近场探头的校准方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN116819417A

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN202310667196.9

    申请日:2023-06-06

    Abstract: 本申请涉及一种近场探头的校准方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:利用矢量分析仪,测量第一同轴线缆的第一散射参数矩阵和第一输出电压、第二同轴线缆的第二散射参数矩阵和第二输出电压,以及近场探头的第三散射参数矩阵;根据第一散射参数矩阵、第二散射参数矩阵和第三散射参数矩阵,以及第一输出电压和第二输出电压,确定近场探头在未施加近场场景下的第三输出电压和第四输出电压;在通过校准件对近场探头施加近场的场景下,根据第三输出电压、第四输出电压和校准件的结构参数,确定近场探头的校准因子;其中,校准因子用于近场探头进行校准。采用本方法能够更加准确的对近场探头进行校准。

    有源近场复合探头、探测装置及探头的校准方法

    公开(公告)号:CN115060982A

    公开(公告)日:2022-09-16

    申请号:CN202210573694.2

    申请日:2022-05-25

    Abstract: 本申请涉及一种有源近场复合探头、探测装置及探头的校准方法,所述探头包括:走线层;信号传输层,设置在所述走线层上,所述信号传输层上设有探测线圈、第一传输部件和第二传输部件,其中,所述探测线圈用于探测待测件的电磁场以获取射频信号;第一屏蔽层,设置在所述信号传输层上,所述第一屏蔽层上设置有第一放大电路和第二放大电路、第一输出端口和第二输出端口,其中,所述第一放大电路和所述第二放大电路的输入端分别与所述探测线圈连接,用于对接收的所述射频信号进行放大处理,所述第一输出端口和所述第二输出端口用于将放大处理后的所述射频信号输出至分析仪。采用本申请提供的有源近场复合探头可以实现高灵敏度的电磁场测量。

    电磁场复合近场探头
    50.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114966231A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202210377469.1

    申请日:2022-04-12

    Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合近场探头。所述探头由依次堆叠的第一接地层、第一信号层、第二接地层组成,探头包括:第一磁场探测部,包括布线在第一信号层的第一磁场线圈。第一接地层和第二接地层上均挖空设置有与第一磁场感应区域对应的开口区域。第一电场探测部,包括布线在第一信号层的第一电场导线、以及多个贯穿第一信号层的金属通孔,第一电场导线的第一端与第一磁场线圈连接,第一电场导线的第二端绕设在多个金属通孔上。其中,第一电场探测部在第一接地层所在平面上的正投影在第一接地层和第二接地层的范围外。增强了电、磁场的隔离度,有效的降低了探测过程中电场信号和磁场信号互相之间的干扰,使得探测到的电场信号和磁场信号更加准确。

Patent Agency Ranking