公开(公告)号：CN105628718A

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201410610841.4

申请日：2014-11-04

Applicant: 同方威视技术股份有限公司

Inventor： 张丽 ,  陈志强 ,  姜晓磊 ,  朱晓骅 ,  金鑫

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/087

CPC classification number: G01N23/046 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/463 ,  A61B6/482 ,  A61B6/484 ,  G01N23/087 ,  G01N2223/401 ,  G01N2223/408 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/605

Abstract: 本发明涉及多能谱X射线光栅成像系统与成像方法。本发明的多能谱X射线光栅成像系统具备发射对被检测物体进行照射的X射线的非相干X射线源、由彼此平行配置且依次布置在X射线传播方向上的第一吸收光栅和第二吸收光栅组成的光栅模块以及接收通过了第一以及第二吸收光栅的X射线的能谱分辨型X射线探测器，第一吸收光栅和第二吸收光栅之一在其至少一个周期范围内进行相位步进动作，在每个相位步进过程，非相干X射线源发射X射线对被检测物体进行照射，能谱分辨型X射线探测器接收X射线并对X射线进行能谱分辨，经过一次相位步进过程和数据采集，能谱分辨型X射线探测器上每个像素点处每个能量段的X射线的光强表示为一个光强曲线。

公开(公告)号：CN105424730A

公开(公告)日：2016-03-23

申请号：CN201510593545.2

申请日：2015-09-17

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 藤井宣行 ,  中慈朗

IPC: G01N23/02

CPC classification number: B07C5/346 ,  B07C5/3416 ,  G01N23/087

Abstract: 本发明涉及树脂片的挑选方法以及树脂片的挑选装置。该挑选方法具备：X射线检查工序，对树脂片照射包括能量范围不同的第一X射线和第二X射线的X射线，测定透射了树脂片的第一X射线的强度即第一透射强度、和透射了树脂片的第二X射线的强度即第二透射强度；第一判定工序，使用第一透射强度，判定树脂片是否为有用的树脂片的候选；第二判定工序，对于被第一判定工序判定为有用的树脂片的候选的树脂片，使用根据第一透射强度和第二透射强度所得到的差分值，判定是否为有用的树脂片；以及收集工序，收集根据第二判定工序的判定结果被判定为有用的树脂片。

公开(公告)号：CN105277578A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201410252245.3

申请日：2014-06-09

Applicant: 北京君和信达科技有限公司

Inventor： 王少锋 ,  李苏祺 ,  郑建斌 ,  张丹 ,  曹艳锋

IPC: G01N23/087 ,  G01V5/00

CPC classification number: G01N23/087

Abstract: 本发明公开了一种提高双能辐射系统材料识别能力的方法，包括：步骤一，确定被检测材料的原子序数和厚度；步骤二，基于被检测材料的原子序数和厚度计算脉冲数量比(或剂量比)；步骤三，将双能辐射系统的脉冲数量比(或剂量比)调节为计算好的比例。本发明还公开了一种双能辐射系统。利用本发明可以快速地获得双能辐射系统的最佳材料识别状态，在此状态下进行扫描检查，双能系统的材料识别能力具有大幅提高。

公开(公告)号：CN102753963B

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：CN201080063482.5

申请日：2010-11-02

Applicant: 法国原子能与替代能委员会

Inventor： 派翠克·奥维尔·巴菲特 ,  吉洛姆·贝尔德约蒂 ,  维诺妮卡·雷布菲尔 ,  尚·瑞科

IPC: G01N23/083 ,  G01N23/087

CPC classification number: G01N23/087

Abstract: 本发明涉及一种用于特征化材料的性质的方法，其特征在于，其包含下列步骤：-提供介于X射线光源(1)及侦测器之间的此材料的至少一个样本(100)，-使用所述X射线光源(1)使N个X射线放射光谱透射穿过所述材料，每一个达时间Δt，-计算此材料的透射函数以作为能量或侦测通道的函数，-在至少两个能量区的每一个中，计算透射函数的积分，因此形成至少一个第一透射系数(α1)及第二透射系数(α2)。

公开(公告)号：CN103185734B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201110457151.6

申请日：2011-12-30

Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  清华大学

Inventor： 李树伟 ,  陈志强 ,  李元景 ,  赵自然 ,  刘以农 ,  张清军 ,  朱维斌 ,  王义 ,  赵书清 ,  张文剑

IPC: G01N23/087

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N2223/402 ,  G01N2223/507 ,  G01T1/22

Abstract: 公开了一种测量物体的有效原子序数的方法和设备。该设备包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。由于切伦科夫探测器能够消除特定阈值下的X射线束的影响，所以提高了物质识别的准确度。

