用于低透射率样品分析物检测的双束傅立叶变换红外方法

    公开(公告)号:CN1227521C

    公开(公告)日:2005-11-16

    申请号:CN01813602.8

    申请日:2001-05-17

    IPC分类号: G01N21/35 G01J3/453 A61B5/00

    摘要: 提出了用于测定低透射率样品中至少一种分析物的存在和/或浓度的方法和设备。在这些方法中,由至少一个红外辐射源产生前向束和后向束或将其引入到干涉仪中。前向束通过样品、然后被收集、产生样品束,而后向束通过参照物、然后被收集、产生参照束。样品束和参照束或者光学重新组合成为零束、由单一检测器检测,或者通过两个单独的检测器检测后用电子方法归零。然后从检测到的零束推导出至少一种分析物的存在、更经常是推导出其浓度。还提出了实现上述方法的设备。本方法和设备适用于各种不同的应用,包括检测生理样品(如血液、组织及其衍生物)中一种或多种分析物的存在和数量。

    基于后验误差最小化的干涉成像光谱仪周期振动修正方法

    公开(公告)号:CN115183871B

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202210700428.1

    申请日:2022-06-20

    IPC分类号: G01J3/28 G01J3/453

    摘要: 本发明涉及干涉成像光谱仪周期振动修正方法,具体涉及基于后验误差最小化的干涉成像光谱仪周期振动修正方法,目的是解决时空联合调制型干涉成像光谱仪使用中存在的周期性机械微振动误差对图像数据带来的几何失真、修正困难的问题,步骤包括:S1,对原始Lasis干涉数据进行预处理,得到Lamis干涉数据;S2,建立周期振动模型;S3,模型中振幅A和周期T参数赋初始值;S4,求最优的起始相位#imgabs0#参数值;S5,采用后验误差最小法求最优的振幅A参数值;S6,采用后验误差最小法求最优的周期T参数值;S7,根据振动模型,使用最优的起始相位、振幅、周期参数,实现Lasis干涉数据到Lamis干涉数据抽帧过程的振动修正。

    分光测定装置
    24.
    发明公开
    分光测定装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117957427A

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202280062448.9

    申请日:2022-09-01

    发明人: 石丸伊知郎

    IPC分类号: G01J3/453 G01J3/02

    摘要: 分光测定装置(1)具备:准直光学系统(15),其对来自试样(S)的测定点(a)的物体光进行准直;光检测器(21),其具有在规定的方向上排列有多个像素的受光面;共轭面成像光学系统(11),其设置在试样与准直光学系统之间,用于形成与该试样的表面在光学上共轭的面;振幅型衍射光栅(13),其配置于所述共轭的面,所述振幅型衍射光栅(13)是通过在遮光构件设置多个开口而得到的,该遮光构件的光入射面或光出射面由物体光的波长范围下的遮光率高于硅的遮光率的材料形成;光路长度差赋予光学系统(16),其将准直后的物体光分割为第一光束和第二光束并赋予光路长度差;以及干涉光学系统(17),其使被赋予了光路长度差的第一光束与第二光束干涉,来沿着所述规定的方向在所述受光面形成干涉像。

    结构化照明的相位掩模
    25.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115297765A

    公开(公告)日:2022-11-04

    申请号:CN202180022444.3

    申请日:2021-02-16

    IPC分类号: A61B5/00 G01B9/02 G01J3/453

    摘要: 描述相位掩模的实施例,所述相位掩模包括安置于衬底上的挡光层,其中所述挡光层具有多个光学透射区,每一光学透射区被配置为第一图案。所述第一图案包含具有彼此不同的相位配置的两个片段,并且所述挡光层包含所述第一图案的至少三个角定向。

    用于可见光波长至红外波长的纳米机电干涉仪

    公开(公告)号:CN114981625A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202080093611.9

    申请日:2020-11-18

    摘要: 本公开涉及片上干涉仪和包括所述干涉仪的光谱仪。本公开涉及一种片上干涉仪,该片上干涉仪包括:用于传播光学信号的波导,该波导包括:输入波导;至少两个干涉仪臂,包括一个或多个槽波导;以及输出波导;其中,该输入波导被分成该至少两个干涉仪臂,该至少两个干涉仪臂被重新组合成该输出波导;以及控制机构,被配置为通过修改一个或多个槽波导的一个或多个槽宽度来控制在两个干涉仪臂中传播的光学信号之间的相对时间延迟;并且其中,该相对时间延迟为至少1、2、5或至少10fs或光学信号的最长光学波长的至少一个光学周期。

