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公开(公告)号：CN118782120A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202310396391.2
申请日：2023-04-04
Applicant: 华为技术有限公司 , 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本申请提供了一种存储器编程方法和装置，该方法包括：对每个待编程的寻址单元进行预编程得到一个编程值，编程值为电导值或电阻值；若根据读操作，确定一个待编程的寻址单元当前的编程值不在对应的目标区间的范围内，则利用逐级迭代的第一电脉冲进行补偿编程，更新当前的编程值，其中，目标区间根据各待编程的寻址单元待编程到的电阻值、电导值或目标态中的一种确定，当前的编程值包括通过预编程得到的编程值，或，通过逐级迭代更新的编程值；若根据读操作，确定一个待编程的寻址单元当前的编程值在对应的目标区间的范围内，或，确定逐级迭代的次数达到预设上限，则完成编程。能够提高存储器编程的速度，降低功耗。
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公开(公告)号：CN113539327B
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202110779019.0
申请日：2021-07-09
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C13/00 , G06F16/903
Abstract: 本发明涉及一种相变存储单元实现快速逻辑计算装置及数据检索方法，装置包括相变存储阵列和外围控制电路，相变存储阵列包括两个相变存储逻辑算子；相变存储逻辑算子包括两个相变存储单元，两个相变存储单元的一端均与同一位线相连，另一端与各自的选通管的漏端相连，选通管的源端接地，相变存储逻辑算子中的一个相变存储单元的选通管的栅极与第一字线相连，另一个相变存储单元的选通管的栅极与第二字线相连；外围控制电路将初始数据信息写入相变存储阵列中，选通管根据第一字线和第二字线上的信号选通相变存储单元，使得相变存储单元中存储的信息与位线上的脉冲信号进行逻辑运算。本发明能够减少数据匹配计算量，实现高效的数据检索。
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公开(公告)号：CN113315506B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202110494507.7
申请日：2021-05-07
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海新氦类脑智能科技有限公司
IPC: H03K19/0185
Abstract: 本发明涉及一种相变存储器时序可重构布尔逻辑电路、方法及装置，其中电路包括相变存储单元和选通器件，所述相变存储单元的第一端与第一输入电极相连，第二端与所述选通器件的漏端相连，所述选通器件的源端与第二输入电极相连，栅端与控制端相连；通过控制所述第一输入电极、第二输入电极、控制端的输入信号以及所述相变存储单元的初始状态实现逻辑运算操作。本发明能够在单个相变存储单元中实现多种逻辑计算。
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公开(公告)号：CN112350728B
公开(公告)日：2023-12-26
申请号：CN202011178033.7
申请日：2020-10-29
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03M1/46
Abstract: 本发明涉及一种减少电容阵列的逐次逼近型模数转换器，包括电容阵列、开关阵列、电压比较器和逻辑控制模块，所述电容阵列包括N个并联的电容，其中，第一个电容的容值为单位电容的容值C，所述第i个电容的电容的容值为2i‑2C，i≥2；所述开关阵列包括预比较开关，电容开关阵列和电压比较器参考电压开关；所述预比较开关在所述逻辑控制模块的控制下实现在采样阶段对输入电压信号的预比较；所述电容开关阵列在所述逻辑控制模块的控制下按照逐次逼近的逻辑实现采样、保持与电荷重分配的过程；所述电压比较器参考电压开关在所述逻辑控制模块的控制下实现所述电压比较器参考电压的选择。本发明还涉及上述模数转换器的工作方法。本发明可以减少电容阵列。
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公开(公告)号：CN112859996B
公开(公告)日：2022-02-22
申请号：CN202110086387.7
申请日：2021-01-22
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G05F1/567
Abstract: 本发明涉及一种低压高精度带隙基准电路，包括：正温度电流产生电路，用于产生与绝对温度正相关的电流；负温度电流产生电路，用于产生与绝对温度负相关的电流；高温补偿电路，用于在温度升高时产生高温补偿电流；低温补偿电路，用于在温度降低时产生低温补偿电流；电流电压转换电路，用于采用所述高温补偿电流和低温补偿电流对产生的绝对温度正相关的电流和绝对温度负相关的电流进行补偿，并将补偿后的电流转换为电压。本发明针对曲线特征在高温、低温时引入或引出正温特性补偿电流，具有更好的温度特性，提高了系统的工作性能和可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109903805B