公开(公告)号：CN103718016A

公开(公告)日：2014-04-09

申请号：CN201280037280.2

申请日：2012-06-20

Applicant: 因格瑞恩股份有限公司

Inventor： N.德治

IPC: G01N9/24 ,  G01N23/087

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N9/24

Abstract: 本发明提供一种用X射线计算机断层显像技术估算岩样或钻井岩心等物体的有效原子序数和体积密度的方法。该方法能有效地补偿CT扫描数据判读中的误差，并能产生与实际体积密度值相比具有较低剩余误差的体积密度值以及与物理观测结果一致的体积密度-有效原子序数趋势。

公开(公告)号：CN103226111A

公开(公告)日：2013-07-31

申请号：CN201310004320.X

申请日：2013-01-07

Applicant: X射线精密有限公司

Inventor： 细川好则

IPC: G01N23/04

CPC classification number: G01N23/04 ,  G01N23/087 ,  G01N2223/6113 ,  G01N2223/616

Abstract: 本发明提供迅速且高精度、非破坏性计测被检查对象物中含金的形状和含量的X射线检查装置。因而提供一种X射线检查装置1，具备：向被检查对象物照射90keV以上的X射线的X射线发生器4；检测从被检查对象物透过的X射线的X射线检测器6、7；以及基于该X射线检测器检测到的X射线信号来计测被检查对象物中含金的形状和含量的演算部8,Au滤波器6和Pt滤波器7分别设置在X射线检测器和被检查对象物之间,X射线检测器4对从X射线发生器照射出、并从被检查对象物和Au滤波器透过来的X射线、以及从X射线发生器照射出、并从被检查对象物和Pt滤波器透过来的X射线分别进行检测，演算部8基于各X射线信号来计测被检查对象物中含有的Au的形状和含量。

公开(公告)号：CN101435783A

公开(公告)日：2009-05-20

申请号：CN200710177405.2

申请日：2007-11-15

Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  清华大学

Inventor： 陈志强 ,  张丽 ,  康克军 ,  王学武 ,  黄清萍 ,  李元景 ,  刘以农 ,  赵自然 ,  肖永顺

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/087 ,  G01N23/10

CPC classification number: G01N23/04 ,  G01N23/087 ,  G01N2223/423

Abstract: 公开了一种物质识别方法和设备，该方法包括步骤：用高能射线和低能射线透射被检物体，以获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像，所述高能图像中的每个像素的值表示高能射线对被检物体的相应部分的高能透明度，而所述低能图像中每个像素的值表示低能射线对被检物体的相应部分的低能透明度；针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度的第二函数的值；以及通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型。利用本发明，不仅能够获得被检查物体的透射图像，而且能够获得被检查物体中的材料信息。

公开(公告)号：CN101074935A

公开(公告)日：2007-11-21

申请号：CN200610011943.X

申请日：2006-05-19

Applicant: 清华大学 ,  清华同方威视技术股份有限公司

Inventor： 王学武 ,  陈志强 ,  李元景 ,  钟华强 ,  张清军 ,  赵书清

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/083

CPC classification number: G01N23/087 ,  A61B6/482 ,  G01N2223/5015 ,  G01V5/0041

Abstract: 公开了一种探测器阵列，包括：第一线阵探测器，用于探测穿透被检物体的至少一个部分的第一射线；第二线阵探测器，与所述第一线阵探测器平行设置，用于探测与所述第一射线交替发射并穿透所述至少一个部分的第二射线。利用所述探测器阵列，能够提高交替双能射线对被检物体的扫描检查效率和材料识别正确率。

公开(公告)号：CN1995993A

公开(公告)日：2007-07-11

申请号：CN200510136319.8

申请日：2005-12-31

Applicant: 清华大学 ,  清华同方威视技术股份有限公司

Inventor： 康克军 ,  胡海峰 ,  陈志强 ,  李元景 ,  王学武 ,  唐传祥 ,  王利明 ,  刘以农 ,  刘耀红 ,  张丽 ,  李荐民 ,  钟华强 ,  程建平 ,  陈怀璧 ,  彭华 ,  谢亚丽 ,  李君利 ,  康宁 ,  李清华

IPC: G01N23/08 ,  G01N23/04

CPC classification number: G01N23/087 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/482 ,  G01V5/0041

Abstract: 本发明公开了一种利用多种能量辐射扫描物质的方法和装置。该方法包括：1)探测多种能量的射线穿透被测物质后的探测值；2)初步判断物质属性及厚度信息；3)根据初步判断结果选择处理该物质的能量区间和处理函数；4)最终确定所含物质，并根据厚度信息调整图像。相应的装置包括：1)产生多种能量的射线源；2)针对不同能量所使用的能谱调制装置；3)对不同能量敏感的探测器阵列；4)相应的图像处理机构。本发明可用在海关、港口、机场对大型集装箱货物进行不开箱查验。