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公开(公告)号：CN106247988A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201510317446.1
申请日：2015-06-11
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种基于激光跟踪仪的星体姿态及太阳翼展开架精度测量方法，实现使用激光跟踪仪测量太阳翼装星时星体的偏航值、俯仰值、滚动值及太阳翼展开架导轨的水平度与直线度的测量。本发明的方法突破了太阳翼装星时星体姿态及太阳翼展开架的精度测量工作单一依靠经纬仪加偏距头测量方法的工艺瓶颈，将系统测量精度由目前的0.2mm提高到0.1mm，满足了星体姿态调整精度0.15mm的需求，解决了型号研制过程中出现的难题，提高了测量能力与测量效率。
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公开(公告)号：CN104613929A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201510006022.3
申请日：2015-01-07
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于机器视觉的立方镜准直测量自动引导方法，该方法通过使工业相机与经纬仪一起转动，并保持相对位置关系不变，然后控制相机采集待测立方镜的图像，通过图像处理识别立方镜并提取出立方镜的角点，得到角点在图像坐标系下的坐标值；建立相机坐标系、立方镜坐标系和经纬仪坐标系之间的数学模型，在该数学模型下，进行坐标转换并解算出立方镜的待测镜面法向直线与经纬仪运动平面的交点位置，控制经纬仪运动到交点位置并根据立方镜待测镜面的法向调整好经纬仪的姿态，使得立方镜待测镜面法线方向进入到经纬仪视场范围内，并基于图像识别的经纬仪自动准直步骤实现立方镜的自动准直。
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公开(公告)号：CN104132624A
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201410400543.2
申请日：2014-08-14
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种基于散斑干涉和条纹投影测量航天器结构变形的装置，主要包括激光散斑投影装置、CCD相机、条纹投影装置、数据采集及控制单元等，激光散斑投影装置利用激光散斑干涉测量方法，对被测结构板的局部变形进行测量，条纹投影测量装置通过条纹投影测量及多次测量数据拼接，对大范围的变形进行测量。通过基于散斑干涉和条纹投影组合测量航天器的结构变形，可以实现对航天器结构微变形的大范围、非接触测量，2m×2m范围内的整体精度可达10um，局部需要高精度测量的0.2m×0.2m范围的测量精度可达1um。
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公开(公告)号：CN108247312B
公开(公告)日：2020-02-18
申请号：CN201810048508.7
申请日：2018-01-18
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于多点压紧式大型航天设备的高精度装配工艺，包括分离‑测量‑转移‑测量‑位姿调节‑装配步骤，通过测量辅具与压紧座的精确配合，使用激光跟踪仪对设备各压紧点的位置与姿态进行测量，并通过对两组数据进行比对和分析，最终得出所有压紧点的位置度协调数据并给出各压紧座的位姿调整量，通过位姿调整量将所有压紧座一次性调整到位，实现设备在满足装舱精度要求的前提下一次性装舱到位。本发明可实现多点压紧式大型航天设备在保证安装精度的前提下的一次性装舱到位，满足降低操作复杂度和操作风险、提高装舱效率的要求。
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公开(公告)号：CN106247988B
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201510317446.1
申请日：2015-06-11
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种基于激光跟踪仪的星体姿态及太阳翼展开架精度测量方法，实现使用激光跟踪仪测量太阳翼装星时星体的偏航值、俯仰值、滚动值及太阳翼展开架导轨的水平度与直线度的测量。本发明的方法突破了太阳翼装星时星体姿态及太阳翼展开架的精度测量工作单一依靠经纬仪加偏距头测量方法的工艺瓶颈，将系统测量精度由目前的0.2mm提高到0.1mm，满足了星体姿态调整精度0.15mm的需求，解决了型号研制过程中出现的难题，提高了测量能力与测量效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107543525A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201710083977.8
