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公开(公告)号：CN108287061A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201810052262.0
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
CPC classification number: G01M11/0207 , G01N17/004
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件寿命检测和寿命概率测试方法及系统，旨在解决现有技术中的大口径光学器件寿命测试由于套用现有寿命测试方法而引起的测试结果置信度低与适用性低的问题，解决传统大口径光学器件损伤特性评价参数无法直接应用于光学系统可靠性评价的问题；本发明使用激光连续辐照通大口径光学器件，直至光学器件发生不可逆损伤，记录累计发次或累计时间；统计不同发次或时间对应的寿命概率；以发次或时间为自变量，对应的寿命概率为因变量，使用威布尔分布对函数进行数据拟合，获得大口径光学器件在特定激光参数作用下的寿命概率函数；获得更可靠的大口径光学器件的使用寿命；本发明适用于测试大口径光学元件的寿命。
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公开(公告)号：CN105700321B
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201610242313.7
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 周信达 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 郑垠波 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
Abstract: 本发明公开了一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法，属于光学精密测量技术领域中的数字全息图重建距离的自动化数值判断方法，其目的在于提供一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法。本发明利用重建像强度的方差与重建像强度的平均值的比值对重建像的清晰程度进行判断、分析，并找到清晰的重建强度像及其所对应的数字全息图准确重建距离，该方法可实现对于数字全息图重建距离的自动化数值判断，提高对重建距离的测量精度及测量效率。
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公开(公告)号：CN105717774A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610244237.3
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 郑垠波 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 周信达 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
CPC classification number: G03H1/0005 , G03H1/0443 , G03H2001/0038
Abstract: 本发明公开了一种彩色数字全息像的实时记录装置及方法，属于彩色数字全息像技术领域，解决现有技术中所使用的光路系统无法同时完成红光、绿光及蓝光数字全息图的记录；现有技术中彩色数字全息像的数值重建算法较为繁琐复杂，不利于彩色数字全息像的高效快速数值重建，不能满足对于动态彩色物体的实时全息记录与再现问题。本发明包括按光路依次放置的红、绿、蓝三色激光器Laser1～Laser3，分光棱镜BS1～BS8，反射镜M1～M8，可调衰减器Filter1～Filter6，直角三棱镜Prism1～Prism4，消色差显微物镜MO1～MO4，针孔PH1～PH4，消色差透镜L1～L4，计算机Computer，CCD相机和待测物体Object。本发明用于得到彩色数字全息像。
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公开(公告)号：CN205562427U
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201521133673.0
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/95
Abstract: 本实用新型公开了一种反射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的反射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第二透镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN205538737U
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201521132028.7
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/95
Abstract: 本实用新型公开了一种反射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的反射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第二透镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机和第三显微物镜。本实用新型适用于对高景深表面疵病光学元件的表面疵病进行检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN205538736U
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201521130020.7
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/95
Abstract: 本实用新型公开了一种透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对高景深表面疵病且表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN205538708U
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201521129970.8
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型公开了一种透射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机和第三显微物镜。本实用新型适用于对高景深表面疵病光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN205643181U
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201521129979.9
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型公开了一种反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第二透镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对高景深表面疵病且表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN204831223U
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201520632653.1
申请日：2015-08-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 李东 , 刘勇 , 姜宏振 , 刘旭 , 张霖 , 郑芳兰 , 任寰 , 杨一 , 李文洪 , 石振东 , 于德强 , 巴荣声 , 马骅 , 原泉 , 周信达 , 郑垠波 , 杨晓瑜 , 柴立群 , 陈波
IPC: G01B11/26
Abstract: 本实用新型公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置，包括：按光路依次放置的激光器（101）、显微物镜（102）、针孔（103）、可调光阑（104）、起偏器（106）、准直透镜（105）、反射镜（107）、分束立方体（108）、光屏（109）、透镜一（110）、待测晶体（111）、透镜二（112）、成像透镜（114）、检偏器（113）、探测器（115）和计算机处理系统（116）；其中，起偏器（106）和检偏器（113）偏振方向垂直，透镜一（110）和透镜二（112）严格共轭，分束立方体（108）、反射镜（107）、待测晶体（111）和光屏（109）组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位，采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算，完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。
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公开(公告)号：CN205581024U
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201521129053.X
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
Abstract: 本实用新型公开了一种透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
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