装置形成方法
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109891553A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201780062555.0

    申请日:2017-09-15

    Inventor: 铃木克佳

    Abstract: 本发明为一种装置形成方法,于单晶硅基板离子注入掺杂物而形成扩散层,并通过激光退火活化扩散层,其中在作为该单晶硅基板而使用该扩散层形成区域的氧浓度未满5ppma的情况下,于通过激光退火活化扩散层之前,进行将该扩散层形成区域的氧浓度予以控制在5ppma以上的步骤。如此一来可提供一种装置形成方法,即便是在扩散层形成区域的氧浓度低的情况下,也能简便地通过激光退火提升掺杂物的活化程度。

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