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公开(公告)号：CN111829757B
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202010678889.4
申请日：2020-07-15
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤特征瞬态测量装置及测量方法。该装置包括光源、第一分光镜、第二分光镜、第一反射镜、第二反射镜、光束整形滤波系统、偏振延迟控制系统、样品台、损伤特征在线测量系统、能量控制系统、聚焦系统、光束质量诊断系统、光闸、光阱、计算机；本发明将强激光光束分束，一部分作为损伤测试光束，一部分作为探测光束，采用偏振延迟控制系统，调节探测光束与损伤测试光束的间隔时间，结合损伤特征在线测量系统，在脉冲激光作用后不同时刻探测光学元件被辐照区域的相位信息及光强信息，获得损伤区域三维形貌及透过率分布的相对变化量。
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公开(公告)号：CN111829757A
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN202010678889.4
申请日：2020-07-15
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤特征瞬态测量装置及测量方法。该装置包括光源、第一分光镜、第二分光镜、第一反射镜、第二反射镜、光束整形滤波系统、偏振延迟控制系统、样品台、损伤特征在线测量系统、能量控制系统、聚焦系统、光束质量诊断系统、光闸、光阱、计算机；本发明将强激光光束分束，一部分作为损伤测试光束，一部分作为探测光束，采用偏振延迟控制系统，调节探测光束与损伤测试光束的间隔时间，结合损伤特征在线测量系统，在脉冲激光作用后不同时刻探测光学元件被辐照区域的相位信息及光强信息，获得损伤区域三维形貌及透过率分布的相对变化量。
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公开(公告)号：CN110174245A
公开(公告)日：2019-08-27
申请号：CN201910534941.6
申请日：2019-06-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤阈值自动化测试装置和测试方法。该装置主要包括：激光器、多波长光路切换模块、电动光闸、能量调节模块、激光参数采集模块、样品控制模块、损伤诊断模块、计算机等。该装置用于测量光学元件激光诱导零概率损伤阈值，本发明可实现脉冲激光波长1064纳米、532纳米、355纳米测试光路的自动切换、测试流程的自动控制、激光参数的自动采集、损伤自动诊断等功能，保证测试条件的稳定性，大幅度提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN108303239A
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201810052233.4
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数下的寿命概率函数；改变设定参数的照射激光的辐照通量获得不同辐照通量下的大口径光学元件寿命概率曲线，对函数进行数据拟合获得特定寿命概率下的寿命通量函数；本发明可以对激光光学元件使用寿命进行加速测试，缩短测试时间，应用本发明测试结果可以获得特定通量下的大口径光学元件使用寿命，应用经典可靠性理论对激光系统中的激光大口径光学元件进行可靠性分析与预计；本发明适用于大口径光学器件寿命测试领域。
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公开(公告)号：CN105066910B
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201510515313.5
申请日：2015-08-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 李东 , 刘勇 , 刘旭 , 姜宏振 , 张霖 , 郑芳兰 , 任寰 , 杨一 , 李文洪 , 石振东 , 于德强 , 巴荣声 , 马骅 , 原泉 , 周信达 , 郑垠波 , 杨晓瑜 , 柴立群 , 陈波
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法，包括：按光路依次放置的激光器（101）、显微物镜（102）、针孔（103）、可调光阑（104）、准直透镜（105）、起偏器（106）、反射镜（107）、分束立方体（108）、光屏（109）、透镜一（110）、待测晶体（111）、透镜二（112）、检偏器（113）、成像透镜（114）、探测器（115）和计算机处理系统（116）；其中，起偏器（106）和检偏器（113）偏振方向垂直，透镜一（110）和透镜二（112）严格共轭，分束立方体（108）、反射镜（107）、待测晶体（111）和光屏（109）组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位，采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算，完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119274695A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411309096.X
申请日：2024-09-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种基于深度学习的熔石英元件损伤增长特性预测方法，包括步骤：使用预先制备好的损伤点阵列，利用显微成像系统拍摄损伤点阵列每一个损伤点面积计算损伤点等效直径，将激光光斑覆盖损伤点阵列，记录激光辐照参数能量、脉宽、损伤点局部通量。然后再利用显微成像系统拍摄激光辐照后的损伤阵列，计算每一个损伤点的等效直径。最后整理数据将数据带入深度学习决策树算法，训练熔石英损伤增长模型，根据模型损伤函数确定最佳模型。本发明通过决策树算法从熔石英损伤增长数据中学习总结损伤增长规则，用于分析、预测损伤增长特性，所需的训练样本少，可以批量分析、预测损伤点的损伤增长特性。
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公开(公告)号：CN118425159A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410477702.2
申请日：2024-04-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种多方向缺陷同步无损检测系统，包括：傍轴照明模块，至少包括二个出射激光波长不同的激光器以及对应的二个扩束镜，从而将出射激光扩束为发散光，均匀照射在样品上形成漫反射；剪切散斑干涉探测模块，至少包括成像器件、由第一透镜和第二透镜组成4f系统、两个透射波长于反射波长不同的第一二向色镜和第二二向色镜、多通道探测器，以及安装在相移器件上的反射镜，通过改变光程实现相移；通过调节所述二向色镜的方向，获得不同方向的剪切散斑干涉图；控制采集处理模块，用于控制所述激光器、多通道探测器和相移器件，从而获得所述样品的缺陷及其位置、方向信息。
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公开(公告)号：CN110174245B
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN201910534941.6
申请日：2019-06-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤阈值自动化测试装置和测试方法。该装置主要包括：激光器、多波长光路切换模块、电动光闸、能量调节模块、激光参数采集模块、样品控制模块、损伤诊断模块、计算机等。该装置用于测量光学元件激光诱导零概率损伤阈值，本发明可实现脉冲激光波长1064纳米、532纳米、355纳米测试光路的自动切换、测试流程的自动控制、激光参数的自动采集、损伤自动诊断等功能，保证测试条件的稳定性，大幅度提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN114324329A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111588367.6
申请日：2021-12-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了光学元件强激光损伤特性的无损检测与评价方法，旨在解决现有技术不能通过无损检测评价光学元件激光损伤特性的难题。本发明包括：通过实验获得光学元件的无损检测数据以及强激光作用下发生损伤的激光参数；将无损检测数据与损伤测试结果作为特征量，使用深度学习方法，根据无损检测数据、激光参数及损伤测试结果，获得光学元件激光损伤特性的检测评价模型；将待检测的光学元件进行无损检测，将获得的无损检测数据和激光参数作为检测评价模型的输入量，从而获得该光学元件的激光损伤特性检测结果，实现强激光损伤特性的无损检测与评价。
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公开(公告)号：CN114136976A
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202111314941.9
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种偏振同轴照明激光剪切散斑干涉测量系统及其测量方法，包括参数标定模块、偏振同轴照明成像模块、剪切干涉探测模块、控制采集处理模块等，用于实现应变与离面形变的测量。本系统可根据样品目标区域的实际测量范围，结合静态或动态加载情况，现场调节并精确标定系统的测量视场与剪切量，从而调节应变测量动态范围与检测灵敏度，并应用时间移相或空间载波相位提取方法，实现应变与离面形变的动态高速或静态高精度测量，系统操作方便，实用性强，测量精度高。此外，本发明采用偏振同轴照明方式，提高了光能利用率与成像质量，实现大视场、高亮度、高均匀性的照明与高质量探测。
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