一种像素驱动电路及其驱动方法

    公开(公告)号:CN102915703A

    公开(公告)日:2013-02-06

    申请号:CN201210425355.6

    申请日:2012-10-30

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种像素驱动电路及其驱动方法。本发明的像素驱动电路包括:第一晶体管至第四晶体管、存储电容、有机发光二级管OLED、旁路电路、数据线、第N-1扫描线和第N扫描线。本发明采用存储电容的第二端接第一晶体管的源极,以及OLED与旁路电路并联,使得流过OLED的电流完全由数据电压决定,而与第一晶体管的阈值电压无关。本发明在不过多增加晶体管、电容及控制线的数量的同时,使得流经OLED的电流完全依赖于数据线的数据电压,能够精确地实现阈值电压补偿以保持显示亮度的均匀恒定,有利于提高开口率及显示分辨率,并且提高了抑制阈值电压分布不均匀的能力。因此,本发明具有较高的实用价值,有望广泛用于微电子和平板显示产业。

    测试高压环境对标准单元库影响的方法

    公开(公告)号:CN102262213A

    公开(公告)日:2011-11-30

    申请号:CN201110102756.3

    申请日:2011-04-22

    Inventor: 陈曦 张翼 程玉华

    Abstract: 本发明提出了一种高压环境对标准单元库影响的测试方法,考虑到SOI低压与高压器件共存的工作环境,该方法通过测量被测单元的延迟和信号的波动,实现对高压环境下,单元工作情况的检测。通过设置高压器件与低压器件的多种距离,以及通过缓冲器设置高压器件的开启时刻,测试高压环境对测试单元的不同种类的影响。在测试芯片中添加选择器来减少PAD的个数,达到了减少芯片面积的目的。

    表征高低压相互串扰特性的测试方法

    公开(公告)号:CN105093003A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201410216906.7

    申请日:2014-05-22

    Abstract: 本发明提出了一种高压环境对标准单元库影响的测试方法,考虑到SOI低压与高压器件共存的工作环境,该方法通过测量被测单元的延迟和信号的波动,实现对高压环境下,单元工作情况的检测。通过设置高压器件与低压器件的多种距离,以及通过缓冲器设置高压器件的开启时刻,测试高压环境对测试单元的不同种类的影响。在测试芯片中添加选择器来减少PAD的个数,达到了减少芯片面积的目的。

    一种单细胞在线延长裂解质谱流式分析装置

    公开(公告)号:CN219870915U

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202320970313.4

    申请日:2023-04-26

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种单细胞在线延长裂解质谱流式分析装置,包括细胞单分散装置、超声装置、非接触式电喷雾喷针和质谱检测器,其中所述细胞单分散装置为分离毛细管,其前段呈螺旋缠绕状,后段的一部分位于超声装置中,尾部与非接触式电喷雾喷针相连,同时可结合等离子体发生装置,实现极性和弱极性分子的同时检测。细胞悬液样品通过该装置进行延长裂解流式检测,能够实现较高通量、高代谢物覆盖度的单细胞分析。借助延长的单细胞检测窗口,能够实现高分辨率下代谢物一级质荷比信息的采集以及二级结构的鉴定,包括位置异构体的定性定量分析,在细胞鉴定、细胞分型、差异性物质研究、肿瘤诊断和生物标志物挖掘等领域都具有广阔的应用前景。

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