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公开(公告)号：CN115684780A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211311468.3
申请日：2022-10-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁信号测量方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：首先通过获取电磁近场探头校准系统的近场探头校准矩阵，该近场探头校准矩阵为基于电磁近场探头校准系统在不同负载的闭合回路中的传输信号的特征生成；然后根据近场探头校准矩阵对被测电子设备的初始电磁信号进行修正，得到被测电子设备的标准电磁信号；最后根据标准电磁信号确定被测电子设备的电磁干扰结果。其中，初始电磁信号为通过与电磁近场探头校准系统连接的电磁场探头对被测电子设备进行测量得到的。采用本方法能够准确分析电子设备的电磁干扰情况。
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公开(公告)号：CN118209914A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410035816.1
申请日：2024-01-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R35/00 , G06N3/094 , G06N3/0475 , G06N3/0464
Abstract: 本申请涉及一种探头校准方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待校准探头的频率响应参数；采用已训练的生成对抗网络对频率响应参数进行处理，得到校准后的频率响应参数；根据校准后的频率响应参数，获取待校准探头的校准后的探头端电压；根据校准后的探头端电压，获取待校准探头的校准因子；校准因子用于调整待校准探头。采用本方法能够基于生成对抗网络对电磁场探头的频率响应参数进行校准，可以有效的对电磁场探头进行校准，消除非必要待测场对探头性能的影响，能够同时适应电场探头、磁场探头，具有较好的通用性和普适性，极大地降低了探头校准的复杂度和成本。
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公开(公告)号：CN115113124A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210586361.3
申请日：2022-05-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种复合探头校准方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，对复合探头施加近场，分别将第三接口和第四接口的输入电平设置为0，获取第一总输出信号、第二总输出信号和第一特征参数，获取第三总输出信号、第四总输出信号和第二特征参数；根据第一总输出信号、第二总输出信号以及第一特征参数，确定第一信号矩阵和第一参数矩阵；根据第三总输出信号、第四总输出信号以及第二特征参数，确定第二信号矩阵和第二参数矩阵；根据信号矩阵和参数矩阵计算得到校准矩阵，并对近场探头进行参数校准。通过调整校准件接口的输入电平，构建校准矩阵的求解方程，从而解决非对称问题，且能够解决高频带的不对称问题，具有强的验证带宽。
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公开(公告)号：CN116819417A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310667196.9
申请日：2023-06-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种近场探头的校准方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：利用矢量分析仪，测量第一同轴线缆的第一散射参数矩阵和第一输出电压、第二同轴线缆的第二散射参数矩阵和第二输出电压，以及近场探头的第三散射参数矩阵；根据第一散射参数矩阵、第二散射参数矩阵和第三散射参数矩阵，以及第一输出电压和第二输出电压，确定近场探头在未施加近场场景下的第三输出电压和第四输出电压；在通过校准件对近场探头施加近场的场景下，根据第三输出电压、第四输出电压和校准件的结构参数，确定近场探头的校准因子；其中，校准因子用于近场探头进行校准。采用本方法能够更加准确的对近场探头进行校准。
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