申请日：2017-02-16
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01C1/02
Abstract: 本发明公开了一种密封舱体透视窗，包括底框部件、透视玻璃、分别设置在透视玻璃两侧面上的密封圈，压环、以及紧固件，底框部件为用于舱体固定并带有凹槽的支撑件，透视玻璃两侧设置密封圈并由压环压合在凹槽中，紧固件通过底框部分上均匀设置的螺纹孔将压环与底框部分进行固定。本发明还公开了其应用。本发明的装置可耐压，耐热，透光率高，经过试验验证经纬仪透过其装置测量精度偏差可达到5秒以内。满足了现有航天器产品的安装精度测量。
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公开(公告)号：CN104089594B
公开(公告)日：2017-10-17
申请号：CN201410360762.2
申请日：2014-07-25
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种SAR天线自动化精测方法，通过激光雷达测量系统测量天线阵面的靶标点，利用最小二乘拟合计算阵面平面度和平面法线的方向；利用经纬仪测量系统测量卫星基准镜和公共靶球点，以建立公共靶球点和卫星机械坐标系之间的关系；再利用激光雷达测量公共靶球点，以建立卫星机械坐标系和激光雷达测量坐标系的关系，最终获得卫星坐标系下天线阵面法线的方向；在天线多次展开试验中，利用雷达单点自动测量功能，自动完成展开后平面测量，评价展开平面度和指向的重复性。本发明可以完成对天线的平面度和指向精度的高精度、自动化测量，满足30m内平面点坐标0.2mm和角度测量精度20″的精度要求，大大提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN103471564B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201310138473.3
申请日：2013-04-19
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种多系统测量基准集成转换标准器,包括碳纤维基板、标准器基板托架及下部通用支架。其中，碳纤维基板的上面设计了定位销套和光学基准立方镜；用于定位测量、建立机械结构坐标系及光学基准坐标系。标准器基板托架是碳纤维基板与通用支架的中间连接纽带，标准器基板托架的上端部形成一平面以机械固定方式连接碳纤维基板并对其支撑，下端通过机械固定形式与通用支架相连接，标准器基板托架侧面开设弧形滑槽，通过两侧弧形滑槽上设计的定位轴沿滑槽的滑动，使标准器基板托架连同其支撑的碳纤维基板围绕该定位轴旋转来调整标准器使用的位姿。
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公开(公告)号：CN104596420A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201510037500.7
申请日：2015-01-26
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种基准立方镜中心位置的精测方法，利用激光跟踪仪测量系统实现对立方镜中心位置的测量，该方法在飞船二期型号中得到了充分的验证。具体方法是：通过激光跟踪仪及标准配置的0.5″的小靶镜，对基准立方镜的三个正交面进行点位测量，利用最小二乘拟合计算每个面的平面，再通过三个正交面平移拟合计算成三个坐标系，坐标原点即为所要的基准立方镜中心位置。本发明完全取代了用经纬仪测量基准立方镜中心位置的方法，满足在10m范围内测量基准立方镜中心位置精度在0.07mm的精度，测量精度受仪器摆放的位置的影响小，测量精度稳定，精度高，速度快，大大提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN104266649A
公开(公告)日：2015-01-07
申请号：CN201410550699.9
申请日：2014-10-16
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01C21/18
CPC classification number: G01C21/18
Abstract: 本发明公开了一种基于陀螺经纬仪测量基准立方镜相对大地坐标系姿态角度矩阵的方法，该方法利用陀螺经纬仪和电子经纬仪分别准直测量基准立方镜上任意相邻的两个侧面，测量得到陀螺经纬仪准直方向的方位角、天顶距和电子经纬仪准直方向的天顶距，并通过两个面的垂直关系求解得到电子经纬仪准直方向的方位角，最终得到基准立方镜相对大地坐标系姿态角度矩阵。本发明的测量方法，节省了一台陀螺经纬仪，从而降低了成本，同时也避免了普通经纬仪与陀螺经纬仪之间的互瞄，提高了测量精度和测量效率，克服了复杂工况下互瞄时的光路遮挡。
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