-
公开(公告)号：CN104601265A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201310532467.6
申请日：2013-11-01
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: H04B17/40
Abstract: 本发明的变频器绝对延时测量方法包括以下步骤：（1）校准测量：信号发生器产生两路信号，一路经二极管检波器输入数字信号采集器的第一通路，另一路经频谱分析仪输入数字信号采集器的第二通路，计算出第一通路与第二通路的脉冲时间差T1；（2）延时测量：信号发生器产生两路信号，一路经二极管检波器输入数字信号采集器的第一通路，另一路经待测变频器、频谱分析仪后输入数字信号采集器的第二通路，计算出第一通路与第二通路的脉冲时间差T2；（3）计算变频器绝对延时，变频器绝对延时值。本发明的变频器绝对延时测量方法无需参考标准比对且测量精度高。
-
公开(公告)号：CN104280626B
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201310292048.X
申请日：2013-07-12
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 一种小型柱状体微波暗室反射率电平实验室标定与测量装置，包括：反射率电平测量单元及测量系统定标单元；反射率电平测量单元中微波信号源产生信号，经综测用柱状体空间衰减后，由频谱仪、分析仪处理，计算机数据采集和分析后获得空间驻波曲线并计算出反射率电平；测量系统定标单元依据双线法原理，微波信号源通过功分器将信号一分为二，一路直接进合路器模拟入射信号强度，一路通过移相器、衰减器后进入合路器模拟反射信号路径，通过连续改变移相器的相位从而模拟出入射波与反射波的入射路径，将入射信号和反射信号经矢量叠加后即产生驻波曲线并计算出反射率电平，其值应与所接入的衰减器的衰减量相符，可以实现对反射率电平测量装置的标定。
-
公开(公告)号：CN104618047A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201310536135.5
申请日：2013-11-01
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: H04B17/40
Abstract: 本发明的变频器绝对延时测量装置包括信号发生器、二极管检波器、开关、频谱分析仪和数字信号采集器；所述信号发生器产生脉冲调制信号并分成两路；所述二极管检波器的输入端与所述信号发生器的一路输出信号连接，所述二极管检波器的输出端与所述数字信号采集器的第一通路连接；所述开关与待测变频器并联；待测变频器的输入端连接所述信号发生器的另一路输出信号连接，所述频谱分析仪串接在待测变频器的输出端与所述数字信号采集器的第二通路之间。本发明的变频器绝对延时测量装置避免使用标准混频器，且测量精准。
-
公开(公告)号：CN104280626A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201310292048.X
申请日：2013-07-12
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 一种小型柱状体微波暗室反射率电平实验室标定与测量装置，包括：反射率电平测量单元及测量系统定标单元；反射率电平测量单元中微波信号源产生信号，经综测用柱状体空间衰减后，由频谱仪、分析仪处理，计算机数据采集和分析后获得空间驻波曲线并计算出反射率电平；测量系统定标单元依据双线法原理，微波信号源通过功分器将信号一分为二，一路直接进合路器模拟入射信号强度，一路通过移相器、衰减器后进入合路器模拟反射信号路径，通过连续改变移相器的相位从而模拟出入射波与反射波的入射路径，将入射信号和反射信号经矢量叠加后即产生驻波曲线并计算出反射率电平，其值应与所接入的衰减器的衰减量相符，可以实现对反射率电平测量装置的标定。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.027 seconds)
