氢化物气相外延生长氮化镓膜时氧化铝作为掩膜的应用

    公开(公告)号:CN100580889C

    公开(公告)日:2010-01-13

    申请号:CN200510028370.7

    申请日:2005-07-29

    Abstract: 本发明涉及一种氢化物气相外延氮化镓材料中采用多孔阳极氧化铝作为掩膜及其制备方法,其特征在于采用多孔阳极氧化铝作为GaN横向外延过生长的掩膜。在HVPE制备GaN膜的过程中,先在GaN模板上沉积一层金属Al薄层,然后经电化学的方法阳极氧化后形成均匀的多孔网状阳极氧化铝,再放入HVPE系统中生长GaN层。多孔阳极氧化铝由于其孔径小(10nm~200nm)、陡直且分布均匀,可作为一种微区掩膜。由于气相外延的选择性,HVPE生长GaN时将选择生长在下层的GaN上,然后经过横向外延生长过程连接成完整的GaN膜。通过GaN的微区横向外延,降低了生长的GaN的位错密度,提高了GaN层的质量。简化了光刻制作掩膜的工艺,适合于批量生产时采用。

    利用均匀纳米粒子点阵掩模提高厚膜GaN质量的方法

    公开(公告)号:CN101350298A

    公开(公告)日:2009-01-21

    申请号:CN200810042459.2

    申请日:2008-09-03

    Abstract: 本发明涉及一种利用均匀纳米粒子点阵提高厚膜GaN质量的方法,其特征在于采用了纳米量级的SiO2、SiO或SixNy等点阵作为GaN外延掩模。在氢化物气相外延之前,先在GaN模板上电子束蒸发一层金属Al,再采用电化学的方法生成多孔状阳极氧化铝(AAO),接着往孔中注入点阵结构的介质,然后去除AAO,则模板上得到了均匀分布的SiO2纳米粒子的点阵结构,最后将模板置于反应腔内外延生长。由于气相外延的选择性,将开始选择生长在SiO2等点阵外的区域上,最后经过横向外延生长过程连接成完整的GaN膜。降低了外延层的位错密度,且位错密度均匀分布,大大提高厚膜的可利用性。方法简单易行,省略了光刻的复杂工艺,且将掩模尺寸缩小到纳米量级,适于批量生产。

    采用砷化镓基含磷材料的紫外增强光电探测器及制作方法

    公开(公告)号:CN1330005C

    公开(公告)日:2007-08-01

    申请号:CN200510023173.6

    申请日:2005-01-07

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明涉及基于砷化镓基含磷化合物半导体材料的紫外增强光电探测器及制作方法,其特征在于以半绝缘砷化镓单晶材料作为探测器的衬底,在其上采用外延方法生长特定的宽禁带含磷化合物薄膜材料作为有源光吸收层和窗口层,以达到紫外增强光吸收效果并消除其对红外光的响应,并采用合适的掺杂方式在其中构成PN结。外延材料采用特定的选择刻蚀工艺制作出台面结构,经钝化保护后制作出接触电极,并选用相应的抗反射增透膜进一步提高其短波响应。此种光电探测器可应用于火焰探测、紫外和可见光波段光度测量、尾焰跟踪、生物及化学气体检测、紫外线防护等方面,并可与红外波段的光电探测器进行单片或混合集成构成双色探测器。

    一种因干法刻蚀受损伤的氮化镓基材料的回复方法

    公开(公告)号:CN1838384A

    公开(公告)日:2006-09-27

    申请号:CN200610024615.3

    申请日:2006-03-10

    Abstract: 本发明涉及一种氮化镓(GaN)基材料在干法刻蚀中而受损伤的修复方法,其特征在于在是将刻蚀受损的GaN基材料在高真空设备中热退火的同时通入等离子态氮处理,退火温度为用MBE(分子束外延)法生长氮化物外延层的典型生长温度(650~800℃)。真空度为用MBE法生长氮化物外延层的典型真空度(生长室背景压力约为10-9torr,通入氮等离子体时压力为8*10-5torr。)。该方法不仅改善了晶体内部结晶质量,而且有利于去除沉积在材料表面的刻蚀产物,使表面的氮空位得到了补充,相当于在去除受损表面时重新生长了一个薄层的氮化物外延层,从而使受损GaN基材料的电学和光学特性得到回升。

    一种用于半导体材料特性表征的方法及其系统

    公开(公告)号:CN1271544C

    公开(公告)日:2006-08-23

    申请号:CN200310122883.5

    申请日:2003-12-30

    Abstract: 本发明涉及一种用于半导体材料特性表征的方法及其系统,属于半导体测试技术领域。本发明特征在于采用两个或多个不同波长的单色微光器作为测量光源;用材料的光电导、光伏或光电容等信号作为响应信号,对测量光源进行变频调制,采用锁相放大技术测量光源的调制频率与响应信号幅度间关系,对测量数据进行处理拟合,从而获得有关材料特性的数据。提供的系统由两台或多台不同的波长的单色微光器及进行波长切换的反射镜光路;光调制器、偏置电源、偏置网络及样品架;弱信号扦测的锁相放大器以及计算机控制的数据采集的记录等五部分组成。本发明适用于各类薄膜,外延微结构及体材料半导体特性的测量和表征。

    一种用于半导体激光器腔面蒸镀的非接触固定方式的夹具

    公开(公告)号:CN1198954C

    公开(公告)日:2005-04-27

    申请号:CN02151295.7

    申请日:2002-12-13

    Abstract: 本发明涉及一种用于半导体激光器腔面蒸镀的非接触固定方式的夹具,其特征在于采用了非接触固定方式,避免产生机械损伤。该夹具由一个不锈钢板上开有宽度为0.15-0.25mm,间距为2-3mm的多条狭缝而制成。使用时只要把解理条放进狭缝里即可固定。由于狭缝宽度大于解理条厚度而小于解理条宽度,同时采用一种不锈钢板下设有网格的方法,保证解理条从狭缝里掉不下来,所以解理条装在狭缝里始终位于竖立状态,并且端面保持水平朝下方向。由于一个夹具上有多条狭缝,所以由一个夹具一次可以装配好多解理条,并且解理条装卸过程非常容易。另外也很方便实施两个腔面蒸镀,本发明提供的非接触式固定的夹具结构简单、操作简便、安全可靠、加工成本低、使用寿命长、非常适合于批量生产。

    使半导体激光器在宽温区可靠工作的低应力封装装置及方法

    公开(公告)号:CN101741011A

    公开(公告)日:2010-06-16

    申请号:CN200910200647.8

    申请日:2009-12-24

    Abstract: 本发明涉及一种使半导体激光器在宽温区可靠工作的低应力封装装置和方法,其利用超高真空镀膜仪和本发明的夹具进行热沉上铟焊料的蒸镀,蒸镀工艺中铟焊料的形状及厚度均可控;然后利用本发明的封装夹具将激光器和热沉放入具有还原气氛的烧结炉中进行封装焊接。利用本发明所涉及的封装方法可以实现半导体激光器芯片的铟焊料封装,使得激光器可以稳定工作在宽温区环境下,有利于推动激光器在宽温区环境下的应用。本发明所涉及的封装方法实施过程简单,所设计的夹具结构简单,便于加工,因此本发明方法容易推广,利用激光器芯片封装的产业化。

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