航天器密封舱在轨压差环境舱内设备精度补偿方法

    公开(公告)号:CN113804429A

    公开(公告)日:2021-12-17

    申请号:CN202111261905.0

    申请日:2021-10-28

    Abstract: 本发明公开了航天器密封舱在轨压差环境舱内设备精度补偿装置,包括密封舱舱体与密封舱堵盖,所述密封舱堵盖横向外侧面固定连接有专用透视装置,所述密封舱堵盖横向内侧面固定连接有舱内设备A,所述舱内设备A的精测光路通过专用透视装置且与专用透视装置的轴线平行,所述密封舱舱体纵向一侧面固定连接有舱外设备B,所述密封舱舱体外部分别架设有经纬仪T1,经纬仪T2、经纬仪T3与经纬仪T4。本发明中,根据姿态角的变化,对常压时的舱内设备A测量值进行补偿修正,并通过修正后的值,指挥操作人员对设备A的安装精度进行调整,满足了密封舱舱内设备在轨精度的保证,是现行精测在轨精度补偿的关键技术突破,且操作简单,便于操作。

    航天器装配精度受重力和温度影响的补偿方法

    公开(公告)号:CN104197839B

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201410514480.3

    申请日:2014-09-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于基准立方镜的航天器装配精度受重力和温度影响的补偿方法,包括进行重力变形影响补偿时,采用经纬仪布站的方式,分别在加装配重块前后测量零重力基准镜相对于参考基准镜的姿态角度矩阵,计算得到扭曲矩阵,根据扭曲矩阵对安装设备后测量得到的姿态矩阵进行修正;还包括进行温度变形影响补偿时,通过在不同温度下测量被测设备上的基准立方镜相对于参考基准立方镜的姿态角度矩阵,最后根据得到的矩阵与温度数据,拟合得到修正函数,航天器在太空运行时,根据在轨温度、修正函数以及20℃时重力补偿后的初始安装矩阵,可以对温度变形进行修正得到在轨安装姿态矩阵。

    卫星上批量设备姿态角度矩阵的高精度自动化测量装置

    公开(公告)号:CN104457688A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201410654349.7

    申请日:2014-11-17

    CPC classification number: G01C1/02 G05D3/12

    Abstract: 本发明公开了一种卫星上批量设备姿态角度矩阵的高精度自动化测量装置,该装置将带有CCD成像和自动准直功能的经纬仪、视觉搜索相机、精密转台、精密导轨等装置进行集成,将被测卫星固定于精密转台上,根据卫星上多个待测设备的理论安装位置,通过精密导轨、精密转台进行测量装置的自动定位,再在小范围内通过视觉搜索相机对基准立方镜进行图像识别和搜索实现自动精确准直,最终实现批量设备姿态角度矩阵的自动化测量。本发明的卫星上批量设备姿态角度矩阵的高精度自动化测量装置,在有理论安装数据的条件下,可实现以光学立方镜为基准的不同设备之间姿态角度矩阵的自动化测量,测量精度优于5″,测量效率可以达到每分钟一项。

    基于图像识别的经纬仪自动准直方法

    公开(公告)号:CN103604411A

    公开(公告)日:2014-02-26

    申请号:CN201310553352.5

    申请日:2013-11-08

    CPC classification number: G01C1/04

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像识别的自动经纬仪准直测量方法,其测量设备由内置驱动马达的电子经纬仪、微型测量相机和固定工装组成,通过微型测量相机对电子经纬仪进行自动准直测量的引导,标定图像平面坐标系与经纬仪目镜十字丝观测坐标系间的转换关系以及标定焦距处于准直观测状态下电子经纬仪偏转角度量与微型测量相机像素数量的关系,自动提取准直返回光和电子经纬仪目镜十字丝和偏差关系并直到准直。本发明采用的基于图像识别的经纬仪自动准直方法,由图像记录和分析的方法替代传统的人眼观测的方法,保证了在长时间测量情况下的测量稳定性,提高了测量的工作效率。

    一种机械性能原位测试装置

    公开(公告)号:CN201053937Y

    公开(公告)日:2008-04-30

    申请号:CN200720103313.5

    申请日:2007-01-24

    Abstract: 一种机械性能原位测试装置,属于机械性能测试技术领域,由原位测试拉伸台(1)、控制器(2)和计算机(3)组成,控制器(2)和计算机(3)安装在真空系统之外;拉伸台(1)处于真空系统内,包括电机(4)、丝杆(5)、导轨(6)、位置传感器(7)、负荷传感器(8)、移动块(10),电机(4)安装在丝杆(5)的一端,电机(4)带动丝杆(5)转动,从而控制导轨(6)上的移动块(10)运动,位置传感器(7)和负荷传感器(8)分别测量移动块所移动的距离以及被测试件上所受的载荷。本实用新型能够在真空环境下测量薄膜试件的抗拉强度、断裂伸长率等,实现了试件机械性能的原位测试,避免了异位测量带来的误差。

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