公开(公告)号：CN105738876A

公开(公告)日：2016-07-06

申请号：CN201410750729.0

申请日：2014-12-10

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 邓倩岚 ,  辛康

IPC: G01S7/40

Abstract: 一种PD雷达导引头回波模拟器瞬时多普勒频偏校准装置，包括相互耦合的混频模块，数据采集模块，数据分析模块，及参数提取模块，其中所述混频摩的对回波信号进行混频，并将混频后的信号传递至所述数据采集模块，所述数据采集模块将采集到的数据传递至所述数据分析模块，将所述数据分析模块处理的数据传递至所述参数提取模块，并且根据所述参数提取模块提取的数据进行校准。本发明基于虚拟仪器技术，最大限度的利用现有的仪器，结合虚拟仪器技术，将原先许多必须由高档的硬件实现的功能由软件完成，实现测试控制的自动化，提高校准效率，避免由手动操作所引入的人为测量误差，校准时无需将回波模拟器进行拆卸。

公开(公告)号：CN105652180A

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201410724486.3

申请日：2014-12-04

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 许伟达 ,  徐导进

IPC: G01R31/28

Abstract: 一种基于FLEX的平衡调制解调器测试电路，包括第一运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；第二运算放大器，其包括放大器、比较器、集成输出放大器；及其中，所述第一放大器和第二放大器具有两路不同输入通道，一个时间只有一路工作。本发明采用的电路与现有技术相比，其优点是：解决了传统无法测试既有调制器又有解调器测试要求的器件，实现了调制器、解调器的测试方法，保证了测试的速度和精度，实现了稳定的小电流测试功能。

公开(公告)号：CN105553915A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201510908254.8

申请日：2015-12-10

Applicant: 中国人民解放军63908部队 ,  上海精密计量测试研究所

Inventor： 华翔 ,  陈斌 ,  谢恒贵 ,  徐海燕 ,  陈光尧

IPC: H04L27/38

Abstract: 本发明公开了间歇辐射信号瞬态调制参量解调方法包括：步骤一、对所述间歇辐射信号进行微波混频得到中频信号，进行微波检波得到时域信号；步骤二、对所述时域信号实时采样，并进行脉冲信号分析，获取脉冲参量；步骤三、对所述中频信号实时采样，对采样得到的脉内信号分时提取，对获取的时隙信号依次进行一级解调、二级解调、匹配滤波。

公开(公告)号：CN105512018A

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201410490717.9

申请日：2014-09-23

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 成斌 ,  钱平 ,  王凌 ,  齐宏恩 ,  龚丹丹 ,  陈春萍 ,  李楠 ,  张闯 ,  郭素敏 ,  刘冰川 ,  杨雨翰 ,  蒋坚鸿

IPC: G06F11/36 ,  G06F9/44

Abstract: 本发明公开了一种并行系统性能的形式化分析方法，包括：步骤一、建立并行程序性能模型和并行机模型；步骤二、在并行程序性能模型和并行机模型之间建立映射关系，形成并行系统性能模型，进行并行系统性能分析。本发明提供了一种高效的并行系统性能分析方法。

公开(公告)号：CN105467243A

公开(公告)日：2016-04-06

申请号：CN201510905969.8

申请日：2015-12-09

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 项宗杰 ,  王兰来 ,  胡小海

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种人机交互式元器件通用测试系统及测试方法，本发明公开的人机交互式元器件通用测试系统包括下位机和上位机；所述下位机用于测试被测元器件/集成电路；所述上位机对下位机提供控制指令，下位机向上位机反馈测试结果，上位机对测试结果进行分析和显示。

公开(公告)号：CN104601265A

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201310532467.6

申请日：2013-11-01

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 辛康 ,  任雅芬

IPC: H04B17/40

Abstract: 本发明的变频器绝对延时测量方法包括以下步骤：（1）校准测量：信号发生器产生两路信号，一路经二极管检波器输入数字信号采集器的第一通路，另一路经频谱分析仪输入数字信号采集器的第二通路，计算出第一通路与第二通路的脉冲时间差T1；（2）延时测量：信号发生器产生两路信号，一路经二极管检波器输入数字信号采集器的第一通路，另一路经待测变频器、频谱分析仪后输入数字信号采集器的第二通路，计算出第一通路与第二通路的脉冲时间差T2；（3）计算变频器绝对延时，变频器绝对延时值。本发明的变频器绝对延时测量方法无需参考标准比对且测量精度高。