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201910139097.7
申请日：2019-02-25
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供的一种存储器片内自测试方法、装置和存储器，通过获取自测试信号后令所述存储器进入自测试状态；在所述存储器中寻找由一或多个连续无故障的所述存储单元构成的满足预设大小的存储区域作为无故障区域；对所述存储器的各存储单元进行测试并将存在故障的存储单元的故障信息存储到所述无故障区域；在自测试结束后将所述无故障区域存储的首地址输出到外部端口以供读取。本发明能够降低了测试成本，而且可以对存储器进行全速测试，增加了测试的故障覆盖率和测试效率，减小了测试的面积开销，能够更加方便及时地发现存储器的问题所在。
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公开(公告)号：CN110619906B
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201910763063.5
申请日：2019-08-19
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C13/00
Abstract: 本发明提供了一种多级相变存储器的读出电路及读出方法，涉及微电子技术领域，解决了传统方法无法读出多级相变存储单元存储的多位数据的技术问题。本发明提供的多级相变存储器的读出方法应用于存储有N位二进制数据的相变存储单元，读出方法按照由高位到低位的顺序逐位读取目标相变存储单元的N位二进制数据，读出方法包括N个阶段，第M阶段包括步骤：获取目标相变存储单元当前状态所对应的读电流；获取参考电流，其中，当M＝1时选择起始参考电流，当M>1时根据之前读出的数据位选择对应阶段的参考电流；比较读电流和对应阶段的参考电流，获得读出电压信号；处理读出电压信号，获得二进制数据的第N‑M+1位数据信号；其中，1≤M≤N。
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公开(公告)号：CN112859996A
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN202110086387.7
申请日：2021-01-22
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G05F1/567
Abstract: 本发明涉及一种低压高精度带隙基准电路，包括：正温度电流产生电路，用于产生与绝对温度正相关的电流；负温度电流产生电路，用于产生与绝对温度负相关的电流；高温补偿电路，用于在温度升高时产生高温补偿电流；低温补偿电路，用于在温度降低时产生低温补偿电流；电流电压转换电路，用于采用所述高温补偿电流和低温补偿电流对产生的绝对温度正相关的电流和绝对温度负相关的电流进行补偿，并将补偿后的电流转换为电压。本发明针对曲线特征在高温、低温时引入或引出正温特性补偿电流，具有更好的温度特性，提高了系统的工作性能和可靠性。
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公开(公告)号：CN110335636B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201910605311.3
申请日：2019-07-05
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种相变存储器的多级存储读写方法及系统，包括：数据存储模块，包括多个存储数据的数据单元；参考模块，包括多个参考单元，2k‑1个参考单元对应1个数据单元，用于存储与存储的数据对应的参考信号，k为存储的数据比特；读出功能模块，在读取某一数据单元时将其对应的参考信号读出，并还原数据单元中储存的数据。本发明采用2T2R的结构作为基本单位进行数据存储，通过两个相变存储元件不同阻值的组合在一定程度上减少阻值漂移带来的影响，实现高密度存储；设置检纠错功能，通过检错、纠错提高相变存储器多值存储的可靠性；设置参考单元，通过参考单元计算还原存储的数据，实现高可靠性读取；同时降低检纠错的难度，进一步提高可靠性。
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公开(公告)号：CN107591179B
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN201710813137.2
申请日：2017-09-11
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G11C13/00
Abstract: 本发明提供一种扩展存储器操作次数的电路结构及方法，所述电路结构包括N位循环计数器电路，与所述N位循环计数器电路连接的N个地址产生电路，及与N个所述地址产生电路连接存储器阵列，通过把对一个存储器字的N次操作分散到N个不同的存储器字中，避免了对一个存储器字的过度操作，在每次掉电时，把触发器电路的状态存储在非挥发相变存储器中，在每次上电时，读出非挥发相变存储器中的数据，使触发器电路及N位循环计数器电路恢复到掉电前状态，实现了存储器字在任何情况下的均衡操作。通过本发明所述一种扩展存储器操作次数的电路结构及方法，解决了现有技术中相变存储器无法实现每个存储单元的读写擦均衡的问题。
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