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公开(公告)号：CN108303239B
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN201810052233.4
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数下的寿命概率函数；改变设定参数的照射激光的辐照通量获得不同辐照通量下的大口径光学元件寿命概率曲线，对函数进行数据拟合获得特定寿命概率下的寿命通量函数；本发明可以对激光光学元件使用寿命进行加速测试，缩短测试时间，应用本发明测试结果可以获得特定通量下的大口径光学元件使用寿命，应用经典可靠性理论对激光系统中的激光大口径光学元件进行可靠性分析与预计；本发明适用于大口径光学器件寿命测试领域。
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公开(公告)号：CN108007381B
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201711206265.7
申请日：2017-11-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤三维形貌在线测量装置及检测方法。该装置包括：光源系统，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测器系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可在线测量光学元件损伤点的三维形貌以及测量损伤增长的动态过程。
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公开(公告)号：CN108007381A
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201711206265.7
申请日：2017-11-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤三维形貌在线测量装置及检测方法。该装置包括：光源系统，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测器系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可在线测量光学元件损伤点的三维形貌以及测量损伤增长的动态过程。
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公开(公告)号：CN105842248B
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN201610169105.9
申请日：2016-03-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面损伤阈值测试系统及其测试方法，涉及光学检测领域，包括按光路依次放置的激光器、液晶光阀、光束分束器、透镜一、测试样品、吸收陷阱、直视CCD、反射镜、能量卡计、透镜二和监视CCD，本发明的损伤阈值测试方法为通过建立液晶光阀与光斑近场的映射关系获得传递函数，将光斑中损伤点的坐标带入传递函数确定液晶光阀遮挡区域，当遮挡区域覆盖损伤点后计算局部通量，提高损伤阈值的计算精度。
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公开(公告)号：CN117329982A
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202311255805.6
申请日：2023-09-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明利用激光散斑干涉技术与激光剪切散斑干涉技术的特点，通过光路复用实现形变与应变的同步测量，系统结构简单、操作方便，实现了同一目标区域的形变与应变同步原位测量；将Sym4小波函数作为基函数，结合正余弦变换，用于包裹相位图的噪声滤波，不需要进行迭代计算、设定掩膜形状及尺寸等，保留相位跃变信息的同时提高了滤波效率。在小波分解中，根据实际测量结果计算得到散斑抑制指数，从而确定了Sym4小波函数的最佳小波分解层数；根据散斑图中的噪声水平与小波分解层数确定噪声阈值，计算获得滤波处理后的小波系数，有助于提高噪声滤波效果，扩大该滤波方法的适用范围。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112924024A
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN202110268318.8
申请日：2021-03-12
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种新型高能激光光束质量测量装置，属于光电检测领域，包括待测激光光源，还包括高灵敏度线阵CCD、成像镜头、瑞利散射体、高精密电动转台、高精密电动转台运动控制器及计算机；本发明的高能激光光束质量测量装置，在实现高能激光光束质量测量的过程中，将降低现有检测装置的系统复杂度，且提升光束质量测量装置的测量量程，解决目前百千瓦级高能激光光束质量测量难题，同时具备实时在线测量特性，能够很方便的嵌入到工业高能激光加工系统及高能激光武器中。
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公开(公告)号：CN106355613B
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201610786591.9
申请日：2016-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法，属于数字图像技术领域，解决现有技术中晶体锥光干涉图中的暗十字交叉区域较大，难以精确提取出十字图形中心位置的问题。本发明步骤如下：获取数字图像；将数字图像进行阈值分割或边缘提取，提取出暗十字区域；设置迭代的暗十字区域的初始坐标；以初始坐标为原点，将暗十字区域分割成横向和纵向两部分，对横向和纵向两部分进行加权最小二乘线性拟合，得到两者交点；求交点与初始坐标的距离，并将交点坐标赋值于初始坐标；将距离作为迭代收敛条件，若满足收敛条件则迭代终止，输出初始坐标作为中心坐标，否则重复迭代。本发明用于提取十字图形的中心。
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公开(公告)号：CN109540926A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201910085710.1
申请日：2019-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种(D)KDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法，涉及(D)KDP晶体体损伤测量技术领域，本发明先通过层析的方法获得高功率纳秒激光脉冲作用后晶体体损伤点基础数据，解决损伤点重复统计、背景光消除、二值化等问题并采用图像矩算法求出每个散射点的质心后，再通过重构算法获得体损伤点三维分布，进而可以高精度获得晶体体损伤密度ppd、体损伤点几何尺寸分布pps和晶体体损伤点三维分布等3个体损伤表征参数，本发明具有测量精度高、晶体体损伤表征更加全面的优点。
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公开(公告)号：CN108802056A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810964806.0
申请日：2018-08-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
CPC classification number: G01N21/88 , G01N21/01 , G01N21/8851 , G01N2021/0112 , G01N2021/8887
Abstract: 一种光学元件位相型缺陷测量装置及检测方法。该装置包括：光源，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可测量光学元件位相型缺陷。
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公开(公告)号：CN106355613A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610786591.9
申请日：2016-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
CPC classification number: G06T7/0002
Abstract: 本发明公开了一种基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法，属于数字图像技术领域，解决现有技术中晶体锥光干涉图中的暗十字交叉区域较大，难以精确提取出十字图形中心位置的问题。本发明步骤如下：获取数字图像；将数字图像进行阈值分割或边缘提取，提取出暗十字区域；设置迭代的暗十字区域的初始坐标；以初始坐标为原点，将暗十字区域分割成横向和纵向两部分，对横向和纵向两部分进行加权最小二乘线性拟合，得到两者交点；求交点与初始坐标的距离，并将交点坐标赋值于初始坐标；将距离作为迭代收敛条件，若满足收敛条件则迭代终止，输出初始坐标作为中心坐标，否则重复迭代。本发明用于提取十字图形的中心。
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