公开(公告)号：CN104280679A

公开(公告)日：2015-01-14

申请号：CN201310293454.8

申请日：2013-07-12

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 许伟达 ,  徐导进 ,  陶帅

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明的基于FLEX的高速运算放大器测试电路，在高速运算放大器的反向输入端与测试系统MicroFLEX的运放环反向输入端之间并联继电器支路；高速运算放大器的同向输入端分别通过继电器支路与测试系统的运放环同向输入端、视频信号同向输出端、中频信号同向输出端连接，运放环反向输入端和同向输入端的屏蔽层通过继电器可选择与地相连；高速运算放大器的同向输入端串联继电器支路后接地；高速运算放大器的反向输入端与高速运算放大器的输出端之间并联多个继电器支路；高速运算放大器的输出端与地之间并联多个负载支路；高速运算放大器的输出端分别通过继电器支路与测试系统的中频信号同向测量端、视频信号同向测量端、运放环输出端连接。

公开(公告)号：CN103389508A

公开(公告)日：2013-11-13

申请号：CN201210140602.8

申请日：2012-05-09

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 吾勤之 ,  宣明 ,  郭旗 ,  刘伟鑫 ,  王昆黍 ,  乔文 ,  陈友 ,  徐导进 ,  蔡楠 ,  王海涛

IPC: G01T1/29

Abstract: 本发明涉及一种用于电子加速器束流强度实时监测的装置，包括真空室，位于真空室内的探头，向所述探头提供高压的高压单元，以及收集所述探头所产生次级电子的束流强度显示系统。真空室为高能电子与探头的相互作用提供真空环境；探头与高能电子相互作用产生次级电子；高压单元为次级电子的收集提供高压，微电流计和显示系统对探头输出的次级电子束流进行收集，实时显示束流强度。本发明解决了电子加速器在辐照过程中束流强度变化情况的实时监测问题，对高能电子不会产生阻挡作用，高能电子可以穿过所述用于电子加速器束流强度实时监控的装置。该装置使用方便、可操作性强、稳定性好，对束流强度无损失。

公开(公告)号：CN101226207A

公开(公告)日：2008-07-23

申请号：CN200710173599.9

申请日：2007-12-28

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海浩顺科技有限公司

Inventor： 闻伍椿 ,  吴慎德 ,  魏世忠 ,  顾从润 ,  乔文 ,  孙琰

IPC: G01R1/20 ,  G01R35/00 ,  H03F3/45

Abstract: 本发明涉及一种有源可变阻抗合成器，可以构成供LCR测量仪校准的标准电容或电感等标准阻抗，此有源可变阻抗合成器通过一个构成可变电容或电感的基本电容或电感电路和一个与之相连的伴测电路，来形成高频、高精度和范围可变的阻抗。此外，结合等电位跟踪电路可以进一步提高有源可变阻抗合成器的准确性。

公开(公告)号：CN118608812A

公开(公告)日：2024-09-06

申请号：CN202410621964.1

申请日：2024-05-20

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 王磊 ,  陈春萍 ,  马超 ,  李奇明 ,  邓智青

IPC: G06V10/75 ,  G06V10/26 ,  G06V10/46

Abstract: 本发明提供一种基于特征点和实例分割的微小元器件分选方法，包括如下步骤：S1、获取元器件图像；S2、获取单个元器件的参数；S3、获取多张单个元器件图像；S4、计算最大内接矩形与水平线的夹角；S5、旋转图像；S6、查找特征关键点；S7、计算匹配度；S8、再次旋转图像；S9、图像识别。本发明实现了微小元器件的智能识别，其中图像切割使用实例分割的方法，不仅提高了切割准确率，而且能够区分元器件的正反面，有利于后续检测算法的实施。其中图像旋转方案减少了繁琐的标注工作量，提高了后续计算机视觉模型的检测准确率。使用基于深度学习的计算机视觉图像识别方法对元器件图像表面文字进行检测，对元器件进行智能分选。