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公开(公告)号：CN105717521A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201410724703.9
申请日：2014-12-04
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01S19/29
Abstract: 本发明的高动态伪卫星信号的快速捕获方法包括以下步骤：1）使用平方环法对伪卫星信号进行载波频率捕获；2）利用捕获到的载波频率对伪卫星信号进行BPSK解调，得到BPSK解调信号；所述BPSK解调具体为：将步骤1）捕获的载波频率与伪卫星信号相乘，得到BPSK解调信号；3）使用FFT捕获算法对BPSK解调信号进行伪码捕获。本发明的高动态伪卫星信号的快速捕获方法，采用快速FFT算法和平方环法相结合，大大缩短了解调伪卫星信号所需时间。
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公开(公告)号：CN105510722A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201510906031.8
申请日：2015-12-09
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R27/26
CPC classification number: G01R27/2694
Abstract: 本发明提供一种平板吸波材料插损测量装置，包括：微波信号源；驻波筒，所述驻波筒内铺设吸波材料；发射天线，与所述微波信号源连接；频谱仪；接收天线，与所述频谱仪连接；被测平板吸波材料单元，固定在所述驻波筒的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元位于所述驻波筒与所述接收天线之间。本发明还提供平板吸波材料插损测量方法。本发明提供的平板吸波材料插损测量装置，结构简单，测量原理简浅，扩展了对平板吸波材料进行测量的试验条件。本发明提供的平板吸波材料插损测量方法，能够在不具备微波暗室测试条件下实现对吸波材料插损参数的准确测量，突破了试验条件的限制。
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公开(公告)号：CN104717029A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310666581.8
申请日：2013-12-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 一种卫星射频测试系统变频链路误码率校准装置，包括任意波形发生器、射频信号源、被校卫星射频测试系统、频谱仪、示波器及计算机；所述计算机包括一个解调软件；所述任意波形发生器和示波器各有两个通道。本发明采用比对法对误码率校准，即使用频谱仪、示波器及计算机在组成误码率校准装置，将其测试得到的误码率结果与被校指令接收机进行比对完成对误码率校准。本发明解决了现有技术中对低码速、BPSK调制状态下卫星射频测试系统变频链路误码率的无法测量的问题，同时提高了测量的准确性。
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公开(公告)号：CN105738876A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201410750729.0
申请日：2014-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 一种PD雷达导引头回波模拟器瞬时多普勒频偏校准装置，包括相互耦合的混频模块，数据采集模块，数据分析模块，及参数提取模块，其中所述混频摩的对回波信号进行混频，并将混频后的信号传递至所述数据采集模块，所述数据采集模块将采集到的数据传递至所述数据分析模块，将所述数据分析模块处理的数据传递至所述参数提取模块，并且根据所述参数提取模块提取的数据进行校准。本发明基于虚拟仪器技术，最大限度的利用现有的仪器，结合虚拟仪器技术，将原先许多必须由高档的硬件实现的功能由软件完成，实现测试控制的自动化，提高校准效率，避免由手动操作所引入的人为测量误差，校准时无需将回波模拟器进行拆卸。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104601265A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201310532467.6
申请日：2013-11-01
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: H04B17/40
Abstract: 本发明的变频器绝对延时测量方法包括以下步骤：（1）校准测量：信号发生器产生两路信号，一路经二极管检波器输入数字信号采集器的第一通路，另一路经频谱分析仪输入数字信号采集器的第二通路，计算出第一通路与第二通路的脉冲时间差T1；（2）延时测量：信号发生器产生两路信号，一路经二极管检波器输入数字信号采集器的第一通路，另一路经待测变频器、频谱分析仪后输入数字信号采集器的第二通路，计算出第一通路与第二通路的脉冲时间差T2；（3）计算变频器绝对延时，变频器绝对延时值。本发明的变频器绝对延时测量方法无需参考标准比对且测量精度高。
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公开(公告)号：CN104280626B
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201310292048.X
申请日：2013-07-12
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 一种小型柱状体微波暗室反射率电平实验室标定与测量装置，包括：反射率电平测量单元及测量系统定标单元；反射率电平测量单元中微波信号源产生信号，经综测用柱状体空间衰减后，由频谱仪、分析仪处理，计算机数据采集和分析后获得空间驻波曲线并计算出反射率电平；测量系统定标单元依据双线法原理，微波信号源通过功分器将信号一分为二，一路直接进合路器模拟入射信号强度，一路通过移相器、衰减器后进入合路器模拟反射信号路径，通过连续改变移相器的相位从而模拟出入射波与反射波的入射路径，将入射信号和反射信号经矢量叠加后即产生驻波曲线并计算出反射率电平，其值应与所接入的衰减器的衰减量相符，可以实现对反射率电平测量装置的标定。
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公开(公告)号：CN104618047A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201310536135.5
申请日：2013-11-01
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: H04B17/40
Abstract: 本发明的变频器绝对延时测量装置包括信号发生器、二极管检波器、开关、频谱分析仪和数字信号采集器；所述信号发生器产生脉冲调制信号并分成两路；所述二极管检波器的输入端与所述信号发生器的一路输出信号连接，所述二极管检波器的输出端与所述数字信号采集器的第一通路连接；所述开关与待测变频器并联；待测变频器的输入端连接所述信号发生器的另一路输出信号连接，所述频谱分析仪串接在待测变频器的输出端与所述数字信号采集器的第二通路之间。本发明的变频器绝对延时测量装置避免使用标准混频器，且测量精准。
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公开(公告)号：CN104280626A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201310292048.X
申请日：2013-07-12
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 一种小型柱状体微波暗室反射率电平实验室标定与测量装置，包括：反射率电平测量单元及测量系统定标单元；反射率电平测量单元中微波信号源产生信号，经综测用柱状体空间衰减后，由频谱仪、分析仪处理，计算机数据采集和分析后获得空间驻波曲线并计算出反射率电平；测量系统定标单元依据双线法原理，微波信号源通过功分器将信号一分为二，一路直接进合路器模拟入射信号强度，一路通过移相器、衰减器后进入合路器模拟反射信号路径，通过连续改变移相器的相位从而模拟出入射波与反射波的入射路径，将入射信号和反射信号经矢量叠加后即产生驻波曲线并计算出反射率电平，其值应与所接入的衰减器的衰减量相符，可以实现对反射率电平测量装置的标定。
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