半导体装置
    28.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115997276A

    公开(公告)日:2023-04-21

    申请号:CN202180052289.X

    申请日:2021-08-17

    Abstract: 提供一种晶体管特性不均匀少的半导体装置。该半导体装置包括第一器件层至第n(n为2以上的自然数)器件层,该器件层分别包括第一阻挡绝缘膜、第二阻挡绝缘膜、第三阻挡绝缘膜、氧化物半导体器件、第一导电体及第二导电体,第一器件层至第n器件层中,在第一阻挡绝缘膜上配置氧化物半导体器件,以覆盖氧化物半导体器件的方式配置第二阻挡绝缘膜,通过在第二阻挡绝缘膜形成的开口以与氧化物半导体器件电连接的方式配置第一导电体,在第一导电体上配置第二导电体,在第二导电体及第二阻挡绝缘膜上配置第三阻挡绝缘膜,第一阻挡绝缘膜至第三阻挡绝缘膜具有抑制氢的扩散的功能。

    显示装置
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107564967A

    公开(公告)日:2018-01-09

    申请号:CN201710928567.9

    申请日:2013-07-08

    Abstract: 本发明涉及显示装置。本发明的目的是通过抑制因来自有机绝缘膜的释放气体造成的晶体管特性的变动,来提高显示装置的可靠性。该显示装置包括晶体管(150)、为了减少因该晶体管(150)导致的不均匀度而设置于晶体管(150)上的有机绝缘膜(117)、以及有机绝缘膜(117)上的电容器(170)。有机绝缘膜(117)的整体表面不被在晶体管(150)的上侧上的电容器(170)的构成要素覆盖,并且来自有机绝缘膜(117)的释放气体能够从有机绝缘膜(117)的上表面的露出部分释放到外部。

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