申请涉及一种双端口近场探头非对称补偿方法、装置、设备和存储介质。该方法包括:获取第一散射参数,第一散射参数由基于对称双端口近场探头建立的对称双端口网络采集得到;获取第二散射参数,第二散射参数由基于非对称元件建立的非对称双端口网络采集得到;获取磁场环境下校准网络的整体响应,校准网络基于对称双端口近场探头以及非对称元件建立;根据对称双端口近场探头的散射参数、非对称元件的散射参数、以及磁场环境下校准网络的整体响应进行计算,确定校准因子;根据校准因子对对称双端口近场探头进行补偿,从而解决非对称问题,提高了非对称系统的测量精度。
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公开(公告)号:CN116338544A
公开(公告)日:2023-06-27
申请号:CN202211286803.9
申请日:2022-10-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R35/00
Abstract: 本申请涉及一种三维互连结构传输参数校准方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:获取参数测量装置测量得到的三维互连结构的待校准传输参数以及各校准结构的各测量参数;参数测量装置的各测试点分别通过延伸预设长度的传输线与三维互连结构以及各校准结构的各测试连接点进行连接;各校准结构包括直通校准结构、传输线校准结构以及反射校准结构;根据待校准传输参数与各测量参数,调用参数校准模型对待校准传输参数进行校准操作,得到校准后的目标传输参数,参数校准模型基于TRL去嵌校准算法预先生成。采用本方法能够有效降低了校准后的目标传输参数的误差,提高了目标传输参数的精准性。
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公开(公告)号:CN116243071A
公开(公告)日:2023-06-09
申请号:CN202211563376.4
申请日:2022-12-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种器件近场扫描方法、装置、计算机设备、存储介质。所述方法包括:获取待检测器件的第一扫描区域,并确定第一扫描区域中的多个扫描点;控制磁场探头分别在各扫描点位置进行扫描,获取各扫描点对应的磁场测量参数,磁场测量参数用于表征扫描点位置场强变化最大的方向以及场强变化的剧烈程度;根据各扫描点对应的磁场测量参数确定待检测器件的第二扫描区域;获取当前迭代次数,若当前迭代次数小于预设迭代次数,将第二扫描区域作为新的第一扫描区域,对当前迭代次数进行加一,并返回确定第一扫描区域中的多个扫描点的步骤。采用本方法能够针对器件电磁场发射较强的区域进行扫描,缩短扫描时间,提高扫描效率。
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公开(公告)号:CN115754838A
公开(公告)日:2023-03-07
申请号:CN202211456007.5
申请日:2022-11-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种磁场探头和磁场探测方法。所述方法包括:上述磁场探头和磁场探测方法,磁场探头包括第一端口和第二端口;第一端口与接地端之间形成有第一探测回路,第二端口与接地端之间形成有第二探测回路,第一探测回路与第二探测回路正交;第一端口输出第一探测回路和第二探测回路在探测区域感应的第一电压;第二端口输出第一探测回路和第二探测回路在探测区域感应的第二电压;第一电压和第二电压用于确定探测区域中x方向的磁场强度和y方向的磁场强度。采用本方法能够一次性探测两个磁场分量,场景适应性强。
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公开(公告)号:CN115631101A
公开(公告)日:2023-01-20
申请号:CN202211149884.8
申请日:2022-09-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种数据降噪方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。所述方法包括:获取芯片表面的目标区域在各频点下进行扫描后生成的数据矩阵,从各频点下的数据矩阵对应的电磁图像中确定待处理电磁图像,将待处理电磁图像的各像素划分至预设个数的像素值区间,根据各像素值区间对应的中位数和频数确定待处理电磁图像的直方图噪声方差估计,根据直方图噪声方差估计,对待处理电磁图像进行变换域协同降噪处理,得到目标电磁图像。本申请通过多个像素值区间对应的中位数和频数计算出直方图噪声方差估计,并通过变换域协同降噪处理,对整个频率分布的噪声进行降噪,通过此方法进行数据降噪能够更好地提取出较弱的电磁信号,提高电磁图像的效果。
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公开(公告)号:CN115060982A
公开(公告)日:2022-09-16
申请号:CN202210573694.2
申请日:2022-05-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种有源近场复合探头、探测装置及探头的校准方法,所述探头包括:走线层;信号传输层,设置在所述走线层上,所述信号传输层上设有探测线圈、第一传输部件和第二传输部件,其中,所述探测线圈用于探测待测件的电磁场以获取射频信号;第一屏蔽层,设置在所述信号传输层上,所述第一屏蔽层上设置有第一放大电路和第二放大电路、第一输出端口和第二输出端口,其中,所述第一放大电路和所述第二放大电路的输入端分别与所述探测线圈连接,用于对接收的所述射频信号进行放大处理,所述第一输出端口和所述第二输出端口用于将放大处理后的所述射频信号输出至分析仪。采用本申请提供的有源近场复合探头可以实现高灵敏度的电磁场测量。
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公开(公告)号:CN114966231A
公开(公告)日:2022-08-30
申请号:CN202210377469.1
申请日:2022-04-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合近场探头。所述探头由依次堆叠的第一接地层、第一信号层、第二接地层组成,探头包括:第一磁场探测部,包括布线在第一信号层的第一磁场线圈。第一接地层和第二接地层上均挖空设置有与第一磁场感应区域对应的开口区域。第一电场探测部,包括布线在第一信号层的第一电场导线、以及多个贯穿第一信号层的金属通孔,第一电场导线的第一端与第一磁场线圈连接,第一电场导线的第二端绕设在多个金属通孔上。其中,第一电场探测部在第一接地层所在平面上的正投影在第一接地层和第二接地层的范围外。增强了电、磁场的隔离度,有效的降低了探测过程中电场信号和磁场信号互相之间的干扰,使得探测到的电场信号和磁场信号更加准确。
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