    光传感器、传感器装置及用于进行感测的方法

    公开(公告)号:CN111868491B

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN201880091311.X

    申请日:2018-07-20

    摘要: 多种技术提供了一种光传感器,具有:光源;光栅装置,光耦合到光源以从光源接收源光信号,光栅装置包括具有定义的光谱轮廓的啁啾FBG,其中,作为对与啁啾FBG相互作用的至少一个参数的第一改变的响应,定义的光谱轮廓相对于参考光谱轮廓在第一方向上偏移,并且光栅装置被配置为,作为对定义的光谱轮廓相对于参考光谱轮廓在第一方向上偏移的响应,生成与第一改变对应的第一输出光信号,并且其中,作为对与啁啾FBG相互作用的至少一个参数的第二改变的响应,定义的光谱轮廓相对于参考光谱轮廓在第二方向上偏移,并且光栅装置被配置为,作为对定义的光谱轮廓相对于参考光谱轮廓在第二方向上偏移的响应,生成与第二改变对应的第二输出光信号。

    干涉仪装置和用于确定干涉仪装置中的第一镜装置和第二镜装置之间的第一间距的方法

    公开(公告)号:CN113302464A

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN201980089437.8

    申请日:2019-11-12

    摘要: 本发明提供一种干涉仪装置(1),该干涉仪装置包括:第一镜装置(SP1)和第二镜装置(SP2),所述第一镜装置和所述第二镜装置以第一间距(d12)彼此被隔开,其中所述第一镜装置(SP1)和/或所述第二镜装置(SP2)是能运动的,使得所述间距(d12)是可变的;基板(2),其中所述第一镜装置(SP1)和所述第二镜装置(SP2)叠置地布置在所述基板(2)的光学区域(OB)中,并且其中所述光学区域(OB)包括用于被所述第一镜装置(SP1)和所述第二镜装置(SP2)允许透过的电磁辐射(L)的第一辐射区域(AB1)和第二辐射区域(AB2),所述第一辐射区域和所述第二辐射区域侧向地并排延伸;滤波装置(F),该滤波装置布置在所述第二辐射区域(AB2)的光路中并且借助于该滤波装置能够确定用于所述电磁辐射(L)的波长的、依赖于第一间距(d12)的透过特征;以及探测器装置(3),该探测器装置具有布置在所述第一辐射区域(AB1)的光路中的第一探测器区域(D1)和布置在所述第二辐射区域(AB2)的光路中的第二探测器区域(D2),其中所述探测器装置(3)被设立用于在所述第一探测器区域(D1)中探测来自所述第一和第二镜装置(SP1、SP2)的第一电磁辐射并且在所述第二探测器区域(D2)中探测来自所述滤波装置(F)的第二电磁辐射(St2)。

    包括主动的再调整的回归干涉仪

    公开(公告)号:CN111971521A

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN201980025503.5

    申请日:2019-04-18

    发明人: A·肯斯

    IPC分类号: G01B9/02 G01J3/453

    摘要: 本发明涉及一种干涉仪布置结构(1),具有:用于可用光(3)的输入端;分束器(8);用于建立两个干涉仪臂(13、14)的两个回归反射器(15、16);驱动装置(24),其用于使所述回归反射器(15、16)中的至少一个回归反射器运动,以便改变干涉仪臂(13、14)之间的光学的光程差;用于相干的参考光的参考光源(5);用于可用光(21)的输出端;以及参考光探测器(19),其特征在于,参考光探测器(19)具有至少三个探测器面(19a‑19d),其中第一对探测器面(19a、19b)的探测器面沿第一方向(ER)排列,并且第二对探测器面(19a、19c)的探测器面沿第二方向(ZR)排列,并且第一方向(ER)、第二方向(ZR)和参考光(17)在参考光探测器(19)上的中间的传播方向线性独立,并且干涉仪布置结构(1)此外具有:‑用于参考光(17)的会聚元件(18),所述会聚元件设置在分束器(8)和参考光探测器(19)之间,以用于对来自分束器(8)的参考光(17)聚焦;‑至少两个促动器(9、10),以用于在至少两个自由度方面改变两个由干涉仪臂(13、14)往回反射的并且在分束器(8)上再次叠加的参考光子光束(11、12)之间的横向的切变;‑以及调节电子装置(38),以用于依赖于在参考光探测器(19)的探测器面(19a‑19d)上的信号(Sa‑Sc)操控促动器(9、10)。本发明提供一种基于回归反射器的干涉仪布置结构,利用其可以保证较高的可评估的并且较稳定的可用光强度。