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公开(公告)号：CN105676098A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610022274.X
申请日：2016-01-13
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2641 , G01R31/2601
Abstract: 本发明公开了一种CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法，属于光学成像及数字图像处理分析技术领域中的响应非均匀性和线性性的检测装置、检测方法。其检测装置包括测试光源、衰减片、取样镜、光契对、长焦汇聚透镜、待测CCD、二维平移台、能量计、计算机、控制器和暗箱，测试光源产生的入射激光依次经衰减片、取样镜后产生反射激光和透射激光，反射激光直接入射至能量计，透射激光依次经光契对、长焦汇聚透镜后入射至待测CCD，待测CCD安装于二维平移台上，二维平移台与控制器电连接，待测CCD、能量计和控制器均与计算机电连接。本发明适用于CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法。
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公开(公告)号：CN105066910A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510515313.5
申请日：2015-08-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 李东 , 刘勇 , 刘旭 , 姜宏振 , 张霖 , 郑芳兰 , 任寰 , 杨一 , 李文洪 , 石振东 , 于德强 , 巴荣声 , 马骅 , 原泉 , 周信达 , 郑垠波 , 杨晓瑜 , 柴立群 , 陈波
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法，包括：按光路依次放置的激光器（101）、显微物镜（102）、针孔（103）、可调光阑（104）、准直透镜（105）、起偏器（106）、反射镜（107）、分束立方体（108）、光屏（109）、透镜一（110）、待测晶体（111）、透镜二（112）、检偏器（113）、成像透镜（114）、探测器（115）和计算机处理系统（116）；其中，起偏器（106）和检偏器（113）偏振方向垂直，透镜一（110）和透镜二（112）严格共轭，分束立方体（108）、反射镜（107）、待测晶体（111）和光屏（109）组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位，采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算，完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。
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公开(公告)号：CN205581024U
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201521129053.X
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
Abstract: 本实用新型公开了一种透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN205643181U
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201521129979.9
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型公开了一种反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第二透镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对高景深表面疵病且表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN204855731U
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201520667514.2
申请日：2015-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01R31/26
Abstract: 本实用新型公开了一种用于科学级CCD感光线性度检测的检测装置，属于光学元件检测技术领域中用于检测CCD感光线性度的检测装置，其目的在于提供一种检测精度高的用于科学级CCD感光线性度检测的检测装置，检测误差可溯源。其包括光纤激光器、光纤、光纤准直器、第一劈板、第一激光功率计、电动平移台和科学级CCD，光纤激光器产生的入射激光依次通过光、光纤准直器后照射到第一劈板上；一部分激光透过第一劈板形成透射激光并照射到第一激光功率计上；另一部分激光在第一劈板上产生反射照射至科学级CCD上；第一劈板与科学级CCD之间的光路上还设置有第二激光功率计或/和衰减装置。本实用新型适用于检测CCD感光线性度的检测装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN204831223U
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201520632653.1
申请日：2015-08-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 李东 , 刘勇 , 姜宏振 , 刘旭 , 张霖 , 郑芳兰 , 任寰 , 杨一 , 李文洪 , 石振东 , 于德强 , 巴荣声 , 马骅 , 原泉 , 周信达 , 郑垠波 , 杨晓瑜 , 柴立群 , 陈波
IPC: G01B11/26
Abstract: 本实用新型公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置，包括：按光路依次放置的激光器（101）、显微物镜（102）、针孔（103）、可调光阑（104）、起偏器（106）、准直透镜（105）、反射镜（107）、分束立方体（108）、光屏（109）、透镜一（110）、待测晶体（111）、透镜二（112）、成像透镜（114）、检偏器（113）、探测器（115）和计算机处理系统（116）；其中，起偏器（106）和检偏器（113）偏振方向垂直，透镜一（110）和透镜二（112）严格共轭，分束立方体（108）、反射镜（107）、待测晶体（111）和光屏（109）组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位，采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算，完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。
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公开(公告)号：CN208705241U
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201821361664.0
申请日：2018-08-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件位相型缺陷测量装置，包括：光源，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测系统。本实用新型具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可测量光学元件位相型缺陷。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN205538737U
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201521132028.7
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/95
Abstract: 本实用新型公开了一种反射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的反射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第二透镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机和第三显微物镜。本实用新型适用于对高景深表面疵病光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN205404436U
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201620225832.8
申请日：2016-03-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型公开了一种光学元件表面损伤阈值测试系统，涉及光学检测领域，包括按光路依次放置的激光器、液晶光阀、光束分束器、透镜一、测试样品、吸收陷阱、直视CCD、反光镜、能量卡计、透镜二和监视CCD，由激光器发出的激光束，经液晶光阀整形后到达光束分束器，光束分束器透射方向的激光经过透镜一汇聚到测试样品表面，经过测试样品的激光经过吸收陷阱到达直视CCD，光束分束器反射方向的激光经过反光镜，反光镜反射方向的激光到达透镜二最后汇聚到监视CCD，反光镜透视方向的激光到达能量卡计，本实用新型具有结构简单、使用方便、便于开发应用及提高了损伤阈值测试精度的优点。
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公开(公告)号：CN205317659U
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201620035886.8
申请日：2016-01-15
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 张霖 , 原泉 , 姜宏振 , 任寰 , 陈波 , 杨一 , 马骅 , 石振东 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 杨晓瑜 , 马可 , 李东 , 刘勇 , 巴荣声 , 周信达 , 郑垠波
Abstract: 本实用新型涉及非线性光子学材料和非线性光学测量领域，尤其涉及一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置。本实用新型的目的在于提供一种测量非线性光子学材料光学非线性光谱特性的装置，得到宽波长范围内材料的光学非线性吸收光谱和非线性折射光谱特性。其技术方案为，一种非线性光子学材料的非线性光谱特性测量装置，包括入射光路、测量光路、监测光路、开孔测量光路、闭孔测量光路、计算机处理系统；入射光路包括依次设置的白光激光光源、波片、偏振片、滤波轮、第一分束镜，白光激光光源产生的入射激光依次经波片、偏振片、滤波轮后由第一分束镜分成两束激光，其中一束激光作为测量光进入测量光路，另一束激光作为监测光进入监测光路。
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