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公开(公告)号：CN104280679B
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201310293454.8
申请日：2013-07-12
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明的基于FLEX的高速运算放大器测试电路，在高速运算放大器的反向输入端与测试系统MicroFLEX的运放环反向输入端之间并联继电器支路；高速运算放大器的同向输入端分别通过继电器支路与测试系统的运放环同向输入端、视频信号同向输出端、中频信号同向输出端连接，运放环反向输入端和同向输入端的屏蔽层通过继电器可选择与地相连；高速运算放大器的同向输入端串联继电器支路后接地；高速运算放大器的反向输入端与高速运算放大器的输出端之间并联多个继电器支路；高速运算放大器的输出端与地之间并联多个负载支路；高速运算放大器的输出端分别通过继电器支路与测试系统的中频信号同向测量端、视频信号同向测量端、运放环输出端连接。
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公开(公告)号：CN107677970A
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201710709718.1
申请日：2017-08-18
Applicant: 上海精密计量测试研究所
CPC classification number: G01R31/40 , G01R19/0092
Abstract: 本发明提供一种基于自动测试设备的DAC动态电源电流的测试系统，包括：DAC；自动测试设备，包括第一电压电流源模块和第二电压电流源模块，在所述DAC的电源管脚和所述第一电压电流源模块之间串联一个电阻，所述第二电压电流源模块设置为高阻模式。还提供一种对应的测试方法。本发明提供的基于自动测试设备的DAC动态电源电流的测试系统巧妙地利用了电阻的作用，将电流测试转化为电压测试，避免了电流测试中由于不同模式下测试量程不同所产生的冲突。其测试方法能够实现高精度、高可靠性、重复性好的量产测试，解决了DAC量产测试时由于动态电流的测试量程冲突引发的设备报警。
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公开(公告)号：CN117890758A
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202311757259.6
申请日：2023-12-20
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种FPGA芯片高温筛选测试装置，包括工装socket、温控板、接口板和ATE设备；所述工装socket内设置有热敏电阻、大功率加热电阻和风扇；所述接口板上设置有信号接口；所述温控板通过金手指接插件与接口板进行信号交互，温控板通过接口板和ATE设备在硬件上形成通讯链路；通过所述温控板进行FPGA芯片的温度控制，并将温控效果自动反馈给所述ATE设备，当检测到芯片温度达到测试要求时，机台端自动开始测试。本发明提供的FPGA芯片高温筛选测试装置及其测试方法减少了人工操作，简化了测试流程，节省了占地面积。
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公开(公告)号：CN105471431A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201510906010.6
申请日：2015-12-09
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: H03M1/10
CPC classification number: H03M1/1071
Abstract: 本发明涉及集成电路模数转换器ADC测试方法，在不使用高纯度或高精度的激励信号源的情况下却能精确测试模数转换器ADC差分线性误差DNL积分线性误差INL数学模型及计算方法和性能的测试电路模型。本发明要解决的技术问题是低精度正弦波信号源，其各谐波相位均匀分布，符合实际应用中产生的低精度正弦信号，由于各谐波相位均匀分布，意味被测ADC可以激励信号任意时刻开始，让低精度正弦激励信号通过简单分压电路，利用被测ADC的电平转换，建立分压前后的激励信号之间的联系，从而获得精确估出激励信号源的参数，进一步估出高精度和高精确度的被测ADC特性参数方法。使得使用一般低精度信号去精确测量ADC静态参数成为可能。
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公开(公告)号：CN105553477B
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN201510906007.4
申请日：2015-12-09
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明公开了基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法包括：根据产品说明，RHF1201各引脚分别连接激励信号源，包括电源、基准信号、控制信号和数字信号；采用FLEX测试系统，通过选择不同性能的激励信号测试不同的参数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106680690B
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201611026987.X
申请日：2016-11-17
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天探维传媒科技有限公司
Abstract: 本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种应用于ATE测试的单端输入差分输出的时钟驱动方法，使用差分放大器THS4503及其外围电路，将MicroFLEX产生的单端数字信号转换为AD6645所需要差分数字信号，步骤如下：步骤一：根据ATE产生单端数字信号的幅度范围和带宽，确定所需要的差分放大器的增益和带宽；步骤二：反馈电阻和增益电阻阻值的计算，如果信号源有阻抗，还要进行阻抗匹配；步骤三：根据差分放大器的工作原理进行外围电路设计；步骤四：通过MicroFLEX的IG‑XL软件编程来产生和控制信号。
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公开(公告)号：CN106680690A
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201611026987.X
申请日：2016-11-17
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天探维传媒科技有限公司
Abstract: 本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种应用于ATE测试的单端输入差分输出的时钟驱动方法，使用差分放大器THS4503及其外围电路，将MicroFLEX产生的单端数字信号转换为AD6645所需要差分数字信号，步骤如下：步骤一：根据ATE产生单端数字信号的幅度范围和带宽，确定所需要的差分放大器的增益和带宽；步骤二：反馈电阻和增益电阻阻值的计算，如果信号源有阻抗，还要进行阻抗匹配；步骤三：根据差分放大器的工作原理进行外围电路设计；步骤四：通过MicroFLEX的IG‑XL软件编程来产生和控制信号。
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公开(公告)号：CN105553477A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510906007.4
申请日：2015-12-09
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明公开了基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法包括：根据产品说明，RHF1201各引脚分别连接激励信号源，包括电源、基准信号、控制信号和数字信号；采用FLEX测试系统，通过选择不同性能的激励信号测试不同的参数。
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公开(公告)号：CN105551528A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510906033.7
申请日：2015-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56016
Abstract: 本发明提供了基于ATE的高速大容量多芯片Flash模块的测试装置及方法，本发明提供的基于ATE的高速大容量多芯片Flash模块的测试装置包括：自动测试设备、测试转接电路、测试控制机；所述转接电路用于连接自动测试设备与待测Flash模块，通过所述测试控制机控制自动测试设备测试。
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公开(公告)号：CN111123184A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201911081428.2
申请日：2019-11-07
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种FPGA结温测试的校准装置，其特征在于，包括设置在高低温箱内的待结温测试的FPGA，和与FPGA的结温测试管脚连接的温度AD转换器；以及设置在高低温箱外的第一数字处理单元，所述第一数字处理单元用于解析并显示所述温度AD转换器输出的表征温度的数字信号；以及第一电源组和第二电源组，其中，第一电源组为FPGA模块供电，所述第二电源组为该校准装置的其他元件供电；当测试时，电源组A停止对FPGA供电，电源组B持续供电。
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